[發(fā)明專利]一種應(yīng)用于電化學(xué)試條的阻抗測(cè)試方法及電化學(xué)測(cè)量系統(tǒng)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202011338159.6
• 申請(qǐng)日: 2020-11-25
• 公開（公告）號(hào): CN112285171B
• 公開（公告）日: 2022-09-06
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 楊穩(wěn)
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 三諾生物傳感股份有限公司
• 主分類號(hào): G01N27/26
• 分類號(hào): G01N27/26;G01N27/02
• 代理公司: 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227
• 代理人: 劉志紅

1.一種應(yīng)用于電化學(xué)試條的阻抗測(cè)試方法，其特征在于，所述電化學(xué)試條包括至少兩個(gè)電極，其中，當(dāng)所述電化學(xué)試條插入到測(cè)試儀時(shí)，由兩個(gè)所述電極至少可形成一條與待測(cè)樣本不連通的電極連通回路，并且，由兩個(gè)所述電極至少可形成一條與所述待測(cè)樣本相連通的樣本連通回路；該方法包括：

獲取所述電極連通回路的阻抗值，并根據(jù)所述電極連通回路的阻抗值和試條的阻抗標(biāo)定值確定所述電化學(xué)試條的校正系數(shù)；

獲取所述樣本連通回路的阻抗值，并根據(jù)所述樣本連通回路的阻抗值、所述校正系數(shù)和所述阻抗標(biāo)定值確定所述待測(cè)樣本的目標(biāo)阻抗值；

獲取樣本連通回路的阻抗值，并根據(jù)樣本連通回路的阻抗值、所述校正系數(shù)和所述阻抗標(biāo)定值確定待測(cè)樣本所在區(qū)域的目標(biāo)阻抗值的過程，包括：

獲取第一樣本連通回路的第三阻抗值，并將第三阻抗值、第一校正系數(shù)、第二校正系數(shù)和阻抗標(biāo)定值輸入至目標(biāo)模型，以利用目標(biāo)模型確定待測(cè)樣本所在區(qū)域的目標(biāo)阻抗值；

其中，目標(biāo)模型的表達(dá)式為：

R_w＝R_l3-(a×K₁+b×K₂)×R₀；

式中，R_w為目標(biāo)阻抗值，R_l3為第三阻抗值，K₁為第一校正系數(shù)，K₂為第二校正系數(shù)，a為第一校正系數(shù)的加權(quán)系數(shù)，b為第二校正系數(shù)的加權(quán)系數(shù)，R₀為阻抗標(biāo)定值。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的阻抗測(cè)試方法，其特征在于，當(dāng)所述電化學(xué)試條包括第一電極和第二電極時(shí)，所述第一電極呈U形設(shè)置于所述電化學(xué)試條本體的外周部，且所述第一電極在位于U形彎折處設(shè)置有凸起部，所述第二電極為一端具有彎折部的條狀電極，所述第二電極設(shè)置于所述第一電極的內(nèi)周部，且所述凸起部伸入到所述第二電極呈彎折部的凹槽中，但所述凸起部與所述第二電極不相接；所述第一電極的兩端分別設(shè)置有第一電接觸點(diǎn)和第二電接觸點(diǎn)，所述第二電極呈條狀的一端設(shè)置有第三電接觸點(diǎn)；當(dāng)所述電化學(xué)試條通過所述第一電接觸點(diǎn)、所述第二電接觸點(diǎn)和所述第三電接觸點(diǎn)插入到所述測(cè)試儀時(shí)，所述第一電極形成第一所述電極連通回路，所述第一電極、所述第二電極和所述待測(cè)樣本形成第一所述樣本連通回路。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的阻抗測(cè)試方法，其特征在于，還包括：呈U形的第三電極，所述第三電極設(shè)置于所述第一電極的外周部，且所述第三電極的U形彎折部與所述第一電極的U形彎折部位于同一側(cè)，所述第三電極的兩端分別設(shè)置有第四電接觸點(diǎn)和第五電接觸點(diǎn)；當(dāng)所述電化學(xué)試條通過所述第一電接觸點(diǎn)、所述第二電接觸點(diǎn)、所述第三電接觸點(diǎn)、所述第四電接觸點(diǎn)和所述第五電接觸點(diǎn)插入到所述測(cè)試儀時(shí)，所述第三電極形成第二所述電極連通回路。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的阻抗測(cè)試方法，其特征在于，當(dāng)所述電化學(xué)試條包括第四電極、第五電極和第六電極時(shí)，所述第四電極呈U形設(shè)置于所述電化學(xué)試條本體的外周部，所述第五電極為一端具有彎折部的條狀電極，所述第五電極設(shè)置于所述第四電極的內(nèi)周部，所述第六電極呈L形設(shè)置于所述第四電極的內(nèi)周部，且所述第六電極呈L形的一端伸入到所述第五電極呈彎折部的凹槽中，但與所述第五電極不相接，所述第四電極的兩端分別設(shè)置有第六電接觸點(diǎn)和第七電接觸點(diǎn)，所述第五電極呈條狀的一端設(shè)置有第八電接觸點(diǎn)，所述第六電極呈條狀的一端設(shè)置有第九電接觸點(diǎn)；當(dāng)所述電化學(xué)試條通過所述第六電接觸點(diǎn)、所述第七電接觸點(diǎn)、所述第八電接觸點(diǎn)和所述第九電接觸點(diǎn)插入到所述測(cè)試儀時(shí)，所述第四電極形成第三所述電極連通回路，所述第五電極、所述第六電極和所述待測(cè)樣本形成第二所述樣本連通回路。

5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的阻抗測(cè)試方法，其特征在于，所述獲取所述電極連通回路的阻抗值，并根據(jù)所述電極連通回路的阻抗值和阻抗標(biāo)定值確定所述電化學(xué)試條的校正系數(shù)的過程，包括：

分別獲取第一所述電極連通回路和第二所述電極連通回路的第一阻抗值和第二阻抗值，并根據(jù)所述第一阻抗值、所述第二阻抗值和所述阻抗標(biāo)定值確定所述電化學(xué)試條的所述校正系數(shù)。