[發(fā)明專利]新型多電極Seebeck系數(shù)測(cè)量方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202011307224.9
• 申請(qǐng)日: 2020-11-20
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN112485305A
• 公開(kāi)（公告）日: 2021-03-12
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李自力;劉雍;熊銳
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 武漢智碼開(kāi)門電子科技有限責(zé)任公司
• 主分類號(hào): G01N27/14
• 分類號(hào): G01N27/14;G01R29/00
• 代理公司: 武漢高得專利代理事務(wù)所(普通合伙) 42268
• 代理人: 姜璐

本發(fā)明公開(kāi)了新型多電極Seebeck系數(shù)測(cè)量方法，包括電極一、電極二、電極三、電極四和待測(cè)樣品，所述待測(cè)樣品上方分別設(shè)置有電極一、電極二、電極三和電極四，所述電極一、電極二、電極三和電極四的接觸熱電勢(shì)分別為V1、V2、V3和V4。該新型多電極Seebeck系數(shù)測(cè)量方法通過(guò)增加測(cè)試時(shí)電極的數(shù)目，增加可測(cè)得物理量，從而消去了接觸熱電勢(shì)對(duì)Seebeck系數(shù)測(cè)量的影響，一次測(cè)量即可快速準(zhǔn)確的得到材料的Seebeck系數(shù)及其誤差值。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及Seebeck系數(shù)測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域，具體為新型多電極Seebeck系數(shù)測(cè)量方法。

背景技術(shù)

塞貝克效應(yīng)（Seebeck effect）指的是由物體溫度差引起的電勢(shì)差的現(xiàn)象。Seebeck系數(shù)作為材料的本征特性之一，其不受材料尺寸形狀影響，僅與溫度相關(guān)。目前主要熱電勢(shì)測(cè)量方法按原理來(lái)分有兩種：倒相法和微分法，但目前不管哪種方法均需要電極與待測(cè)樣品接觸良好且均采用兩個(gè)電極。與電阻測(cè)量過(guò)程中容易遇到的問(wèn)題類似，因?yàn)榇嬖谥姌O與待測(cè)樣品之間的接觸電阻，當(dāng)待測(cè)樣品本身電阻值較小或與接觸電阻量級(jí)相當(dāng)時(shí)，不能用普通的二電極法來(lái)測(cè)量，必須使用四電極法來(lái)排除接觸電阻的影響。同樣在熱電勢(shì)的測(cè)量中，電極與樣品的接觸往往也會(huì)產(chǎn)生接觸電阻，該部分接觸電阻容易產(chǎn)生額外的接觸熱電勢(shì)，對(duì)于通常的功能熱電材料，因?yàn)槠錈犭妱?shì)系數(shù)較大，其接觸熱電勢(shì)相對(duì)較小，因此接觸熱電勢(shì)的影響往往被人們所忽略。但當(dāng)待測(cè)材料為金屬或合金時(shí)，其熱電勢(shì)往往比較小，為μV/K級(jí)別，此時(shí)接觸熱電勢(shì)的影響不能完全忽略。

簡(jiǎn)單來(lái)說(shuō)，傳統(tǒng)熱電勢(shì)的測(cè)量均是采用兩電極法進(jìn)行測(cè)量，但對(duì)于金屬類材料因?yàn)槠浔菊鳠犭妱?shì)較小，傳統(tǒng)兩電極法測(cè)量過(guò)程中接觸電阻帶來(lái)的寄生熱電勢(shì)的影響較大，導(dǎo)致測(cè)量不準(zhǔn)確。因此需要一種避免接觸熱電勢(shì)對(duì)小Seebeck系數(shù)材料測(cè)量的影響的測(cè)量方法。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于提供新型多電極Seebeck系數(shù)測(cè)量方法，以解決上述背景技術(shù)中提出的問(wèn)題。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供如下技術(shù)方案：新型多電極Seebeck系數(shù)測(cè)量方法，包括電極一、電極二、電極三、電極四和待測(cè)樣品，所述待測(cè)樣品上方分別設(shè)置有電極一、電極二、電極三和電極四，所述電極一、電極二、電極三和電極四的接觸熱電勢(shì)分別為V1、V2、V3和V4。

優(yōu)選的，所述電極一、電極二、電極三和電極四的測(cè)試測(cè)得的物理量溫度分別為T1、T2、T3和T4。

優(yōu)選的，所述電極一和電極二之間電勢(shì)差為V12，所述電極一和電極三之間電勢(shì)差為V13，所述電極一和電極四之間電勢(shì)差為V14。

優(yōu)選的，所述電極二和電極三之間電勢(shì)差為V23，所述電極二和電極四之間電勢(shì)差為V24。

優(yōu)選的，所述電極三和電極四之間電勢(shì)差為V34。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的有益效果是：該新型多電極Seebeck系數(shù)測(cè)量方法通過(guò)增加測(cè)試時(shí)電極的數(shù)目，增加可測(cè)得物理量，從而消去了接觸熱電勢(shì)對(duì)Seebeck系數(shù)測(cè)量的影響，一次測(cè)量即可快速準(zhǔn)確的得到材料的Seebeck系數(shù)及其誤差值，同時(shí)因?yàn)橄チ私佑|熱電勢(shì)的影響，測(cè)量過(guò)程中不需要對(duì)樣品的尺寸和表面平整度有特別要求，特別適合需要快速測(cè)試以及樣品Seebeck系數(shù)較小的材料。

附圖說(shuō)明

圖1為本發(fā)明測(cè)量方法示意圖。

圖中：1、電極一，2、電極二，3、電極三，4、電極四，5、待測(cè)樣品。

本發(fā)明中的零件均可通過(guò)市場(chǎng)購(gòu)買和私人定制獲得。

具體實(shí)施方式

為使本發(fā)明實(shí)現(xiàn)的技術(shù)手段、創(chuàng)作特征、達(dá)成目的與功效易于明白了解，下面結(jié)合具體實(shí)施方式，進(jìn)一步闡述本發(fā)明。