[發明專利]一種測量系統及測量方法

在審

• 申請號: 202011301743.4
• 申請日: 2020-11-19
• 公開（公告）號: CN112556585A
• 公開（公告）日: 2021-03-26
• 發明（設計）人: 陳魯;白園園;馬硯忠
• 申請（專利權）人: 深圳中科飛測科技股份有限公司
• 主分類號: G01B11/06
• 分類號: G01B11/06
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 趙曉榮

1.一種測量系統，其特征在于，包括：

光纖激光器、第一光纖分束器、時間延遲器和探測器；

其中，所述光纖激光器用于產生脈沖光束；

所述第一光纖分束器用于將所述脈沖光束分為泵浦光和探測光；

所述時間延遲器用于使所述泵浦光和所述探測光之間的延遲時間可調；所述探測光和由所述時間延遲器出射的泵浦光入射至待測物；或者，所述泵浦光和由所述時間延遲器出射的探測光入射至所述待測物；所述泵浦光用于在所述待測物中形成聲波；

所述探測器用于獲取多個不同延遲時間下所述探測光經待測物反射形成的信號光，并根據所述信號光獲取探測信息。

2.根據權利要求1所述的測量系統，其特征在于，所述時間延遲器為光纖型時間延遲器或非光纖型時間延遲器。

3.根據權利要求2所述的測量系統，其特征在于，當所述時間延遲器具體為所述非光纖型時間延遲器時，所述非光纖型時間延遲器包括：線性平臺和反射組件；

所述線性平臺承載所述反射組件并帶動所述反射組件沿著第一方向或第二方向移動，所述第一方向與所述第二方向相反；

當所述反射組件沿著所述第一方向移動時，所述探測光相對于所述泵浦光的延遲時間線性減小；當所述反射組件沿著所述第二方向移動時，所述探測光相對于所述泵浦光的延遲時間線性增大。

4.根據權利要求3所述的測量系統，其特征在于，所述反射組件包括第一反射面和第二反射面，所述第一反射面和所述第二反射面之間具有非零夾角；所述探測光或所述泵浦光入射至所述第一反射面，并自所述第一反射面反射后到達所述第二反射面，并經所述第二反射面出射。

5.根據權利要求3所述的測量系統，其特征在于，所述非光纖型時間延遲器具體包括相對設置的第一反射組件和第二反射組件；其中，所述第一反射組件固定不動，所述第二反射組件在所述線性平臺的帶動下可沿所述第一方向和所述第二方向移動；

所述探測光或所述泵浦光用于在所述第一反射組件的反射面和所述第二反射組件的反射面之間反射；所述探測光或所述泵浦光從所述第一反射組件和所述第二反射組件之中的一個反射組件入射并從另一個反射組件出射。

6.根據權利要求2-5任一項所述的測量系統，其特征在于，當所述時間延遲器具體為所述非光纖型時間延遲器時，所述系統還包括：第一光纖準直器，所述第一光纖準直器設置在所述第一光纖分束器的任一輸出端口與所述非光纖型時間延遲器之間；

所述第一光纖準直器，用于將所述第一光纖分束器分出的所述泵浦光準直為平行光后提供給所述非光纖型時間延遲器，或者，用于將所述第一光纖分束器分出的所述探測光平行后提供給所述非光纖型時間延遲器。

7.根據權利要求6所述的測量系統，其特征在于，還包括：位于所述非光纖型時間延遲器與所述待測物之間的第二光纖準直器、第三光纖準直器和第一組透鏡，所述第二光纖準直器與所述第三光纖準直器之間通過光纖連接；由所述時間延遲器出射的泵浦光或探測光經過所述第二光纖準直器進入光纖，由光纖傳輸至所述第三光纖準直器；

所述第三光纖準直器用于將所連接的光纖傳輸的探測光準直為平行光；

所述第一組透鏡用于將所述第三光纖準直器出射的平行光會聚至所述待測物的表面上。

8.根據權利要求1-5、7中任一項所述的測量系統，其特征在于，還包括：時間差分系統；所述時間差分系統設置在所述泵浦光的傳輸光路上；

所述時間差分系統，用于對所述泵浦光進行時間差分處理得到兩個相互具有固定延時的泵浦光脈沖序列，并對所述兩個相互具有固定延時的泵浦光脈沖序列進行合成，得到合成后的泵浦光。