[發(fā)明專利]一種溫度快速可調(diào)的檢測(cè)裝置在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202011309441.1 | 申請(qǐng)日: | 2020-11-20 |
| 公開(公告)號(hào): | CN112362630A | 公開(公告)日: | 2021-02-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 肖澤璽;宋志兵;廖政;張鍇 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 湖南開啟時(shí)代生物科技有限責(zé)任公司;湖南開啟時(shí)代電子信息技術(shù)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N21/64 | 分類號(hào): | G01N21/64 |
| 代理公司: | 長(zhǎng)沙國(guó)科天河知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 43225 | 代理人: | 董惠文 |
| 地址: | 410000 湖南省長(zhǎng)沙市長(zhǎng)沙高新開發(fā)區(qū)*** | 國(guó)省代碼: | 湖南;43 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 溫度 快速 可調(diào) 檢測(cè) 裝置 | ||
1.一種溫度快速可調(diào)的檢測(cè)裝置,其特征在于,包括基架組件以及設(shè)在基架組件上的驅(qū)動(dòng)組件、移動(dòng)組件、溫控組件與檢測(cè)組件;
所述檢測(cè)組件上設(shè)有檢測(cè)通道,以用于對(duì)待測(cè)物質(zhì)進(jìn)行檢測(cè);
所述移動(dòng)組件在所述基架組件上具有直線往復(fù)運(yùn)動(dòng)的行程,所述驅(qū)動(dòng)組件與所述移動(dòng)組件傳動(dòng)相連,以用于實(shí)現(xiàn)所述移動(dòng)組件的直線往復(fù)運(yùn)動(dòng);
所述移動(dòng)組件上設(shè)有能夠安置待測(cè)物質(zhì)的樣本容納腔;所述檢測(cè)通道與所述移動(dòng)組件的移動(dòng)路徑相交,且所述檢測(cè)通道與所述移動(dòng)組件移動(dòng)路徑的相交點(diǎn)位于所述樣本容納腔的移動(dòng)路徑上;
所述溫控組件包括升溫單元與降溫單元,所述升溫單元上設(shè)有位于所述移動(dòng)組件移動(dòng)路徑一端的升溫腔,所述降溫單元上設(shè)有位于所述移動(dòng)組件移動(dòng)路徑另一端的降溫腔。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述溫度快速可調(diào)的檢測(cè)裝置,其特征在于,所述移動(dòng)組件包括移動(dòng)倉(cāng)與傳動(dòng)桿,所述移動(dòng)倉(cāng)設(shè)在所述傳動(dòng)桿上,所述傳動(dòng)桿與所述驅(qū)動(dòng)組件相連,以使得所述移動(dòng)倉(cāng)在所述驅(qū)動(dòng)組件的驅(qū)動(dòng)下沿所述傳動(dòng)桿的長(zhǎng)度方向作直線往復(fù)運(yùn)動(dòng);
所述樣本容納腔設(shè)在所述移動(dòng)倉(cāng)上,所述移動(dòng)倉(cāng)上設(shè)有檢測(cè)入口與檢測(cè)出口,當(dāng)所述樣本容納腔位于所述檢測(cè)通道與移動(dòng)組件移動(dòng)路徑的相交點(diǎn)時(shí),所述檢測(cè)通道依次經(jīng)過(guò)所述檢測(cè)入口、所述樣本容納腔與所述檢測(cè)出口。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述溫度快速可調(diào)的檢測(cè)裝置,其特征在于,所述升溫單元包括升溫倉(cāng)、升溫件,所述升溫腔設(shè)在所述升溫倉(cāng)內(nèi),所述升溫倉(cāng)上設(shè)有與所述升溫腔連通的升溫開口,所述升溫倉(cāng)設(shè)在所述基架組件上且所述升溫開口朝向所述移動(dòng)倉(cāng),所述移動(dòng)倉(cāng)經(jīng)過(guò)所述升溫開口后進(jìn)入所述升溫腔;所述升溫件設(shè)在升溫腔內(nèi),以用于提升升溫腔的溫度。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述溫度快速可調(diào)的檢測(cè)裝置,其特征在于,所述降溫單元包括降溫倉(cāng)、降溫件,所述降溫腔設(shè)在所述降溫倉(cāng)內(nèi),所述降溫倉(cāng)上設(shè)有與所述降溫腔連通的降溫開口,所述降溫倉(cāng)設(shè)在所述基架組件上且所述降溫開口朝向所述移動(dòng)倉(cāng),所述移動(dòng)倉(cāng)經(jīng)過(guò)所述降溫開口后進(jìn)入所述降溫腔;所述降溫件設(shè)在降溫腔內(nèi),以用于降低降溫腔的溫度。
5.根據(jù)權(quán)利要求1或2或3或4所述溫度快速可調(diào)的檢測(cè)裝置,其特征在于,所述檢測(cè)組件還包括光源模塊以及采集模塊;
所述檢測(cè)通道包括入射光通道與出射光通道,所述入射光通道與所述出射光通道相交于所述樣本容納腔的移動(dòng)路徑上;
所述光源模塊包括設(shè)置于所述入射光通道內(nèi)或所述入射光通道的進(jìn)口處的發(fā)光源,所述采集模塊包括設(shè)置于所述出射光通道內(nèi)或所述出射光通道的出口處的采集器。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的溫度快速可調(diào)的檢測(cè)裝置,其特征在于,所述光源模塊還包括設(shè)置于所述入射光通道內(nèi)的安裝筒、以及設(shè)置于所述安裝筒內(nèi)的第一導(dǎo)光棒,所述發(fā)光源與所述第一導(dǎo)光棒遠(yuǎn)離所述樣本容納腔的一端相對(duì)。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的溫度快速可調(diào)的檢測(cè)裝置,其特征在于,所述采集模塊還包括設(shè)置于所述出射光通道內(nèi)的光路通道管、以及設(shè)置于所述光路通道管內(nèi)的第二導(dǎo)光棒,所述采集器與所述第二導(dǎo)光棒遠(yuǎn)離所述樣本容納腔的一端相對(duì)。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的溫度快速可調(diào)的檢測(cè)裝置,其特征在于,所述采集模塊還包括設(shè)置于所述采集器與所述第二導(dǎo)光棒之間的濾光元件。
9.根據(jù)權(quán)利要求5所述的溫度快速可調(diào)的檢測(cè)裝置,其特征在于,所述入射光通道的長(zhǎng)度方向與所述出射光通道的長(zhǎng)度方向垂直。
10.根據(jù)權(quán)利要求1或2或3或4所述溫度快速可調(diào)的檢測(cè)裝置,其特征在于,所述基架組件包括支撐座以及設(shè)在所述支撐座上的安裝架,所述驅(qū)動(dòng)組件、移動(dòng)組件、溫控組件與檢測(cè)組件均設(shè)在安裝架上;所述安裝架頂部設(shè)有下料槽,所述下料槽的槽底設(shè)有下料口,所述下料口位于所述樣本容納腔移動(dòng)路徑的正上方。
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G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
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