[發明專利]引線框架檢測系統及檢測方法

在審

• 申請號: 202011335268.2
• 申請日: 2020-11-25
• 公開（公告）號: CN112595908A
• 公開（公告）日: 2021-04-02
• 發明（設計）人: 任俊;王鋒濤;謝銳;黃斌;黃重欽;宋佳駿
• 申請（專利權）人: 四川金灣電子有限責任公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R1/02;G01R1/04
• 代理公司: 成都華風專利事務所(普通合伙) 51223
• 代理人: 張巨箭

1.引線框架檢測系統，其特征在于：包括：

檢測電源；

框架檢測放置板，具有若干引線框架放置槽，每個引線框架放置槽底部設置有兩個導電點，兩個導電點的連線對應于對應引線框架底部的同一金屬區域；每個引線框架放置槽與不同待檢測引線框架的形狀相同；

框架檢測裝置，通過所述檢測電源進行供電，對置于框架檢測放置板上的引線框架進行檢測；

與引線框架放置槽數量相同的控制三極管，源極通過檢測電源供電，發射極和集電極位于檢測電源和框架檢測裝置之間；所述源極和檢測電源之間具有同一引線框架放置槽底部的兩個導電點。

2.根據權利要求1所述的引線框架檢測系統，其特征在于：所述系統還包括：

一電源轉換裝置，位于每組導電點的靠近檢測電源的第一導電點和檢測電源之間。

3.根據權利要求1所述的引線框架檢測系統，其特征在于：所述框架檢測裝置為攝像頭和/或紅外對射傳感器。

4.根據權利要求1所述的引線框架檢測系統，其特征在于：所述框架檢測放置板包括：

一頭部槽，用于放置所述引線框架的頭部；

沿所述頭部槽環形設置的若干底部槽，均與頭部槽連接，用于放置所述引線框架的非頭部區域；

所述導電點設置于所述底部槽位置。

5.根據權利要求1所述的引線框架檢測系統，其特征在于：所述系統還包括：

一檢測板搖晃裝置，與所述框架檢測放置板機械連接，位于每組導電點的遠離檢測電源的第二導電點和檢測電源之間。

6.引線框架檢測方法，其特征在于：包括以下步驟：

按照形狀匹配的方式，將待檢測引線框架放置于框架檢測放置板對應的引線框架放置槽中；

引線框架底部的特定金屬區域將引線框架放置槽的兩個導電點進行導通，從而將控制三極管的源極和檢測電源之間進行導通；

通過控制三極管的發射極和集電極，將檢測電源和框架檢測裝置進行導通，框架檢測裝置得到供電后對引線框架進行檢測。

7.根據權利要求6所述的引線框架檢測方法，其特征在于：所述方法還包括以下步驟：

位于每組導電點的靠近檢測電源的第一導電點和檢測電源之間的電源轉換裝置，在兩個導電點導通時將檢測電源的電壓進行降低，從而符合控制三極管的導通電壓。

8.根據權利要求6所述的引線框架檢測方法，其特征在于：所述框架檢測裝置為攝像頭和/或紅外對射傳感器。

9.根據權利要求6所述的引線框架檢測方法，其特征在于：所述框架檢測放置板包括：

一頭部槽，用于放置所述引線框架的頭部；

沿所述頭部槽環形設置的若干底部槽，均與頭部槽連接，用于放置所述引線框架的非頭部區域；

所述導電點設置于所述底部槽位置；

由于多個底部槽共用同一個頭部槽，因此同一框架檢測放置板僅能放置一個引線框架。

10.根據權利要求6所述的引線框架檢測方法，其特征在于：所述方法還包括以下步驟：

與所述框架檢測放置板機械連接的一檢測板搖晃裝置，位于每組導電點的遠離檢測電源的第二導電點和檢測電源之間；

當兩個導電點導通時，檢測板搖晃裝置將框架檢測放置板進行搖晃。