[發明專利]一種直讀式白微光綜合檢測儀在審
| 申請號: | 202011309400.2 | 申請日: | 2020-11-20 |
| 公開(公告)號: | CN112414678A | 公開(公告)日: | 2021-02-26 |
| 發明(設計)人: | 王勁松;劉勇 | 申請(專利權)人: | 長春市艾必利務科技有限公司 |
| 主分類號: | G01M11/02 | 分類號: | G01M11/02 |
| 代理公司: | 北京高沃律師事務所 11569 | 代理人: | 杜陽陽 |
| 地址: | 130012 吉林省長春市高新技術*** | 國省代碼: | 吉林;22 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 直讀 微光 綜合 檢測 | ||
本發明公開了一種直讀式白微光綜合檢測儀,所述檢測儀包括:可調光源組件、內套筒、分劃板、外套筒、調節齒輪、外罩、下反射鏡、上反射鏡和物鏡組。本發明設置了下反射鏡和上反射鏡對瞄準光進行反射,減小了直讀式白微光綜合檢測儀的檢測場地面積,設置兩個銷子,以實現通過調整可調光源組件的方式調整分劃板,通過設置調節齒輪調節外套筒與內套筒的相對距離,進而實現分劃板的微量調節。本發明提供了一種可調節的檢測場地面積小的直讀式白微光綜合檢測儀。
技術領域
本發明涉及光學測量技術領域,特別涉及一種直讀式白微光綜合檢測儀。
背景技術
直讀式白微光綜合檢測儀主要用于槍用瞄準鏡批量性調校和檢測,主要低槍用瞄準鏡的視度、視差、分劃調整范圍、分劃調整偏離、分劃傾斜、調焦范圍等指標參數的調校和檢驗。
現有的同類產品采用的是傳統準直管方法去實現檢測的,這種方法存在很大的局限性。主要是利用光學系統對瞄準鏡進行測量。
而且現有產品體積大,對工廠使用空間有嚴重的影響。操作人員不能單獨的進行工作。且功能上只能測量單一的光學瞄準鏡,不能對不同的瞄準進行測量,致使檢測場地面積增大。
如何提供一種可調節的檢測場地面積小的直讀式白微光綜合檢測儀,成為一個亟待解決的技術問題。
發明內容
本發明的目的是提供一種直讀式白微光綜合檢測儀,以提供一種可調節的檢測場地面積小的直讀式白微光綜合檢測儀。
為實現上述目的,本發明提供了如下方案:
一種直讀式白微光綜合檢測儀,所述檢測儀包括:可調光源組件、內套筒、分劃板、外套筒、調節齒輪、外罩、下反射鏡、上反射鏡和物鏡組;
所述可調光源組件與所述內套筒連接,所述分劃板設置在所述可調光源組件的端部,所述分劃板的外框邊緣處設置有兩個銷子,所述可調光源組件上設置有兩個孔相,兩個所述銷子分別設置在兩個所述孔相內;
所述內套筒設置在所述外套筒內,所述調節齒輪固定在所述外套筒上,并與所述內套筒的外部設置的齒條嚙合;
所述下反射鏡和所述上反射鏡均設置在所述外罩內;
所述外套筒設置在所述外罩的進光孔,所述下反射鏡設置在所述可調光源組件的出射光路上,并與所述可調光源組件的出射光的光軸成45°夾角,所述上反射鏡設置在所述下反射鏡的反射光路上,并與所述下反射鏡的反射光的光軸成45°夾角;所述上反射鏡的反射光從所述外罩的出光孔出射;
所述物鏡組設置在所述外罩的出光孔。
可選的,所述可調光源組件包括白微光調節控制器、電源、燈管、光源罩和聚光鏡組;
所述電源的電源底座固定在所述光源罩的一端,所述電源底座位于所述光源罩外部的一側固定設置有所述電源,所述電源與所述白微光調節控制器采用電源線抽插連接;
所述電源底座位于所述光源罩內部的一側設置有兩個電源連接孔;
所述燈管通過所述燈管底部的兩個金屬的支角插入兩個電源連接孔;
所述聚光鏡組可滑動的設置在所述光源罩內;
所述光源罩的另一端與以抽插形式設置在所述內套筒內;所述光源罩的另一端的端部的內側設置有兩個孔相。
可選的,所述內套筒的外側設置有限位塊,所述外套筒的內側設置有凹槽,所述限位塊可在所述凹槽內滑動。
可選的,所述檢測儀還包括二維調整架,所述上反射鏡通過所述二維調整架設置在所述外罩的內部。
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