[發(fā)明專利]晶圓自制背封結(jié)構(gòu)的制造方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011319117.8 | 申請日: | 2020-11-23 |
| 公開(公告)號: | CN112382556B | 公開(公告)日: | 2022-10-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 閆玉琴;王柯;程劉鎖;白旭東;范曉;王函 | 申請(專利權(quán))人: | 華虹半導(dǎo)體(無錫)有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/02 | 分類號: | H01L21/02 |
| 代理公司: | 上海浦一知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31211 | 代理人: | 欒美潔 |
| 地址: | 214028 江*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 自制 結(jié)構(gòu) 制造 方法 | ||
1.一種晶圓自制背封結(jié)構(gòu)的制造方法,其特征在于,包括如下步驟:
步驟S1,在晶圓的背面生長第一薄膜層,所述第一薄膜層為高溫氧化物膜層;
步驟S2,將所述晶圓旋轉(zhuǎn)一角度,使旋轉(zhuǎn)后的所述晶圓和晶舟的接觸處與旋轉(zhuǎn)前的所述晶圓和晶舟的接觸處不重合;
步驟S3,在所述晶圓的背面生長第二薄膜層,所述第二薄膜層為高溫氧化物膜層,所述第一薄膜層和所述第二薄膜層的厚度相同,所述第一薄膜層和所述第二薄膜層組成背封結(jié)構(gòu)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶圓自制背封結(jié)構(gòu)的制造方法,其特征在于,在步驟S2中,晶圓旋轉(zhuǎn)的角度為30°~60°。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的晶圓自制背封結(jié)構(gòu)的制造方法,其特征在于,在步驟S2中,晶圓旋轉(zhuǎn)的角度為45°。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶圓自制背封結(jié)構(gòu)的制造方法,其特征在于,在步驟S2中,順時針旋轉(zhuǎn)所述晶圓。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶圓自制背封結(jié)構(gòu)的制造方法,其特征在于,在步驟S2中,逆時針旋轉(zhuǎn)所述晶圓。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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