[發明專利]一種低成本的高阻值電阻的測量系統及測量方法

在審

• 申請號: 202011317047.2
• 申請日: 2020-11-20
• 公開（公告）號: CN114518489A
• 公開（公告）日: 2022-05-20
• 發明（設計）人: 楊宏銀;黃宇
• 申請（專利權）人: 深圳長城開發科技股份有限公司
• 主分類號: G01R27/14
• 分類號: G01R27/14;G01R27/20
• 代理公司: 深圳市順天達專利商標代理有限公司 44217
• 代理人: 郭偉剛;李闖

一種低成本的高阻值電阻的測量系統及測量方法。所述測量系統包括激勵源、激勵電阻、待測電阻以及電壓檢測模塊；所述激勵電阻與所述待測電阻相串聯，所述激勵電阻的一端與所述激勵源相連、另一端與所述待測電阻的一端相連，所述待測電阻的另一端接地，所述電壓檢測模塊連接于所述待測電阻的兩端；其中，所述激勵源用于輸出穩定的測量電壓，所述電壓檢測模塊用于測量所述待測電阻兩端的電壓。所述測量系統及測量方法能夠用于實時檢測防靜電臺墊的接地情況，并測量防靜電臺墊的電阻，實施所述高阻值電阻測量系統及方法不需要用到重錘式表面電阻測試儀，可大幅節約測量成本。

技術領域

發明涉及電子技術領域，具體涉及高阻值電阻的測量系統及測量方法，更具體而言，涉及一種低成本的高阻值電阻的測量系統及測量方法。

背景技術

在電子產品的生產作業中，員工的工作臺上會放置很多電子元件，這些電子元件產生的靜電很容易對人體及電子產品造成干擾，所以，現如今很多電子產品的生產車間的工作臺上都鋪設了大量防靜電臺墊。根據國標要求，鋪設在工作臺上的防靜電臺墊的表面層電阻需要達到10⁶Ω至10⁹Ω。目前業內，為了確保防靜電臺墊的表面層電阻確實達到了所需要求，通常用重錘式表面電阻測試儀定期測試防靜電臺墊的電阻。此方法的缺點在于，重錘式表面電阻測試儀價格昂貴，導致此法成本居高不下。

發明內容

本發明所要解決的技術問題在于，針對上述現有技術中的問題，提供一種低成本的高阻值電阻的測量系統及測量方法，所述測量系統及測量方法能夠用于實時檢測防靜電臺墊的接地情況，并測量防靜電臺墊的電阻，實施所述高阻值電阻測量系統及方法不需要用到重錘式表面電阻測試儀，可大幅節約測量成本。

為解決上述技術問題，發明所采用的技術方案是提供一種低成本的高阻值電阻測量系統，所述測量系統包括激勵源、激勵電阻、待測電阻以及電壓檢測模塊；所述激勵電阻與所述待測電阻相串聯，所述激勵電阻的一端與所述激勵源相連、另一端與所述待測電阻的一端相連，所述待測電阻的另一端接地，所述電壓檢測模塊連接于所述待測電阻的兩端；其中，所述激勵源用于輸出穩定的測量電壓，所述電壓檢測模塊用于測量所述待測電阻兩端的電壓。

通過采用上述技術方案的測量系統，通過所述激勵源輸出穩定的測量電壓，由所述電壓檢測模塊測量得到所述待測電阻(可以是防靜電臺墊)兩端的電壓，由此可以得知所述激勵電阻兩端的電壓，而在所述激勵電阻的阻值已知的情況下即可得出流經所述激勵電阻的電流值，由于所述激勵電阻與所述電測電阻為串聯關系，流經所述激勵電阻的電流值與流經所述待測電阻的電流值相同，再根據歐姆定律即可得到所述待測電阻的阻值。如此，可在不使用重錘式表面電阻測試儀的情況下對防靜電臺墊的接地電阻進行測量，可大幅節約測量成本。

本發明提供的高阻值電阻測量系統中，所述電壓檢測模塊包括跟隨器、運算放大器和處理器，所述跟隨器的一端連接于所述待測電阻的一端、另一端與所述運算放大器的一端連接，所述運算放大器的另一端與所述處理器的一端連接，所述處理器的另一端接地。

本發明提供的高阻值電阻測量系統中，所述跟隨器的一端通過第一軟件濾波器與所述待測電阻的一端連接。

本發明提供的高阻值電阻測量系統中，所述跟隨器與所述運算放大器之間連接有第二軟件濾波器。

本發明提供的高阻值電阻測量系統中，所述運算放大器與所述處理器之間連接于第三軟件濾波器。

本發明提供的高阻值電阻測量系統中，所述第一軟件濾波器與所述待測電阻之間連接有保護電路。

本發明提供的高阻值電阻測量系統中，所述激勵源輸出測量電壓的電壓值在2V-5V之間，所述激勵電阻的阻值在100MΩ-300MΩ之間。

相應的，本發明還提供了一種利用如上所述的測量系統對高阻值電阻進行測量的測量方法，所述測量方法包括測量步驟，所述測量步驟包括如下步驟：

利用所述激勵源輸出電壓值為V的測量電壓；