[發明專利]一種集成電路測試中site的管控方法及系統

在審

• 申請號: 202011337891.1
• 申請日: 2020-11-25
• 公開（公告）號: CN112462233A
• 公開（公告）日: 2021-03-09
• 發明（設計）人: 周乃新
• 申請（專利權）人: 北京確安科技股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G06F17/18
• 代理公司: 北京輕創知識產權代理有限公司 11212
• 代理人: 馮瑛琪

1.一種集成電路測試中site的管控方法，其特征在于，包括：

步驟1，獲取bin值排序文件；

步驟2，統計集成電路并行測試中每個bin值在不同site下出現的個數，生成統計表；

步驟3，根據所述bin值排序文件，對統計表中不符合要求的數據進行剔除，生成優化后的統計表；

步驟4，根據優化后的統計表計算bin值百分比；

步驟5，根據所述bin值百分比判斷site是否可控。

2.根據權利要求1所述的一種集成電路測試中site的管控方法，其特征在于，步驟2具體為：

統計每個bin值在不同site間出現的個數，生成第一數據，統計每個site下的不同bin值的個數，生成第二數據，根據所述第一數據及所述第二數據生成統計表。

3.根據權利要求2所述的一種集成電路測試中site的管控方法，其特征在于，步驟3具體為：

根據所述bin值排序文件，依次對每一個bin值進行測試，當測試結果為錯誤時，從發生錯誤的bin值的第一數據中刪除該bin值之前的所有測試結果為錯誤的bin值的第一數據，得到第三數據，根據所述第三數據生成優化后的統計表。

4.根據權利要求3所述的一種集成電路測試中site的管控方法，其特征在于，步驟4具體為：

根據所述第二數據及所述第三數據，計算bin值百分比。

5.根據權利要求1所述的一種集成電路測試中site的管控方法，其特征在于，步驟5具體為：

根據所述bin值百分比，計算site間的差值，將差值與閾值進行比較，若在范圍內，則，site可控，bin值正常，若不在范圍內，則，site不可控，bin值異常。

6.一種集成電路測試中site的管控系統，其特征在于，包括：

獲取模塊，用于獲取bin值排序文件；

統計模塊，用于統計集成電路并行測試中每個bin值在不同site下出現的個數，生成統計表；

優化模塊，用于根據所述bin值排序文件，對統計表中不符合要求的數據進行剔除，生成優化后的統計表；

計算模塊，用于根據優化后的統計表計算bin值百分比；

判斷模塊，用于根據所述bin值百分比判斷site是否可控。

7.根據權利要求6所述的一種集成電路測試中site的管控系統，其特征在于，統計模塊還用于：

統計每個bin值在不同site間出現的個數，生成第一數據，統計每個site下的不同bin值的個數，生成第二數據，根據所述第一數據及所述第二數據生成統計表。

8.根據權利要求7所述的一種集成電路測試中site的管控系統，其特征在于，優化模塊具體用于：

根據所述bin值排序文件，依次對每一個bin值進行測試，當測試結果為錯誤時，從發生錯誤的bin值的第一數據中刪除該bin值之前的所有測試結果為錯誤的bin值的第一數據，得到第三數據，根據所述第三數據生成優化后的統計表。

9.根據權利要求8所述的一種集成電路測試中site的管控系統，其特征在于，計算模塊具體用于：

根據所述第二數據及所述第三數據，計算bin值百分比。

10.根據權利要求6所述的一種集成電路測試中site的管控系統，其特征在于，判斷模塊具體用于：

根據所述bin值百分比，計算site間的差值，將差值與閾值進行比較，若在范圍內，則，site可控，bin值正常，若不在范圍內，則，site不可控，bin值異常。