[發明專利]離散激光測量系統光軸外化方法和集成調試方法

有效

• 申請號: 202011301680.2
• 申請日: 2020-11-19
• 公開（公告）號: CN112433385B
• 公開（公告）日: 2021-10-15
• 發明（設計）人: 達爭尚;鄭小霞;李紅光;高立民;孫策
• 申請（專利權）人: 中國科學院西安光學精密機械研究所
• 主分類號: G02B27/62
• 分類號: G02B27/62;G02B27/00
• 代理公司: 西安智邦專利商標代理有限公司 61211
• 代理人: 王凱敏

1.離散激光測量系統光軸外化方法，其特征在于，包括以下步驟：

步驟1，設計并加工用于裝調離散激光測量系統的裝調平臺；

所述裝調平臺上設置有s行h列的定位安裝孔；相鄰兩行、相鄰兩列的間距均為基準間距A的整數倍；s、h的取值應使得定位安裝孔2的數目能夠滿足后續步驟2中標記連線出與激光測量系統光學光軸一致的孔位線的需求；

所述的裝調平臺由多個間隔、離散設置的獨立平臺組成，相鄰兩個獨立平臺之間的間距為所述基準間距A的整數倍；

每個獨立平臺上設置有m行n列的定位安裝孔；m≥2；n≥2；不同獨立平臺上設置的定位安裝孔的行、列數目不相等；在X和Y向上，各獨立平臺的定位安裝孔的孔位是對齊的；X向為獨立平臺表面所在XOY平面的橫向，Y向為獨立平臺表面所在XOY平面的縱向；

所述基準間距A≥25mm，

步驟2，將待裝調的離散激光測量系統的光學光軸引出至所述裝調平臺上；

通過光學設計仿真軟件，獲取離散激光測量系統的光學光軸，根據該光學光軸，在所述裝調平臺上選取相應的多個定位安裝孔并連線，得到與該光學光軸一致的孔位線，該孔位線即可作為待裝調的離散激光測量系統的裝調基準。

2.根據權利要求1所述的離散激光測量系統光軸外化方法，其特征在于：步驟1中所述的每個獨立平臺上的定位安裝孔是均布設置的。

3.根據權利要求1所述的離散激光測量系統光軸外化方法，其特征在于：步驟1中所述裝調平臺上的定位安裝孔是均布設置的。

4.離散激光測量系統集成調試方法，其特征在于，包括以下步驟：

步驟1，采用權利要求1-3任一所述的光軸外化方法，將待裝調的離散激光測量系統的光學光軸引至裝調平臺上，在裝調平臺上標記出與光學光軸一致的孔位線；

步驟2，安裝調試各光學元件

將待裝調的離散激光測量系統中各光學元件安裝在其相應的結構件上，然后將各光學元件及其結構件整體定位安裝在所述孔位線上相應位置處，并調整使得各結構件的中心軸線與所述孔位線重合，然后在所述孔位線上調整各結構件的距離使得各光學元件之間的距離滿足光學設計要求。

5.根據權利要求4所述的離散激光測量系統集成調試方法，其特征在于：若用于定位安裝光學元件的結構件的中心軸線與光學元件的光軸不重合，則在步驟2之前還需要重新設計該光學元件的結構件，使得其中心軸線與光學元件的光軸重合。