[發明專利]一種基于碲鋅鎘的空間帶電粒子望遠鏡有效
| 申請號： | 202011324287.5 | 申請日： | 2020-11-23 |
| 公開（公告）號： | CN112462409B | 公開（公告）日： | 2022-07-12 |
| 發明（設計）人： | 屈衛衛;楊夢夢;周光明 | 申請（專利權）人： | 蘇州大學 |
| 主分類號： | G01T1/24 | 分類號： | G01T1/24;G01T1/36;G01T1/38 |
| 代理公司： | 蘇州市中南偉業知識產權代理事務所(普通合伙) 32257 | 代理人： | 朱振德 |
| 地址： | 215000 江蘇*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 基于 碲鋅鎘 空間 帶電 粒子 望遠鏡 | ||
1.一種基于碲鋅鎘的空間帶電粒子望遠鏡，其特征在于，包括外罩，所述外罩的頂端設有開口，所述外罩內設有安裝座，所述安裝座上從上至下依次設置有Si半導體探測器、第一CZT探測器和第二CZT探測器，所述Si半導體探測器和第一CZT探測器組成第一組ΔE-E探測器系統，所述第一CZT探測器和第二CZT探測器組成第二組ΔE-E探測器系統，所述第一組ΔE-E探測器系統和第二組ΔE-E探測器系統配合分別對不同能量的帶電粒子進行測量。
2.如權利要求1所述的基于碲鋅鎘的空間帶電粒子望遠鏡，其特征在于，所述第一組ΔE-E探測器系統可探測10-60MeV的質子，所述第二組ΔE-E探測器系統可探測60-90MeV的質子。
3.如權利要求1所述的基于碲鋅鎘的空間帶電粒子望遠鏡，其特征在于，所述Si半導體探測器的直徑為10mm，厚度為300μm，所述第一CZT探測器和第二CZT探測器均為立方體，邊長均為10mm。
4.如權利要求1所述的基于碲鋅鎘的空間帶電粒子望遠鏡，其特征在于，所述Si半導體探測器對應的PCB板設于Si半導體探測器和第一CZT探測器之間，所述第一CZT探測器對應的PCB板設于第一CZT探測器和第二CZT探測器之間，所述第二CZT探測器對應的PCB板設于第二CZT探測器的底部。
5.如權利要求4所述的基于碲鋅鎘的空間帶電粒子望遠鏡，其特征在于，所述安裝座設有上下貫通的腔體，所述Si半導體探測器對應的PCB板設置于所述腔體頂部，所述第一CZT探測器對應的PCB板設置于所述腔體內，所述第二CZT探測器對應的PCB板設置于所述腔體底部。
6.如權利要求5所述的基于碲鋅鎘的空間帶電粒子望遠鏡，其特征在于，所述Si半導體探測器對應的PCB板、第一CZT探測器對應的PCB板和第二CZT探測器對應的PCB板均通過螺絲固定于所述安裝座上。
7.如權利要求4所述的基于碲鋅鎘的空間帶電粒子望遠鏡，其特征在于，所述Si半導體探測器對應的PCB板、第一CZT探測器對應的PCB板和第二CZT探測器對應的PCB板上均設有供帶電粒子通過的通孔。
8.如權利要求5所述的基于碲鋅鎘的空間帶電粒子望遠鏡，其特征在于，所述外罩內設置有溫度傳感器，所述溫度傳感器用于測量所述Si半導體探測器、第一CZT探測器和第二CZT探測器的溫度，用于對探測器的能譜進行峰漂 的修正。
9.如權利要求1所述的基于碲鋅鎘的空間帶電粒子望遠鏡，其特征在于，所述開口設置有鍍鋁聚酯薄膜。
10.如權利要求1所述的基于碲鋅鎘的空間帶電粒子望遠鏡，其特征在于，外罩的底部設置有與所述Si半導體探測器、第一CZT探測器和第二CZT探測器連接的插頭，所述插頭可通過線纜與數據獲取系統上位機連接。
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