[發明專利]一種用于識別異常上皮細胞的方法和系統

在審

• 申請號: 202011323788.1
• 申請日: 2020-11-23
• 公開（公告）號: CN112529843A
• 公開（公告）日: 2021-03-19
• 發明（設計）人: 許凱
• 申請（專利權）人: 集美大學
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/13;G06T7/62
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 王煥

1.一種用于識別異常上皮細胞的方法，其特征在于，包括以下步驟：

獲取待測目標樣品；

對待測目標樣品進行分析以獲取待測樣品的細胞參數特征；

從正常細胞參數特征庫中提取與待測目標樣品同類型的細胞參數特征；所述細胞參數特征包括細胞邊數分布、面積分布、內角分布、擬合橢圓的長短軸比值、相鄰多邊形細胞的平均邊數；

基于待測目標樣品的細胞參數特征和正常細胞的細胞參數特征的比對，識別出異常的上皮細胞。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述細胞參數特征包括：目標生物組織按照組織外形和生物學功能分成的不同區塊，各區塊中每個多邊形細胞的邊數分布、面積分布、多邊形的內角分布、相鄰多邊形細胞的平均邊數，優選地，還包括多邊形邊數的二階矩和熵。

3.根據權利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述細胞參數特征還包括：基于每個多邊形細胞進行最小外接橢圓擬合得到的擬合橢圓的長、短半軸及比值。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，對待測目標樣品進行分析前，使用顯微鏡拍攝上皮細胞圖像。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述待測目標樣品進行分析包括：通過獲取每個多邊形細胞的頂點坐標進而獲取細胞參數特征或者通過對每個多邊形細胞進行軟件標注來獲取相應細胞參數特征。

6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，所述細胞參數特征在相同的放大倍數下進行統計或在固定的標尺參考下進行統計。

7.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法包括通過與正常細胞的參數進行對比，識別異常細胞；

其中，所述正常細胞的邊數分布特點：邊數平均值為6，邊數范圍為4-10，六邊形占比為30％-70％；面積分布特點：細胞面積為面積平均值的0.1至10倍；多邊形的內角分布：40％以上的內角集中在100-140度；相鄰多邊形細胞的平均邊數范圍為4.5-8.0；多邊形邊數的二階矩范圍為0.2-1.0，邊數的熵范圍為0.8-2.0；長、短半軸比值范圍為1.0-3.0。

8.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括對識別出的異常細胞所占比例進行統計和分析異常細胞分布密度從而確定待測目標樣品的病變類型和病情發展狀況。

9.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述目標生物組織的共性是，根據組織細胞的幾何和拓撲特征，將組織簡化為凸多邊形密鋪的二維平面，凸多邊形網格中90％以上的情況下每三邊交于一個頂點。

10.一種用于實現權利要求1-9任一項所述方法的系統，其特征在于，所述系統包括：

獲取對象模塊，用于獲取待測目標樣品；

細胞參數特征獲取模塊，用于獲取細胞參數特征；

比對模塊，用于將待測目標樣品的細胞參數特征和正常細胞的細胞參數特征進行比對，識別出異常的上皮細胞。