[發明專利]一種導體材料電阻率測量方法有效
| 申請號： | 202011302812.3 | 申請日： | 2020-11-19 |
| 公開（公告）號： | CN112505417B | 公開（公告）日： | 2022-12-09 |
| 發明（設計）人： | 信贏;李文鑫;楊天慧;李賡堯 | 申請（專利權）人： | 天津大學 |
| 主分類號： | G01R27/02 | 分類號： | G01R27/02 |
| 代理公司： | 天津市北洋有限責任專利代理事務所 12201 | 代理人： | 吳學穎 |
| 地址： | 300072*** | 國省代碼： | 天津;12 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 導體 材料 電阻率 測量方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種導體材料電阻率測量方法，其特征在于，包括以下過程：
1） 標準導體環實驗
將標準導體環安裝在固定平臺上，永磁體通過剛性非磁性直桿與測力計固定連接，并使永磁體與標準導體環沿同中心軸線設置；
控制系統控制可控驅動電機，在可控驅動電機的作用下通過機械升降機構使得測力計和永磁體以一定速度沿中心軸線從起始位置穿過標準導體環運動到終止位置，在整個運動過程中，永磁體在不同點處所受到的力由測力計實時測量并記錄，實時測量結果經過計算機處理后在顯示屏上顯示出來；
2） 待測導體環實驗
將標準導體環換成待測導體環，重復上述標準導體環實驗過程，測量出不同點處永磁體所受到的力并記錄，實時測量結果經過計算機處理后在顯示屏上顯示出來；其中，所述標準導體環和待測導體環幾何尺寸相同；
3） 計算標準導體環實驗和待測導體環實驗過程中永磁體受力的比值的平均值，再乘以標準導體環的電阻率，即得到待測導體環的電阻率。
2.根據權利要求1所述的導體材料電阻率測量方法，其特征在于，所述標準導體環實驗和待測導體環實驗過程完全一致，在相同測量條件下，均通過自動或手動操作驅動可控驅動電機，使得永磁體從同一初始位置以一定速度穿過導體環，到達同一終止位置，并由測力計將測量值傳輸至計算機中。
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