[發(fā)明專(zhuān)利]一種全球電離層數(shù)據(jù)同化和預(yù)報(bào)方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202011304313.8 | 申請(qǐng)日: | 2020-11-19 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN112649899B | 公開(kāi)(公告)日: | 2023-01-24 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 歐明;陳亮;於曉;許娜;陳龍江;吳家燕;熊雯;馮健;甄衛(wèi)民 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 中國(guó)電波傳播研究所(中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第二十二研究所) |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01W1/10 | 分類(lèi)號(hào): | G01W1/10;G01S19/14;G01S19/37 |
| 代理公司: | 青島博雅知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 37317 | 代理人: | 封代臣 |
| 地址: | 266107 山*** | 國(guó)省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 全球 電離層 數(shù)據(jù) 同化 預(yù)報(bào) 方法 | ||
1.一種全球電離層數(shù)據(jù)同化和預(yù)報(bào)方法,其特征在于,包括如下步驟:
步驟1,獲取全球分布的地基GNSS接收機(jī)、LEO衛(wèi)星掩星、垂測(cè)儀、衛(wèi)星信標(biāo)接收機(jī)和小型光度計(jì)探測(cè)數(shù)據(jù),分別提取電離層總電子含量TEC和電子密度的觀(guān)測(cè)數(shù)據(jù),按照設(shè)定的時(shí)間窗口將數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在一個(gè)指定的文件內(nèi),該文件包括:數(shù)據(jù)類(lèi)型編號(hào)、觀(guān)測(cè)時(shí)刻、測(cè)站經(jīng)緯高坐標(biāo)、衛(wèi)星測(cè)站經(jīng)緯高坐標(biāo)、TEC或電子密度測(cè)量值;
步驟2,獲取電離層數(shù)據(jù)同化和預(yù)報(bào)需要的日地空間環(huán)境參量數(shù)據(jù),包括太陽(yáng)輻射通量和地磁指數(shù),將數(shù)據(jù)同化所對(duì)應(yīng)的太陽(yáng)輻射通量、地磁指數(shù)及模型運(yùn)行所需要的配置參量,包括運(yùn)行模式設(shè)定、輸入的觀(guān)測(cè)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)路徑、輸出數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)和網(wǎng)格分辨率設(shè)定,一并存儲(chǔ)到指定的配置文件內(nèi);
步驟3,構(gòu)建電離層數(shù)據(jù)同化觀(guān)測(cè)算子,將電離層TEC和電子密度數(shù)據(jù)按照“線(xiàn)”型和“點(diǎn)”型觀(guān)測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行分類(lèi);
對(duì)于“點(diǎn)”型電子密度觀(guān)測(cè)數(shù)據(jù),插值方法如下:
其中:Ne表示電子密度,K表示級(jí)數(shù)展開(kāi)的級(jí)數(shù),r表示地理位置,hk(r)為基函數(shù),ak為插值系數(shù),基函數(shù)計(jì)算方法如下:
對(duì)于“線(xiàn)”型TEC觀(guān)測(cè)數(shù)據(jù),根據(jù)接收機(jī)與衛(wèi)星間的幾何位置關(guān)系,TEC和同化估計(jì)的狀態(tài)參量之間的關(guān)系為:
其中:STEC表示電離層總電子含量,Ne表示電離層電子密度值,積分上下限分別為衛(wèi)星和接收機(jī)位置,因此幾何轉(zhuǎn)換矩陣計(jì)算方法如下:
其中ΔRin表示第i個(gè)TEC觀(guān)測(cè)值在第n個(gè)網(wǎng)格內(nèi)的射線(xiàn)截距,i為T(mén)EC觀(guān)測(cè)值的序號(hào),N為電子密度網(wǎng)格總數(shù),K為展開(kāi)的總級(jí)數(shù);
遍歷同化窗口內(nèi)所有電離層電子密度和TEC數(shù)據(jù),根據(jù)式(1)和式(3)同化觀(guān)測(cè)方程可構(gòu)建為:
y=Hx (4)
其中:y為電離層電子密度和TEC數(shù)據(jù)組成的矢量,矩陣H為觀(guān)測(cè)數(shù)據(jù)與同化狀態(tài)參量“電子密度”對(duì)應(yīng)的幾何轉(zhuǎn)換矩陣,x為待估計(jì)的各網(wǎng)格點(diǎn)的電子密度;
將矩陣H按照行優(yōu)先稀疏矩陣CSR格式存儲(chǔ),即只存儲(chǔ)H矩陣中非零元素所在的起始行的序號(hào)、非零元素所在的列編號(hào)及非零元素本身;
