[發(fā)明專利]一種煉鋼連鑄二冷室中鋼坯溫度比色測量系統(tǒng)和方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011331059.0 | 申請日： | 2020-11-24 |
| 公開（公告）號： | CN112296301A | 公開（公告）日： | 2021-02-02 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 徐立君;申國慶;王康華 | 申請（專利權(quán)）人： | 蘇州弘皓光電科技有限公司 |
| 主分類號： | B22D11/22 | 分類號： | B22D11/22;B22D2/00 |
| 代理公司： | 蘇州尚為知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 32483 | 代理人： | 李鳳嬌 |
| 地址： | 215636 江蘇*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 煉鋼 連鑄二冷室中 鋼坯 溫度 比色 測量 系統(tǒng) 方法 | ||
1.一種煉鋼連鑄二冷室中鋼坯溫度比色測量系統(tǒng)，其特征在于，包括：測溫裝置、信號衰減測量裝置和主機(jī)，所述測溫裝置、所述信號衰減測量裝置均與所述主機(jī)連接，所述測溫裝置用于實(shí)時(shí)測量鋼坯表面的輻射通量，所述信號衰減測量裝置用于測量測溫信號衰減程度，所述主機(jī)用于顯示被測物體表面的真實(shí)溫度；
所述測溫裝置包括：光學(xué)耦合設(shè)備和測溫組件，所述光學(xué)耦合設(shè)備一端置于高溫環(huán)境中，另一端通過光纖連接兩個(gè)所述測溫組件；
所述信號衰減測量裝置包括：相互連接的激光探測組件和探測電路，所述激光探測組件的激光束通過所述光學(xué)耦合設(shè)備所處的高溫環(huán)境，所述探測電路與所述主機(jī)相連接，其中所述激光探測組件為兩個(gè)；
所述主機(jī)內(nèi)預(yù)存有不同波長的激光在無雜質(zhì)環(huán)境下的強(qiáng)度值。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的煉鋼連鑄二冷室中鋼坯溫度比色測量系統(tǒng)，其特征在于，所述光纖為兩根單模光纖，兩個(gè)所述單模光纖分別連接一所述測溫組件。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的煉鋼連鑄二冷室中鋼坯溫度比色測量系統(tǒng)，其特征在于，所述測溫組件包括：光電探測器和測量電路，所述光學(xué)耦合設(shè)備通過光纖連接所述光電探測器，所述測量電路連接所述光電探測器，且所述測量電路連接所述主機(jī)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的煉鋼連鑄二冷室中鋼坯溫度比色測量系統(tǒng)，其特征在于，所述光纖為一Y型光纖，所述Y型光纖的主光纖連接所述光學(xué)耦合設(shè)備，所述Y型光纖的兩根分光纖分別連接一所述測溫組件。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的煉鋼連鑄二冷室中鋼坯溫度比色測量系統(tǒng)，其特征在于，所述測溫組件包括：濾光片、光電探測器和測量電路，所述Y型光纖的分光纖、濾光片、光電探測器、測量電路依次連接，且所述測量電路連接所述主機(jī)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的煉鋼連鑄二冷室中鋼坯溫度比色測量系統(tǒng)，其特征在于，所述激光探測組件包括激光器和探測器，所述探測器接收所述激光器發(fā)出的激光并與所述探測電路相連接，所述激光器與所述主機(jī)相連接。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的煉鋼連鑄二冷室中鋼坯溫度比色測量系統(tǒng)，其特征在于，所述探測電路包括光電管電路、可編程放大器、電流轉(zhuǎn)電壓電路和AD轉(zhuǎn)換電路。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的煉鋼連鑄二冷室中鋼坯溫度比色測量系統(tǒng)，其特征在于，所述光學(xué)耦合設(shè)備外設(shè)有水冷設(shè)備。
9.一種采用權(quán)利要求1-8中任一項(xiàng)所述的煉鋼連鑄二冷室中鋼坯溫度比色測量系統(tǒng)進(jìn)行溫度測量的方法，其特征在于，包括如下步驟：
主機(jī)內(nèi)預(yù)存儲有不同波長的激光在無雜質(zhì)環(huán)境下發(fā)射后，探測器接收到的強(qiáng)度；
所述測溫裝置置于高溫環(huán)境中，得到兩個(gè)不同波段下的高溫物體表面的輻射通量，并轉(zhuǎn)換為電信號；
所述信號衰減測量裝置采用與所述測溫裝置采集的光通量兩個(gè)譜段的中心波長附近的激光，使該激光束通過所述測溫裝置所測物體所處環(huán)境后并接收；
所述主機(jī)將所述信號衰減測量裝置接收的激光強(qiáng)度與主機(jī)內(nèi)預(yù)存儲的與所述信號衰減測量裝置同波長的激光強(qiáng)度進(jìn)行比較，得到激光在通過所述測溫裝置所測物體所處環(huán)境后的衰減率；
所述主機(jī)基于所述衰減率對所述測溫裝置中的光電探測器測得的光通量強(qiáng)度進(jìn)行補(bǔ)償后獲取被測物體表面的真實(shí)溫度。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息，商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于蘇州弘皓光電科技有限公司，未經(jīng)蘇州弘皓光電科技有限公司許可，擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作，請聯(lián)系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/202011331059.0/1.html，轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
