[發明專利]矩陣式測試用例生成方法、系統、電子設備及存儲介質在審
| 申請號： | 202011341078.1 | 申請日： | 2020-11-25 |
| 公開（公告）號： | CN112328493A | 公開（公告）日： | 2021-02-05 |
| 發明（設計）人： | 王軍德;周風明;黃維良;史玉鳳 | 申請（專利權）人： | 武漢光庭信息技術股份有限公司 |
| 主分類號： | G06F11/36 | 分類號： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 武漢藍寶石專利代理事務所(特殊普通合伙) 42242 | 代理人： | 高蘭 |
| 地址： | 430000 湖北省武漢市東湖開發區光谷軟*** | 國省代碼： | 湖北;42 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 矩陣 測試 生成 方法 系統 電子設備 存儲 介質 | ||
1.一種矩陣式測試用例生成方法，其特征在于，包括：
根據被測程序的設計需求說明書，制定測試用例模板；
提取被測程序中的所有功能模塊，并獲取每一個功能模塊對應的功能測試點；
獲取所有功能測試點對應的測試條件；
將每一個功能模塊及對應的功能測試點作為所述測試用例模板中的矩陣列，將每一個測試條件作為所述測試用例模板的測試行，生成矩陣式測試用例模板；
其中，所述矩陣式測試用例模板的任一行和任一列的相交位置填寫對應的測試結果。
2.根據權利要求1所述的矩陣式測試用例生成方法，其特征在于，所述每一個功能模塊對應的功能測試點至少包括功能邏輯、顯示和切換。
3.根據權利要求1所述的矩陣式測試用例生成方法，其特征在于，所述測試條件至少包括極值切換條件、模式切換條件、電源變動條件、升級條件和中斷條件。
4.根據權利要求1所述的矩陣式測試用例生成方法，其特征在于，所述將每一個功能模塊及對應的功能測試點作為所述測試用例模板中的矩陣列包括：
矩陣的第一列為每一個功能模塊的序號，第二列為各功能模塊的編號和名稱，第三列為各功能模塊對應的功能測試點，其中，第m個功能模塊對應的功能測試點占據n行，n表示第m個功能模塊對應的功能測試點有n個，m、n均為正整數。
5.根據權利要求1所述的矩陣式測試用例生成方法，其特征在于，所述將每一個測試條件作為所述測試用例模板的測試行包括：
矩陣的第一行為每一個測試條件的序號，第二列為功能測試點對應的測試條件，第三列為測試條件對應的具體執行動作，第四列為執行動作下要測試驗證的內容。
6.一種矩陣式測試用例生成系統，其特征在于，包括：
制定模塊，用于根據被測程序的設計需求說明書，制定測試用例模板；
提取模塊，用于提取被測程序中的所有功能模塊，并獲取每一個功能模塊對應的功能測試點和所有功能測試點對應的測試條件；
生成模塊，用于將每一個功能模塊及對應的功能測試點作為所述測試用例模板中的矩陣列，將每一個測試條件作為所述測試用例模板的測試行，生成矩陣式測試用例模板；
其中，所述矩陣式測試用例模板的任一行和任一列的相交位置填寫對應的測試結果。
7.一種電子設備，其特征在于，包括存儲器、處理器，所述處理器用于執行存儲器中存儲的計算機管理類程序時實現如權利要求1-5任一項所述的矩陣式測試用例生成方法的步驟。
8.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，其上存儲有計算機管理類程序，所述計算機管理類程序被處理器執行時實現如權利要求1-5任一項所述的矩陣式測試用例生成方法的步驟。
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