步驟4,構(gòu)建觀(guān)測(cè)誤差協(xié)方差矩陣,根據(jù)不同觀(guān)測(cè)數(shù)據(jù)間觀(guān)測(cè)誤差的不同,計(jì)算數(shù)據(jù)同化的觀(guān)測(cè)誤差協(xié)方差矩陣R,將觀(guān)測(cè)誤差協(xié)方差矩陣R用對(duì)角矩陣表示:
其中i,j表示觀(guān)測(cè)點(diǎn)i和觀(guān)測(cè)點(diǎn)j,d為觀(guān)測(cè)的TEC或電子密度值,Rij為觀(guān)測(cè)點(diǎn)i與觀(guān)測(cè)點(diǎn)j間的誤差協(xié)方差值,α是比例系數(shù);
將矩陣R按照CSR格式存儲(chǔ),即只存儲(chǔ)R矩陣中非零元素所在的起始行的序號(hào)、非零元素所在的列編號(hào)及非零元素本身;
步驟5,構(gòu)建背景場(chǎng)誤差協(xié)方差矩陣,確定電離層相關(guān)距離;
電離層垂直方向相關(guān)距離的計(jì)算方法如下:
分別表示i和j點(diǎn)在垂直方向的電離層相關(guān)長(zhǎng)度,表示i和j點(diǎn)之間的垂直方向電離層相關(guān)距離;
電離層水平相關(guān)距離計(jì)算方法如下:
其中,和Lλ分別表示緯向和經(jīng)向的相關(guān)長(zhǎng)度,θ表示兩個(gè)網(wǎng)格點(diǎn)之間的方位角,表示i和j點(diǎn)之間的水平方向電離層相關(guān)距離;表示i點(diǎn)緯向的相關(guān)長(zhǎng)度;表示j點(diǎn)緯向的相關(guān)長(zhǎng)度;表示i點(diǎn)經(jīng)向的相關(guān)長(zhǎng)度;表示j點(diǎn)經(jīng)向的相關(guān)長(zhǎng)度;
其中,Lz表示垂直方向上的相關(guān)長(zhǎng)度,表示磁緯度,z表示高度,γ是地方時(shí)LT的函數(shù),表示為:
在存儲(chǔ)數(shù)據(jù)同化背景場(chǎng)誤差協(xié)方差矩陣P時(shí),設(shè)定的限帶方法是任意兩點(diǎn)間的距離超過(guò)1200km,其背景協(xié)方差為零值,根據(jù)(6)和(7)式,數(shù)據(jù)同化背景場(chǎng)誤差協(xié)方差矩陣P具體表示為:
其中:分別代表背景模型在i點(diǎn)和j點(diǎn)的背景值,e為自然指數(shù),zij代表第i點(diǎn)和第j點(diǎn)在高度上的距離,rij代表第i點(diǎn)和第j點(diǎn)的直線(xiàn)距離,表示電離層在高度方向的相關(guān)距離,表示電離層在水平方向的相關(guān)距離,β表示模式誤差與模式值之間的比例系數(shù),gij代表第i點(diǎn)和第j點(diǎn)在水平方向上的大圓距離,計(jì)算方法如下:
式中,是第i點(diǎn)的緯度和經(jīng)度,是第j點(diǎn)的緯度和經(jīng)度;
將矩陣P按照CSR格式存儲(chǔ),即只存儲(chǔ)P矩陣中非零元素所在的起始行的序號(hào)、非零元素所在的列編號(hào)及非零元素本身;
步驟6,讀取步驟2設(shè)定的配置文件參量,讀取太陽(yáng)輻射通量和地磁指數(shù),根據(jù)設(shè)定的數(shù)據(jù)同化網(wǎng)格分辨率,運(yùn)行電離層背景模型,計(jì)算背景場(chǎng)電離層電子密度分布xb;
步驟7,采用限帶卡爾曼濾波算法進(jìn)行地基和天基TEC或電子密度觀(guān)測(cè)數(shù)據(jù)的同化,模型使用的卡爾曼濾波方程如下:
xa=xb+PHT(R+HPHT)-1(y-Hxb) (14)
其中xa表示同化后電子密度分析場(chǎng);
對(duì)矩陣作以下變換:
(R+HPHT)-1(y-Hxb)=T (15)
(R+HPHT)T=(y-Hxb) (16)
采用廣義最小殘差法求解方程,使用不完全下三角矩陣—上三角矩陣LU分解算法進(jìn)行預(yù)處理,具體方法如下:
C-1[(R+HPHT)T-(y-Hxb)]=0 (17)
其中:C是預(yù)條件矩陣,同化給出電離層TEC和電子密度現(xiàn)報(bào)結(jié)果后,將相關(guān)現(xiàn)報(bào)結(jié)果存儲(chǔ)到指定的輸出路徑下;
步驟8,利用高斯—馬爾科夫預(yù)報(bào)方法對(duì)同化的電子密度進(jìn)行預(yù)報(bào),具體公式為:
其中,t表示預(yù)報(bào)時(shí)間,表示t+1時(shí)刻的電離層電子密度背景場(chǎng),表示t時(shí)刻的電離層電子密度背景場(chǎng),表示同化后t+1時(shí)刻的電子密度分析場(chǎng),K為增益矩陣,L代表轉(zhuǎn)換矩陣,其表現(xiàn)形式為對(duì)角矩陣,具體計(jì)算方法為:
其中:i,j表示網(wǎng)格點(diǎn)i和網(wǎng)格點(diǎn)j,ΔT為提前預(yù)報(bào)的時(shí)間間隔,τ表示電離層的時(shí)間相關(guān)尺度,取5h,磁暴期間取值縮短為2h,同化給出電離層TEC和電子密度預(yù)報(bào)結(jié)果后,將相關(guān)現(xiàn)報(bào)結(jié)果存儲(chǔ)到指定的輸出路徑下。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的全球電離層數(shù)據(jù)同化和預(yù)報(bào)方法,其特征在于:步驟(2)中的運(yùn)行模式為區(qū)域或全球。
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