[發明專利]斜井或傾斜地層的陣列感應測井數據聚焦處理方法及裝置

在審

• 申請號: 202011326321.2
• 申請日: 2020-11-24
• 公開（公告）號: CN114542055A
• 公開（公告）日: 2022-05-27
• 發明（設計）人: 李潮流;李霞;袁超;寧從前;胡法龍;肖承文;馮周;俞軍
• 申請（專利權）人: 中國石油天然氣股份有限公司
• 主分類號: E21B49/00
• 分類號: E21B49/00;E21B47/00;G06F30/20
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司 11127
• 代理人: 谷敬麗;薛平

1.一種斜井或傾斜地層的陣列感應測井數據聚焦處理方法，其特征在于，包括：

根據輸入的原始陣列感應信號及地質背景信號構建初始地層模型；

根據初始地層模型正演模擬計算HDIL儀器7個子陣列線圈系、8種不同頻率的電導率響應理論曲線；

對電導率響應理論曲線進行趨膚效應校正和分辨率匹配處理，得到7條具有相同縱向分辨率的理論曲線；

計算7條具有相同縱向分辨率的理論曲線與7條具有相同縱向分辨率的實測曲線的誤差，判斷誤差是否滿足精度要求，若滿足，則對7條具有相同縱向分辨率的理論曲線進行去高頻噪音處理，獲得具有一定分辨率、不同探測深度的陣列感應電阻率曲線，完成聚焦處理；若不滿足，則修改初始地層模型，重復電導率響應理論曲線計算、趨膚效應校正和分辨率匹配處理、誤差計算，直到誤差滿足精度要求。

2.如權利要求1所述的斜井或傾斜地層的陣列感應測井數據聚焦處理方法，其特征在于，所述原始陣列感應信號為經過井眼環境影響校正和趨膚效應校正后的不同子陣列線圈的實測電導率曲線；所述地質背景信號為由微電阻率掃描成像測井或地層傾角測井提供的相對傾角，在斜井中是指目標地層相對于井軸或儀器軸的相對傾斜角；

所述7條具有相同縱向分辨率的實測曲線為對所述原始陣列感應信號進行分辨率匹配處理確定。

3.如權利要求1所述的斜井或傾斜地層的陣列感應測井數據聚焦處理方法，其特征在于，所述初始地層模型包括層厚度、層界面位置、水平電阻率、垂直電阻率和相對傾斜角。

4.如權利要求3所述的斜井或傾斜地層的陣列感應測井數據聚焦處理方法，其特征在于，所述層厚度選擇1英尺、2英尺或4英尺。

5.如權利要求3所述的斜井或傾斜地層的陣列感應測井數據聚焦處理方法，其特征在于，所述水平電阻率的初始值采用實測曲線中源距中等的子陣列線圈的曲線方波化后的平均值。

6.如權利要求3所述的斜井或傾斜地層的陣列感應測井數據聚焦處理方法，其特征在于，所述垂直電阻率的初始值由水平電阻率的初始值、區域上的電各向異性系數λ來確定。

7.如權利要求3所述的斜井或傾斜地層的陣列感應測井數據聚焦處理方法，其特征在于，修改初始地層模型包括修改層界面位置、水平電阻率、垂直電阻率和相對傾斜角其中之一或多個。

8.如權利要求1所述的斜井或傾斜地層的陣列感應測井數據聚焦處理方法，其特征在于，根據初始地層模型正演模擬計算HDIL儀器7個子陣列線圈系、8種不同頻率的電導率響應理論曲線，包括：

根據初始地層模型，基于Maxwell方程組求解計算HDIL儀器7個子陣列線圈系、8種不同頻率的電導率響應理論曲線。

9.一種斜井或傾斜地層的陣列感應測井數據聚焦處理裝置，其特征在于，包括：

初始地層模型構建模塊，用于根據輸入的原始陣列感應信號及地質背景信號構建初始地層模型；

理論曲線獲得模塊，用于根據初始地層模型正演模擬計算HDIL儀器7個子陣列線圈系、8種不同頻率的電導率響應理論曲線；

校正和匹配模塊，用于對電導率響應理論曲線進行趨膚效應校正和分辨率匹配處理，得到7條具有相同縱向分辨率的理論曲線；

判斷模塊，用于計算7條具有相同縱向分辨率的理論曲線與7條具有相同縱向分辨率的實測曲線的誤差，判斷誤差是否滿足精度要求，若滿足，則對7條具有相同縱向分辨率的理論曲線進行去高頻噪音處理，獲得具有一定分辨率、不同探測深度的陣列感應電阻率曲線，完成聚焦處理；若不滿足，則修改初始地層模型，重復電導率響應理論曲線計算、趨膚效應校正和分辨率匹配處理、誤差計算，直到誤差滿足精度要求。