[發明專利]校準方法、監測方法、設備、裝置和計算機可讀介質

在審

• 申請號: 202011304570.1
• 申請日: 2020-11-19
• 公開（公告）號: CN114520936A
• 公開（公告）日: 2022-05-20
• 發明（設計）人: 吳瓊;劉建國;富佳音
• 申請（專利權）人: 中興通訊股份有限公司
• 主分類號: H04Q11/00
• 分類號: H04Q11/00;H04B10/079
• 代理公司: 北京天昊聯合知識產權代理有限公司 11112
• 代理人: 姜春咸;柴亮

1.一種校準方法，其中，包括：

獲取當前狀態下的第一主光路光功率以及監測設備對應的第一監測口光功率，并根據所述第一主光路光功率和所述第一監測口光功率確定當前插損；

根據所述當前插損進行所述監測設備的校準。

2.根據權利要求1所述的校準方法，其中，在所述獲取當前狀態下的第一主光路光功率和監測設備對應的第一監測口光功率的步驟之前，還包括：

獲取初始狀態下的第二主光路光功率和所述監測設備對應的第二監測口光功率，并根據所述第二主光路光功率和所述第二監測口光功率確定靜態插損，其中，所述初始狀態為在所述當前狀態之前的狀態；

根據所述靜態插損進行所述監測設備的校準。

3.根據權利要求2所述的校準方法，其中，所述根據所述當前插損進行所述監測設備的校準的步驟，包括：

根據所述當前插損和所述靜態插損確定動態插損，并根據所述動態插損進行所述監測設備的校準。

4.根據權利要求2所述的校準方法，其中，還包括：

根據所述第一主光路光功率和所述第二主光路光功率確定主光路光功率變化值，并根據所述第一監測口光功率和所述第二監測口光功率確定監測口光功率變化值；

根據所述主光路光功率變化值和所述監測口光功率變化值確定動態插損，并根據所述動態插損進行所述監測設備的校準。

5.根據權利要求1所述的校準方法，其中，所述監測設備包括：光放大器和光通道監測器；所述第一主光路光功率為所述光放大器的輸出光功率，所述第一監測口光功率為所述光通道監測器的監測口所對應的光功率。

6.根據權利要求5所述的校準方法，其中，所述光放大器包括：功率放大器、前置放大器和線路放大器中的至少一者；所述光通道監測器包括光學性能監測單元和光學監控信道單元中的至少一者。

7.根據權利要求1所述的校準方法，其中，主光路所傳輸的光信號包括業務光信號和鏈路噪聲，所述第一主光路光功率由所述業務光信號的功率和所述鏈路噪聲的功率得出；所述監測設備捕捉的光譜信息包括業務光信息和噪聲信息，所述第一監測口光功率由所述業務光信息對應的功率和所述噪聲信息對應的功率得出。

8.一種光鏈路監測方法，其中，包括：

采用如權利要求1至7中任一所述的校準方法對監測設備進行校準，并使用校準完成的所述監測設備對光鏈路進行監測。

9.一種校準設備，包括：

一個或多個處理器；

存儲裝置，用于存儲一個或多個程序；

當所述一個或多個程序被所述一個或多個處理器執行，使得所述一個或多個處理器實現如權利要求1-7中任一所述的校準方法。

10.一種光鏈路監測裝置，包括：校準設備和監測設備；

其中，所述校準設備采用如權利要求9所述的校準設備；所述監測設備用于在經所述校準設備校準后對光鏈路進行監測。

11.一種計算機可讀介質，其上存儲有計算機程序，其中，所述程序被處理器執行時實現如權利要求1-7中任一所述的校準方法中的步驟。