[發明專利]用于補償磁共振成像系統中的雜散磁場的方法和系統

有效

• 申請號: 202011342357.X
• 申請日: 2020-11-25
• 公開（公告）號: CN112858970B
• 公開（公告）日: 2023-01-13
• 發明（設計）人: 斯特凡·波佩斯庫;馬庫斯·韋斯特
• 申請（專利權）人: 西門子醫療有限公司
• 主分類號: G01R33/28
• 分類號: G01R33/28;G01R33/36
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 唐京橋;董娟

1.一種用于補償具有兩個或更多個檢查區域的磁共振成像系統中的雜散磁場的方法，所述方法包括：

-除了基本磁場之外，還提供要在第一檢查區域中施加的預定義的第一磁場的值，

-提供定義要在第二檢查區域中施加的預定義的序列控制脈沖的信息，

-確定由于在所述第一檢查區域中施加所述第一磁場而在所述第二檢查區域中產生的雜散磁場，

-根據所述預定義的序列控制脈沖和所確定的雜散磁場計算用于所述第二檢查區域的補償序列控制脈沖，以及

-將所述補償序列控制脈沖施加到所述第二檢查區域，

其中，所述序列控制脈沖是第二磁場，所述方法包括：

-除了所述預定義的第一磁場的值之外，還提供要在第二檢查區域中施加的預定義的第二磁場的值，

-在確定所述第二檢查區域中的雜散磁場之后，根據所述預定義的第二磁場和所確定的雜散磁場計算用于所述第二檢查區域的補償磁場，以及

-將所述補償磁場施加到所述第二檢查區域。

2.根據權利要求1所述的方法，其中，所述序列控制脈沖是RF信號，所述方法包括：

-除了所述預定義的第一磁場的值外，還提供要在第二檢查區域中施加的預定義的RF信號的頻率的值，

-在確定所述第二檢查區域中的雜散磁場之后，根據所述預定義的RF信號和所確定的雜散磁場計算用于所述第二檢查區域的補償RF信號，以及

-將所述補償RF信號施加到所述第二檢查區域。

3.根據權利要求1所述的方法，其中，

對于具有多個M檢查區域和每個檢查區域中L個軸的梯度系統的磁共振系統，基于公式k_m,n＝g(ΔB0_m)_n，根據所述M檢查區域中的每個檢查區域的等中心點內的時間相關的場變化ΔB0_m的函數來計算、測量或提供具有系數k_m,n的場移位矩陣，其中，m＝(1...M)，n＝(1...L×M)，并且基于所述場移位矩陣計算用于所述M檢查區域中的檢查區域m的補償序列控制脈沖，

根據基于所述場移位矩陣來計算用于補償檢查區域m的RF信號的補償頻率Δf0_m，

其中，γ是旋磁常數，并且g(k_m,n)是k_m,n的函數，從而產生磁通密度。

4.根據權利要求3所述的方法，其中，

根據k_m,n＝ΔB0_m/I_n基于梯度系統的梯度線圈C_n中的電流I_n來計算所述場移位矩陣的系數k_m,n，

根據基于所述場移位矩陣來計算用于補償檢查區域m的RF信號的補償頻率Δf0_m。

5.根據權利要求1所述的方法，其中，

所述序列控制脈沖是梯度信號，并且其中，創建靈敏度矩陣S，所述靈敏度矩陣S包括每個梯度場對每個檢查區域的貢獻，

基于所述靈敏度矩陣S來計算檢查區域中梯度軸的補償梯度場，以及

對于P個梯度線圈(C1，C2)，所述靈敏度矩陣S包括P×P系數s_p,n，其中，p和n兩者都是從1到P，其中，對于多個M檢查區域和每個M檢查區域中的L個軸的梯度系統，P＝L×M。

6.根據權利要求5所述的方法，其中，

所述靈敏度矩陣S的系數s_p,n與在所述M檢查區域中的各個檢查區域中相對于所述梯度系統的軸生效的梯度場對應，并且被計算、測量或提供，

其中，在電流I_n流過一個梯度線圈C_n的情況下，所述靈敏度矩陣S的行或列包括在所述各個檢查區域中在所述梯度系統的軸中施加的磁梯度場的值，

所述系數s_p,n對應于梯度場值G_p除以通過梯度線圈C_n的電流I_n。