[發明專利]一種場發射顯示像素單元在審
| 申請號: | 202011301648.4 | 申請日: | 2020-11-19 |
| 公開(公告)號: | CN112509895A | 公開(公告)日: | 2021-03-16 |
| 發明(設計)人: | 趙發展;卜建輝;羅家俊;韓鄭生;曹碩 | 申請(專利權)人: | 中國科學院微電子研究所 |
| 主分類號: | H01J29/48 | 分類號: | H01J29/48;H01J31/12 |
| 代理公司: | 北京華沛德權律師事務所 11302 | 代理人: | 房德權 |
| 地址: | 100029 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 發射 顯示 像素 單元 | ||
本發明屬于顯示技術領域,公開了一種場發射顯示像素單元,包括:柵電極、電子收集電極、發射尖、驅動電路以及恒流源電路;所述柵電極為圓環形電極,且所述柵電極與所述驅動電路相連;所述電子收集電極與所述恒流源電路相連;其中,所述發射尖布置在所述柵電極的內圈下方,所述電子收集電極位于所述柵電極上方。本發明提供的場發射顯示像素單元能夠實現像素亮度的均勻性。
技術領域
本發明涉及顯示技術領域,特別涉及一種場發射顯示像素單元。
背景技術
場發射顯示單元由于場發射的均勻性缺陷導致在大規模使用時會出現亮度不均勻的問題,因此在大屏應用以及壽命上都存在問題。其中,主要是由于工藝引起的柵電極和電子發射尖間距的不一致性導致的場發射效率不一致,最終表現為像素亮度的不一致。
發明內容
本發明提供一種場發射顯示像素單元,解決現有技術中像素單元亮度不均勻的技術問題。
為解決上述技術問題,本發明提供了一種場發射顯示像素單元,包括:柵電極、電子收集電極、發射尖、驅動電路以及恒流源電路;
所述柵電極為圓環形電極,且所述柵電極與所述驅動電路相連;
所述電子收集電極與所述恒流源電路相連;
其中,所述發射尖布置在所述柵電極的內圈下方,所述電子收集電極位于所述柵電極上方。
進一步地,所述驅動電路和所述恒流源電路布置在所述發射尖和所述電子收集電極之間的發射角的陰影內。
進一步地,所述驅動電路與所述恒流源電路通過STI隔離工藝隔開。
進一步地,所述驅動電路連接有驅動電路電源。
進一步地,所述電子收集電極連接有電子收集電源。
進一步地,所述電子收集電極的頂部設置有蓋板。
進一步地,所述蓋板上設置有熒光層。
進一步地,所述柵電極、所述電子收集電極、所述發射尖、所述驅動電路以及所述恒流源電路在同一工藝流程中完成。
本申請實施例中提供的一個或多個技術方案,至少具有如下技術效果或優點:
本申請實施例中提供的場發射顯示像素單元,基于場發射技術,為柵電極、電子收集電極、發射尖配置驅動電路以及恒流源電路,進行補償;利用驅動電路和恒流源電路來動態感知發射尖的電流,并且根據外部輸入來自動調節發射尖的電流和柵電極的電壓,最終改變柵電極和發射尖的電場,改變發射尖的發射效率,控制發射尖上電子的發射數目,也就是發射尖中流過的電流;利用電流源控制電路控制發射尖中流過的電流可以補償由于工藝中的加工偏差而引起的柵電極與發射尖的距離偏差,從而通過控制發射尖的電流來統一不同像素之間的發射效率,達到像素亮度的均勻性。同時達到保護發射尖由于工藝偏差的影響,避免了某些像素發射率過高導致的發射尖燒毀的現象。
附圖說明
通過閱讀下文優選實施方式的詳細描述,各種其他的優點和益處對于本領域普通技術人員將變得清楚明了。附圖僅用于示出優選實施方式的目的,而并不認為是對本發明的限制。而且在整個附圖中,用相同的參考符號表示相同的部件。在附圖中:
圖1為本發明實施例提供的顯示單元的原理框圖;
圖2為本發明實施例提供的顯示單元的封裝結構示意圖;
圖3為本發明實施例提供的顯示單元的俯視圖;
圖4為本發明實施例提供的電子軌跡示意圖。
具體實施方式
本申請實施例通過提供一種場發射顯示像素單元,解決現有技術中像素單元亮度不均勻的技術問題。
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