[發明專利]芯片測試裝置和芯片測試方法

在審

• 申請號: 202011301399.9
• 申請日: 2020-11-19
• 公開（公告）號: CN112100015A
• 公開（公告）日: 2020-12-18
• 發明（設計）人: 魏斌;成嵩;竇志軍;王棟;徐靖林;金銳
• 申請（專利權）人: 北京智芯微電子科技有限公司;國網信息通信產業集團有限公司
• 主分類號: G06F11/26
• 分類號: G06F11/26;G06F11/36;G01R31/28
• 代理公司: 北京潤平知識產權代理有限公司 11283
• 代理人: 肖冰濱;王曉曉

本發明提供一種芯片測試裝置和一種芯片測試方法，屬于芯片測試領域。所述測試裝置包括：測試設備庫；底層函數庫，封裝有與所述測試設備庫對應的接口函數庫和數據處理函數庫；關鍵字庫，封裝有用于調用的關鍵字；業務應用層，用于存儲、執行和編寫測試功能模塊，所述業務應用層通過所述測試功能模塊調用所述關鍵字庫所形成的測試邏輯，組合和調用所述接口函數庫和所述數據處理函數庫中的算法驅動所述測試設備庫對應的設備產生相應的測試信號，實現對所述芯片的測試。本發明通過測試裝置完成對芯片的自動化測試，加快了芯片的測試開發進度。

技術領域

本發明涉及芯片測試領域，具體地涉及一種芯片測試裝置和一種芯片測試方法。

背景技術

隨著芯片設計與制造技術的日新月異，芯片的復雜度有了很大的提升，芯片樣品測試的工作量急劇增加。傳統的手工測試無法完成大量并發、自動處理測試任務及數據等任務，且重復勞動量大，往往因為人為因素導致漏測。自動化測試可以很好地規范化測試過程，規避人工測試存在的問題，提升測試效率。

現有芯片測試技術，測試工具繁多，自動化工具復用性差，分散的測試工具也造成了測試數據的分散，對工具的操作以及對數據的處理很多還是需要人工參與的，效率低下，造成人力和資源的浪費。

發明內容

本發明實施方式的目的是提供一種芯片測試裝置和一種芯片測試方法，以至少解決上述的芯片中測試工具繁多，自動化工具復用性差的問題。

為了實現上述目的，本發明第一方面提供一種芯片測試裝置，所述測試裝置包括：

測試設備庫，用于產生相應的測試信號；

底層函數庫，封裝有與所述測試設備庫對應的接口函數庫和數據處理函數庫；

關鍵字庫，封裝有用于調用的關鍵字，所述關鍵字與所述接口函數庫和所述數據處理函數庫中的算法一一對應；

業務應用層，用于存儲、執行和編寫測試功能模塊，所述業務應用層通過所述測試功能模塊調用所述關鍵字庫所形成的測試邏輯，組合和調用所述接口函數庫和所述數據處理函數庫中的算法驅動所述測試設備庫對應的設備產生相應的測試信號，實現對所述芯片的測試。

可選的，所述測試功能模塊包括芯片測試規范對應的測試邏輯調用所述關鍵字庫形成的測試用例腳本；

所述業務應用層用于通過運行所述測試用例腳本、調用所述關鍵字對應的數據處理函數庫和接口函數庫中的算法實現對所述芯片的測試。

可選的，所述測試功能模塊包括芯片功能測試模塊、芯片接口協議測試模塊、芯片功耗測試模塊、芯片可靠性測試模塊、測試用例管理及報告生成模塊中的一者或多者。

可選的，所述芯片測試裝置還包括報錯定位模塊；所述報錯定位模塊用于對所述測試功能模塊在執行測試用例腳本過程中出現的異常或者測試出的bug進行定位。

可選的，所述業務應用層用于運行所述測試用例腳本、調用所述關鍵字對應的接口函數庫中的算法，將所述測試信號轉換后作用于所述芯片產生返回值。

可選的，所述關鍵字庫包括圖表生成關鍵字庫；

所述數據處理函數庫包括python數據分析函數庫；所述圖表生成關鍵字庫與所述python數據分析函數庫相對應；所述芯片測試規范對應的測試邏輯包括圖表生成邏輯；

所述測試用例管理及報告生成模塊用于運行所述圖表生成邏輯，調用所述圖表生成關鍵字庫對應的python數據分析函數庫，運用python數據分析函數庫自動處理所述返回值，并生成測試報告。

可選的，所述接口函數庫包括SPI讀寫器驅動庫、示波器驅動庫、MP300驅動庫、高速接口協議分析儀驅動庫、同測設備驅動庫中的一者或多者。