[發明專利]一種芯片測試模式的進入方法及系統有效

申請號：	202011335138.9	申請日：	2020-11-24
公開（公告）號：	CN112595967B	公開（公告）日：	2021-10-12
發明（設計）人：	王銳;張良臣;莫軍;王亞波;李建軍	申請（專利權）人：	廣芯微電子（廣州）股份有限公司
主分類號：	G01R31/3185	分類號：	G01R31/3185
代理公司：	廣州三環專利商標代理有限公司 44202	代理人：	陳旭紅;呂金金
地址：	510000 廣東省廣州市黃埔區***	國省代碼：	廣東;44
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摘要：
搜索關鍵詞：	一種芯片測試模式進入方法系統
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【說明書】：

本發明公開了一種芯片測試模式的進入方法及系統，涉及集成電路技術領域。其中方法包括：接收SPI協議命令；判斷所述SPI協議命令是否為Enable命令；若是，則確定芯片要進入測試模式；確定所述芯片要進入測試模式后，將CPU通路旁路，將接收命令邏輯電路作為命令通路；將來自所述接收命令邏輯電路的命令轉化為總線的讀寫操作，進入所述芯片的測試模式。本發明不需要在系統上添加多余的不可進行功能復用的測試模式選擇IO，并且在芯片封裝后，仍舊可以通過SPI協議命令使芯片進入測試模式。

技術領域

本發明涉及集成電路技術領域，尤其涉及一種芯片測試模式的進入方法及系統。

背景技術

集成電路的生產異常復雜，任何生產偏差都會導致芯片出現各種質量缺陷。SCAN測試是數字電路測試的重要手段之一。SCAN測試作為DFT測試(Design for Testability，指在集成電路的設計過程中增加測試電路，用來檢測芯片在生產制造過程中是否引入瑕疵)中的一種重要的測試模式，可以有效的篩除在生產過程中引入的壞片，提高產品質量。

微控制單元(Microcontroller Unit，MCU)應用非常廣泛，大到汽車、飛機，小到手環、兒童玩具，都離不開MCU的控制。MCU有著集成度高、面積小等特點，這使得MCU中IO數量往往會十分有限?，F階段，MCU中的SCAN模式的進入方法，多是通過增加一個測試模式選擇IO，并結合其它的功能IO共同起作用，決定SCAN模式的進入。這種辦法設計雖然簡單，但是由于新增添了一個測試模式選擇的IO，且這個測試模式選擇IO不能復用成其它功能模式引腳，導致IO資源的浪費。此外，由于測試模式選擇IO不和其它功能復用，導致在封裝時，該測試模式選擇IO往往不會被封裝出來，這樣使得這些芯片在封裝后無法再次進入SCAN測試模式進行SCAN復測。

發明內容

本發明目的在于，提供一種芯片測試模式的進入方法，通過在系統總線上添加SCAN模式寄存器，并通過專門的SPI協議從接口向所述SCAN模式寄存器寫入數據，以實現芯片進入模式。

為實現上述目的，本發明實施例提供一種芯片測試模式的進入方法，包括：

接收SPI協議命令；

判斷所述SPI協議命令是否為Enable命令；若是，則確定芯片要進入測試模式；

確定所述芯片要進入測試模式后，將CPU通路旁路，將接收命令邏輯電路作為命令通路；

將來自所述接收命令邏輯電路的命令轉化為總線的讀寫操作，進入所述芯片的測試模式。

優選地，所述判斷所述SPI協議命令是否為Enable命令，包括：

通過測試信號處理邏輯判斷所述SPI協議命令是否為Enable命令；

當所述SPI協議命令是Enable命令時，測試信號處理邏輯輸出高電平測試信號；

當所述SPI協議命令不是Enable命令時，測試信號處理邏輯輸出低電平測試信號。

優選地，所述測試信號處理邏輯用于防止芯片在應用模式時誤切換至測試模式。