[發(fā)明專(zhuān)利]一種煉鋼連鑄二冷室中鋼坯溫度比色測(cè)量系統(tǒng)和方法

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• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202011331059.0
• 申請(qǐng)日: 2020-11-24
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN112296301A
• 公開(kāi)（公告）日: 2021-02-02
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 徐立君;申國(guó)慶;王康華
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 蘇州弘皓光電科技有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): B22D11/22
• 分類(lèi)號(hào): B22D11/22;B22D2/00
• 代理公司: 蘇州尚為知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 32483
• 代理人: 李鳳嬌

1.一種煉鋼連鑄二冷室中鋼坯溫度比色測(cè)量系統(tǒng)，其特征在于，包括：測(cè)溫裝置、信號(hào)衰減測(cè)量裝置和主機(jī)，所述測(cè)溫裝置、所述信號(hào)衰減測(cè)量裝置均與所述主機(jī)連接，所述測(cè)溫裝置用于實(shí)時(shí)測(cè)量鋼坯表面的輻射通量，所述信號(hào)衰減測(cè)量裝置用于測(cè)量測(cè)溫信號(hào)衰減程度，所述主機(jī)用于顯示被測(cè)物體表面的真實(shí)溫度；

所述測(cè)溫裝置包括：光學(xué)耦合設(shè)備和測(cè)溫組件，所述光學(xué)耦合設(shè)備一端置于高溫環(huán)境中，另一端通過(guò)光纖連接兩個(gè)所述測(cè)溫組件；

所述信號(hào)衰減測(cè)量裝置包括：相互連接的激光探測(cè)組件和探測(cè)電路，所述激光探測(cè)組件的激光束通過(guò)所述光學(xué)耦合設(shè)備所處的高溫環(huán)境，所述探測(cè)電路與所述主機(jī)相連接，其中所述激光探測(cè)組件為兩個(gè)；

所述主機(jī)內(nèi)預(yù)存有不同波長(zhǎng)的激光在無(wú)雜質(zhì)環(huán)境下的強(qiáng)度值。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的煉鋼連鑄二冷室中鋼坯溫度比色測(cè)量系統(tǒng)，其特征在于，所述光纖為兩根單模光纖，兩個(gè)所述單模光纖分別連接一所述測(cè)溫組件。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的煉鋼連鑄二冷室中鋼坯溫度比色測(cè)量系統(tǒng)，其特征在于，所述測(cè)溫組件包括：光電探測(cè)器和測(cè)量電路，所述光學(xué)耦合設(shè)備通過(guò)光纖連接所述光電探測(cè)器，所述測(cè)量電路連接所述光電探測(cè)器，且所述測(cè)量電路連接所述主機(jī)。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的煉鋼連鑄二冷室中鋼坯溫度比色測(cè)量系統(tǒng)，其特征在于，所述光纖為一Y型光纖，所述Y型光纖的主光纖連接所述光學(xué)耦合設(shè)備，所述Y型光纖的兩根分光纖分別連接一所述測(cè)溫組件。

5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的煉鋼連鑄二冷室中鋼坯溫度比色測(cè)量系統(tǒng)，其特征在于，所述測(cè)溫組件包括：濾光片、光電探測(cè)器和測(cè)量電路，所述Y型光纖的分光纖、濾光片、光電探測(cè)器、測(cè)量電路依次連接，且所述測(cè)量電路連接所述主機(jī)。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的煉鋼連鑄二冷室中鋼坯溫度比色測(cè)量系統(tǒng)，其特征在于，所述激光探測(cè)組件包括激光器和探測(cè)器，所述探測(cè)器接收所述激光器發(fā)出的激光并與所述探測(cè)電路相連接，所述激光器與所述主機(jī)相連接。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的煉鋼連鑄二冷室中鋼坯溫度比色測(cè)量系統(tǒng)，其特征在于，所述探測(cè)電路包括光電管電路、可編程放大器、電流轉(zhuǎn)電壓電路和AD轉(zhuǎn)換電路。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的煉鋼連鑄二冷室中鋼坯溫度比色測(cè)量系統(tǒng)，其特征在于，所述光學(xué)耦合設(shè)備外設(shè)有水冷設(shè)備。

9.一種采用權(quán)利要求1-8中任一項(xiàng)所述的煉鋼連鑄二冷室中鋼坯溫度比色測(cè)量系統(tǒng)進(jìn)行溫度測(cè)量的方法，其特征在于，包括如下步驟：

主機(jī)內(nèi)預(yù)存儲(chǔ)有不同波長(zhǎng)的激光在無(wú)雜質(zhì)環(huán)境下發(fā)射后，探測(cè)器接收到的強(qiáng)度；

所述測(cè)溫裝置置于高溫環(huán)境中，得到兩個(gè)不同波段下的高溫物體表面的輻射通量，并轉(zhuǎn)換為電信號(hào)；

所述信號(hào)衰減測(cè)量裝置采用與所述測(cè)溫裝置采集的光通量?jī)蓚€(gè)譜段的中心波長(zhǎng)附近的激光，使該激光束通過(guò)所述測(cè)溫裝置所測(cè)物體所處環(huán)境后并接收；

所述主機(jī)將所述信號(hào)衰減測(cè)量裝置接收的激光強(qiáng)度與主機(jī)內(nèi)預(yù)存儲(chǔ)的與所述信號(hào)衰減測(cè)量裝置同波長(zhǎng)的激光強(qiáng)度進(jìn)行比較，得到激光在通過(guò)所述測(cè)溫裝置所測(cè)物體所處環(huán)境后的衰減率；

所述主機(jī)基于所述衰減率對(duì)所述測(cè)溫裝置中的光電探測(cè)器測(cè)得的光通量強(qiáng)度進(jìn)行補(bǔ)償后獲取被測(cè)物體表面的真實(shí)溫度。