[發(fā)明專利]多路電阻測試儀

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202011344416.7
• 申請日: 2020-11-25
• 公開（公告）號: CN112611917A
• 公開（公告）日: 2021-04-06
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 劉學斌
• 申請（專利權(quán)）人: 天津普林電路股份有限公司
• 主分類號: G01R27/02
• 分類號: G01R27/02
• 代理公司: 北京沁優(yōu)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11684
• 代理人: 李蓓蕾

本發(fā)明提供一種多路電阻測試儀，該多路電阻測試儀包括：一電測試轉(zhuǎn)接架；一專用測試架，該專用測試架包括若干拼版測試針；以及一測試面板，該測試面板上集成有若干電阻測試裝置，若干電阻測試裝置通過電測試轉(zhuǎn)接架與若干拼版測試針電連接。本發(fā)明通過將若干電阻電阻測試裝置的第一連接端子集成于一電測試轉(zhuǎn)接架內(nèi)，并且通過電測試轉(zhuǎn)接架與若干拼版測試針實現(xiàn)電連接，以實現(xiàn)若干待檢測拼版同時檢測，大大縮短了檢測時間，提高了檢測效率。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及電阻測試技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種多路電阻測試儀。

背景技術(shù)

對拼版進行電阻測試是制作電路板過程中一個必不可少的程序，現(xiàn)有技術(shù)中，對拼版的電阻進行測試是采用的電阻表直接對待檢測拼版進行測量，但是一次只能對一個拼版進行測試，且測試過程中需要人進行把持，會出現(xiàn)測試效率低下、測試結(jié)果受人為影響嚴重的問題。

發(fā)明內(nèi)容

有鑒于此，本發(fā)明提供一種多路電阻測試儀，可以實現(xiàn)若干拼版同時進行測試，提高了測試效率。

為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用的技術(shù)方案是：多路電阻測試儀，該多路電阻測試儀包括：

一電測試轉(zhuǎn)接架；

一專用測試架，該專用測試架包括若干拼版測試針；以及

一測試面板，該測試面板上集成有若干電阻測試裝置，若干電阻測試裝置通過電測試轉(zhuǎn)接架與若干拼版測試針電連接。

優(yōu)選地，每一個電阻測試裝置均引出一第一接線端子，第一接線端子集成于電測試轉(zhuǎn)接架內(nèi)；每一組拼版測試針均引出第第二接線端子，第二接線端子分別與電阻測試裝置的第一接線端子連接。

優(yōu)選地，多路電阻測試儀還包括一測試腔。

優(yōu)選地，該測試腔一側(cè)開口，測試面板可升降地設(shè)置于測試腔的開口處；以實現(xiàn)測試腔的開合。

優(yōu)選地，測試腔的開口處的兩側(cè)設(shè)置有第一滑槽，測試面板通過一升降氣缸滑動設(shè)置于該第一滑槽內(nèi)。

優(yōu)選地，電測試轉(zhuǎn)接架以及專用測試架可移動的設(shè)置于測試腔內(nèi)。

優(yōu)選地，電測試轉(zhuǎn)接架固定于一滑板上，該滑板滑動設(shè)置于測試腔的底部。

優(yōu)選地，多路電阻測試儀還包括一可移動地設(shè)置于專用測試架上方的通用測試架，該通用測試架上設(shè)置有下壓裝置。

優(yōu)選地，下壓裝置包括一下壓板以及與下壓板連接的下壓氣缸。

優(yōu)選地，通用測試架底部的兩側(cè)均設(shè)置有一通過測試架滑軌。

本發(fā)明具有的優(yōu)點和積極效果是：本發(fā)明通過將若干電阻電阻測試裝置的第一連接端子集成于一電測試轉(zhuǎn)接架內(nèi)，并且通過電測試轉(zhuǎn)接架與若干拼版測試針實現(xiàn)電連接，以實現(xiàn)若干待檢測拼版同時檢測，大大縮短了檢測時間，提高了檢測效率。

附圖說明

圖1是本發(fā)明的多路電阻測試儀的連接結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2是本發(fā)明的多路電阻測試儀的立體狀態(tài)示意圖；

圖3是本發(fā)明的多路電阻測試儀的主視狀態(tài)示意圖；

圖4是本發(fā)明的測試腔內(nèi)部結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實施方式

為了更好的理解本發(fā)明，下面結(jié)合具體實施例和附圖對本發(fā)明進行進一步的描述。

如圖1所示，本發(fā)明提供一種多路電阻測試儀，該多路電阻測試儀包括：

一電測試轉(zhuǎn)接架10；

一專用測試架20，該專用測試架20包括若干拼版測試針201；以及