[發(fā)明專利]一種光伏電池板隱裂檢測相機及檢測方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011330122.9 | 申請日: | 2020-11-24 |
| 公開(公告)號: | CN112557413B | 公開(公告)日: | 2021-11-16 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 郭惠楠;曹劍中 | 申請(專利權(quán))人: | 中國科學(xué)院西安光學(xué)精密機械研究所 |
| 主分類號: | G01N21/95 | 分類號: | G01N21/95;G01N21/88;H04N5/225 |
| 代理公司: | 西安智邦專利商標(biāo)代理有限公司 61211 | 代理人: | 董娜 |
| 地址: | 710119 陜西省西*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 電池板 檢測 相機 方法 | ||
1.一種光伏電池板隱裂檢測相機,其特征在于:包括共孔徑光學(xué)鏡頭(1)、偏振消光組件(2)、分光棱鏡(3)、可見光成像組件(4)、短波紅外成像組件(5)以及成像控制組件(6);
所述共孔徑光學(xué)鏡頭(1)用于將入射的光束匯聚后進(jìn)入偏振消光組件(2);
所述偏振消光組件(2)接收控制信號執(zhí)行偏振消光動作;
所述分光棱鏡(3)將偏振消光后的光束分為2路,分別進(jìn)入所述可見光成像組件(4)和短波紅外成像組件(5);
所述可見光成像組件(4)對接收的光束進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換,獲得偏振消光組件(2)不同偏振方向下的可見光場景圖像;
所述成像控制組件(6)接收偏振消光組件(2)不同偏振方向下的可見光場景圖像,產(chǎn)生控制偏振消光組件(2)動作的所述控制信號;
所述短波紅外成像組件(5)用于偏振消光組件(2)執(zhí)行偏振消光動作后,獲得短波紅外場景圖像,短波紅外場景圖像經(jīng)所述成像控制組件(6)進(jìn)行圖像數(shù)據(jù)壓縮編碼處理后生成光伏電池板的短波紅外圖像;
所述成像控制組件(6)包括圖像編碼單元和分析計算單元;
所述圖像編碼單元用于接收不同偏振方向下的可見光場景圖像,進(jìn)行圖像數(shù)據(jù)壓縮編碼處理,生成不同偏振方向下的可見光圖像并輸出至分析計算單元,以及對短波紅外場景圖像進(jìn)行圖像數(shù)據(jù)壓縮編碼處理;
所述分析計算單元根據(jù)接收的不同偏振方向下的可見光圖像,得到相應(yīng)雜反光區(qū)域圖像,以雜反光區(qū)域圖像的像素總數(shù)最小值對應(yīng)的可見光圖像,確定偏振鏡的偏振方向,根據(jù)偏振方向產(chǎn)生所述控制信號。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述光伏電池板隱裂檢測相機,其特征在于:所述偏振消光組件(2)包括偏振鏡和驅(qū)動偏振鏡轉(zhuǎn)動的電機;
所述偏振鏡位于共孔徑光學(xué)鏡頭(1)的出射光路上;
所述電機接收成像控制組件(6)產(chǎn)生的控制信號,并根據(jù)該控制信號控制偏振鏡轉(zhuǎn)動。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述光伏電池板隱裂檢測相機,其特征在于:所述可見光成像組件(4)包括可見光圖像探測器和設(shè)置在可見光圖像探測器入射面的可見光截止濾光片;
所述短波紅外成像組件(5)包括短波紅外圖像探測器和設(shè)置在短波紅外圖像探測器入射面的短波紅外截止濾光片。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述光伏電池板隱裂檢測相機,其特征在于:所述共孔徑光學(xué)鏡頭(1)的入射面設(shè)有第一截止濾光膜,第一截止濾光膜的截止光譜段為450nm~1150nm;
所述可見光截止濾光片的截止光譜段為450nm~650nm;
所述短波紅外截止濾光片的截止光譜段為950nm~1150nm。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述光伏電池板隱裂檢測相機,其特征在于:所述可見光成像組件(4)位于分光棱鏡(3)的透射光路上,短波紅外成像組件(5)位于分光棱鏡(3)的反射光路上。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述光伏電池板隱裂檢測相機,其特征在于:所述共孔徑光學(xué)鏡頭(1)內(nèi)表面染黑并進(jìn)行消光紋處理。
7.一種光伏電池板隱裂檢測方法,其特征在于,采用權(quán)利要求1所述光伏電池板隱裂檢測相機,所述檢測方法為:使偏振消光組件(2)的偏振鏡旋轉(zhuǎn)一周,根據(jù)可見光成像組件(4)所成圖像中反射區(qū)域雜光光斑面積,尋找光斑面積最小的偏振鏡方向,在該偏振鏡方向下,通過短波紅外成像組件(5)檢測光伏電池板是否有隱裂。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國科學(xué)院西安光學(xué)精密機械研究所,未經(jīng)中國科學(xué)院西安光學(xué)精密機械研究所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202011330122.9/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





