[發明專利]織物密度測量尺

有效

• 申請號: 202011326929.5
• 申請日: 2020-11-24
• 公開（公告）號: CN112556591B
• 公開（公告）日: 2022-10-18
• 發明（設計）人: 祝怡然;葉政君;黃澤江
• 申請（專利權）人: 祝怡然
• 主分類號: G01B11/14
• 分類號: G01B11/14
• 代理公司: 北京兆君聯合知識產權代理事務所(普通合伙) 11333
• 代理人: 閆強

為了解決現有織物密度測量儀器存在的測量結果不確定的問題。本發明提供了一種織物密度測量尺，包括透明的基板；在所述基板上設置有基線；在所述基板上還設置有與所述基線呈預設夾角的若干平行的非透明或弱透明的測量線；在所述基板上設置有表征被測織物的密度值的刻度標記，所述刻度標記由所述測量線與平行于所述基線的所述被測織物的條紋之間形成的莫爾條紋的方向確定。本發明可以廣泛應用于織物密度的測量和織物質量的評價。

技術領域

本發明涉及一種織物密度測量技術，特別是一種用于測量織物密度的量具。

背景技術

現在廣泛使用的測量織物經緯密度的儀器有織物分析鏡和織物經緯儀。

織物分析鏡測量原理是通過儀器上的放大鏡觀察織物，通過人眼數出1cm中紗線根數得織物的經緯密度。該方法在測量時不數錯根數的前提下，精度高，但是費時費力，極易造成視覺疲勞，且當經緯密度大但放大鏡放大倍數較小時，很可能數錯根數。

織物經緯儀的測量原理是利用了儀器上的類似“光柵”的圖案遮光透光的周期重復結構與織物遮光透光的周期重復結構(有紗線的地方遮光，兩紗線之間透光)相疊加形成摩爾條紋來測量。使用時將織物經緯儀覆蓋在被測織物上，在經緯儀上圖案的周期T1等于織物紗線的周期T2的地方出現莫爾條紋。該方法能快速方便確定織物的經緯密度，但在T1＝nT2(n為整數)的地方同樣會產生莫爾條紋，測量時若不知道織物的大致經緯密度，難以判斷哪一個莫爾條紋對應的是T2。且該方法要求T1＝T2，當經緯密度很大時，T1很小，普通打印設備精度不夠，難以噴涂出該圖案，使得儀器制作不方便。

發明內容

為了解決現有織物密度測量儀器存在的測量結果不確定的問題。本發明提供了一種織物密度測量尺。

本發明的技術方案如下。

織物密度測量尺，包括透明的基板；在所述基板上設置有基線；在所述基板上還設置有與所述基線呈預設夾角的若干平行的非透明或弱透明的測量線；在所述基板上設置有表征被測織物的密度值的刻度標記，所述刻度標記由所述測量線與平行于所述基線的所述被測織物的條紋之間形成的莫爾條紋的方向確定。

確定所述刻度標記的公式如下：

其中，T1為被測織物的條紋密度，T2為垂直于所述測量線方向的測量線的密度，α為所述測量線與所述被測織物的條紋的夾角，β為莫爾條紋與所述被測織物的條紋的夾角。

可選地，所述測量線設置在所述基板上一個半圓形區域內；所述半圓的直線邊緣為所述基線；所述刻度標記設置在所述半圓形區域的曲線邊緣上。

可選地，所述測量線的粗細相等。

可選地，所述測量線之間的間距相等。

可選地，所述預設夾角的大小為20度。

可選地，在垂直于所述測量線方向，每厘米內設置有40根所述測量線。

可選地，所述基板的材質包括亞克力材料

本發明的技術效果：

本發明的織物密度測量尺使用時覆蓋在被測織物上，由于平行的測量線之間的間距相等，所以僅產生一條莫爾條紋，莫爾條紋角度和織物密度是一一對應的關系，不用提前測量織物的大致經緯密度。因此，使用本發明的織物密度測量尺，測量結果準確且唯一，實現了本發明的目的。另外，當被測織物上存在瑕疵(例如破損)，在測量時，瑕疵處的莫爾條紋會產生變形，這種情況便于同時測出被測織物的瑕疵，以及進一步測出與織物質量相關的瑕疵的分布。

在生產本測量尺時，可以通過改變其圖案的角度和周期，很方便的設計出不同測量精度和測量范圍的儀器，適應于不同場景，既可以滿足高精度要求的場合，也可以滿足廣量程的場合。