[發(fā)明專利]一種磁共振掃描方法及相關(guān)裝置

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202011302027.8
• 申請(qǐng)日: 2020-11-19
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN112401869A
• 公開(kāi)（公告）日: 2021-02-26
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 杜君;李坤;周軍;楊嚴(yán)偉;楊惠林;黃立新;黃軍;王慶恭
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 蘇州大學(xué)附屬第一醫(yī)院
• 主分類號(hào): A61B5/055
• 分類號(hào): A61B5/055
• 代理公司: 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227
• 代理人: 丁曼曼

1.一種磁共振掃描方法，其特征在于，包括：

根據(jù)膝關(guān)節(jié)標(biāo)準(zhǔn)軸位進(jìn)行質(zhì)子密度加權(quán)像掃描處理，得到膝關(guān)節(jié)軸位PDWI圖像；

根據(jù)所述膝關(guān)節(jié)軸位PDWI圖像執(zhí)行膝關(guān)節(jié)標(biāo)準(zhǔn)矢狀位掃描和冠狀位掃描，得到矢狀位PDWI圖像和冠狀位PDWI圖像；

根據(jù)所述軸位PDWI圖像和所述冠狀位PDWI圖像進(jìn)行薄層斜矢狀位PDWI掃描，得到掃描結(jié)果。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁共振掃描方法，其特征在于，根據(jù)膝關(guān)節(jié)標(biāo)準(zhǔn)軸位進(jìn)行質(zhì)子密度加權(quán)像掃描處理，得到膝關(guān)節(jié)軸位PDWI圖像，包括：

將所述膝關(guān)節(jié)標(biāo)準(zhǔn)軸位作為定位數(shù)據(jù)；

根據(jù)所述定位數(shù)據(jù)和掃描參數(shù)進(jìn)行質(zhì)子密度加權(quán)像掃描處理，得到所述膝關(guān)節(jié)軸位PDWI圖像；其中，所述掃描參數(shù)包括層厚為5.5mm和層間距為1.7mm。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁共振掃描方法，其特征在于，根據(jù)所述膝關(guān)節(jié)軸位PDWI圖像執(zhí)行膝關(guān)節(jié)標(biāo)準(zhǔn)矢狀位掃描和冠狀位掃描，得到矢狀位PDWI圖像和冠狀位PDWI圖像，包括：

將所述膝關(guān)節(jié)軸位PDWI圖像作為掃描定位圖；

將掃描參數(shù)的層厚設(shè)置為5mm，將掃描參數(shù)的層間距設(shè)置為0.5mm；

根據(jù)所述掃描定位圖和所述掃描參數(shù)執(zhí)行膝關(guān)節(jié)標(biāo)準(zhǔn)矢狀位掃描和冠狀位掃描，得到所述矢狀位PDWI圖像和所述冠狀位PDWI圖像。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁共振掃描方法，其特征在于，根據(jù)所述軸位PDWI圖像和所述冠狀位PDWI圖像進(jìn)行薄層斜矢狀位PDWI掃描，得到掃描結(jié)果，包括：

將掃描參數(shù)的層厚設(shè)置為2.3mm，將掃描參數(shù)的層間距設(shè)置為0mm；

根據(jù)所述掃描參數(shù)、所述軸位PDWI圖像以及所述冠狀位PDWI圖像進(jìn)行薄層斜矢狀位PDWI掃描，得到掃描結(jié)果。

5.一種磁共振掃描裝置，其特征在于，包括：

標(biāo)準(zhǔn)軸位掃描模塊，用于根據(jù)膝關(guān)節(jié)標(biāo)準(zhǔn)軸位進(jìn)行質(zhì)子密度加權(quán)像掃描處理，得到膝關(guān)節(jié)軸位PDWI圖像；

矢狀位和冠狀位掃描模塊，用于根據(jù)所述膝關(guān)節(jié)軸位PDWI圖像執(zhí)行膝關(guān)節(jié)標(biāo)準(zhǔn)矢狀位掃描和冠狀位掃描，得到矢狀位PDWI圖像和冠狀位PDWI圖像；

掃描結(jié)果獲取模塊，用于根據(jù)所述軸位PDWI圖像和所述冠狀位PDWI圖像進(jìn)行薄層斜矢狀位PDWI掃描，得到掃描結(jié)果。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的磁共振掃描裝置，其特征在于，所述標(biāo)準(zhǔn)軸位掃描模塊，包括：

定位數(shù)據(jù)獲取單元，用于將所述膝關(guān)節(jié)標(biāo)準(zhǔn)軸位作為定位數(shù)據(jù)；

第一掃描單元，用于根據(jù)所述定位數(shù)據(jù)和掃描參數(shù)進(jìn)行質(zhì)子密度加權(quán)像掃描處理，得到所述膝關(guān)節(jié)軸位PDWI圖像；其中，所述掃描參數(shù)包括層厚為5.5mm和層間距為1.7mm。

7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的磁共振掃描裝置，其特征在于，所述矢狀位和冠狀位掃描模塊，包括：

定位圖獲取單元，用于將所述膝關(guān)節(jié)軸位PDWI圖像作為掃描定位圖；

第一掃描參數(shù)設(shè)置單元，用于將掃描參數(shù)的層厚設(shè)置為5mm，將掃描參數(shù)的層間距設(shè)置為0.5mm；

第二掃描單元，用于根據(jù)所述掃描定位圖和所述掃描參數(shù)執(zhí)行膝關(guān)節(jié)標(biāo)準(zhǔn)矢狀位掃描和冠狀位掃描，得到所述矢狀位PDWI圖像和所述冠狀位PDWI圖像。

8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的磁共振掃描裝置，其特征在于，所述掃描結(jié)果獲取模塊，包括：

第二掃描參數(shù)設(shè)置單元，用于將掃描參數(shù)的層厚設(shè)置為2.3mm，將掃描參數(shù)的層間距設(shè)置為0mm；

第三掃描單元，用于根據(jù)所述掃描參數(shù)、所述軸位PDWI圖像以及所述冠狀位PDWI圖像進(jìn)行薄層斜矢狀位PDWI掃描，得到掃描結(jié)果。

9.一種計(jì)算設(shè)備，其特征在于，包括：

存儲(chǔ)器，用于存儲(chǔ)計(jì)算機(jī)程序；

處理器，用于執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至4任一項(xiàng)所述的磁共振掃描方法的步驟。

10.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至4任一項(xiàng)所述的磁共振掃描方法的步驟。