[發明專利]一種基于通道內水霧粒徑測試的位置控制和移動密封裝置

在審

• 申請號: 202011334969.4
• 申請日: 2020-11-24
• 公開（公告）號: CN112304823A
• 公開（公告）日: 2021-02-02
• 發明（設計）人: 李玉剛;張濤;周浩;劉志坦;王凱;王文飛;朱鴻飛;嚴志遠;曹煉博;張斌;王婷;陳石
• 申請（專利權）人: 國電環境保護研究院有限公司
• 主分類號: G01N15/02
• 分類號: G01N15/02
• 代理公司: 南京匯盛專利商標事務所(普通合伙) 32238
• 代理人: 張立榮;喬煒

1.一種基于通道內水霧粒徑測試的位置控制和移動密封裝置，其特征在于：包括通道、液壓驅動裝置、支架、密封板和激光粒度測試儀；所述通道兩側側壁上對稱設有條形孔；所述液壓驅動裝置和支架均設置于通道上方，液壓驅動裝置推動支架上下移動，兩所述密封板上端分別固定連接于支架兩端，兩密封板滑動連接在通道兩側，所述激光粒度測試儀的發射端和接收端分別固定在兩密封板上，所述激光粒度測試儀的發射端穿過通道兩側側壁上的條形孔被接收端接收。

2.根據權利要求1所述基于通道內水霧粒徑測試的位置控制和移動密封裝置，其特征在于：還包括氣壓罐，所述氣壓罐通過進氣管道向密封板與通道側壁之間的縫隙連通，并向該縫隙內通入氣體。

3.根據權利要求2所述基于通道內水霧粒徑測試的位置控制和移動密封裝置，其特征在于：所述密封板上設有進氣孔，所述氣壓罐通過進氣管道與進氣孔連接。

4.根據權利要求1所述基于通道內水霧粒徑測試的位置控制和移動密封裝置，其特征在于：所述通道兩側設有滑槽，所述密封板滑動連接在滑槽內。

5.根據權利要求4所述基于通道內水霧粒徑測試的位置控制和移動密封裝置，其特征在于：所述密封板上設有測試孔，所述激光粒度測試儀發射端發射的激光穿過測試孔和通道側壁的條形孔進入通道內，并經過通道另一側的條形孔和另一密封板的測試孔被接收端接收。

6.根據權利要求2所述基于通道內水霧粒徑測試的位置控制和移動密封裝置，其特征在于：所述通道頂部固定有導向柱，所述支架滑動連接在導向柱上。

7.根據權利要求6所述基于通道內水霧粒徑測試的位置控制和移動密封裝置，其特征在于：所述導向柱上設有導向槽，所述支架上固定有與導向槽配合的導向塊，所述導向塊滑動連接在導向槽內。

8.根據權利要求7所述基于通道內水霧粒徑測試的位置控制和移動密封裝置，其特征在于：所述支架底部設有彈簧，所述彈簧兩端分別抵在支架底部和通道頂部。

9.根據權利要求8所述基于通道內水霧粒徑測試的位置控制和移動密封裝置，其特征在于：所述液壓驅動裝置為液壓氣缸，所述液壓氣缸固定端固定在導向柱上，輸出端固定在支架上。

10.根據權利要求2所述基于通道內水霧粒徑測試的位置控制和移動密封裝置，其特征在于：還包括控制裝置，所述控制裝置分別與液壓驅動裝置、激光粒度測試儀和氣壓罐連接。