[發明專利]用于安規耐電壓儀的多元件并聯測試方法在審
| 申請號： | 202011337692.0 | 申請日： | 2020-11-25 |
| 公開（公告）號： | CN112363002A | 公開（公告）日： | 2021-02-12 |
| 發明（設計）人： | 許劍雷;趙浩華;高志齊;王恒斌 | 申請（專利權）人： | 常州同惠電子股份有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/00 | 分類號： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 常州品益專利代理事務所(普通合伙) 32401 | 代理人： | 張岳 |
| 地址： | 213000 *** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 用于 安規耐 電壓 多元 并聯 測試 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種用于安規耐電壓儀的多元件并聯測試方法，其特征在于，包括如下步驟：
(1)將安規耐電壓儀與外擴多通道掃描盒連接；
(2)計算當前掃描元件范圍，控制通道設置程序初始化通道；
(3)定位當前元件位置，設定并聯測試狀態，并聯測試元件數量，設定掃描通道；
(4)測量初始化，開始測試，獲得測試結果；
(5)測試完成后，對通過狀態及失敗狀態通道初始化。
2.根據權利要求1所述的用于安規耐電壓儀的多元件并聯測試方法，其特征在于，步驟(1)中，計算當前掃描元件范圍具體包括：按并聯測試設定值確定測試范圍，從起始元件到元件范圍掃描。
3.根據權利要求1所述的用于安規耐電壓儀的多元件并聯測試方法，其特征在于，步驟(2)中，設定掃描通道具體包括：清SCNBUF，確定當前起始通道值，掃描盒初始化，循環掃描，寫入對應位置通道值，準備下一元件位置。
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