[發(fā)明專利]液晶顯示產(chǎn)品自動光學(xué)測試系統(tǒng)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011293728.X | 申請日: | 2020-11-18 |
| 公開(公告)號: | CN112285961A | 公開(公告)日: | 2021-01-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 王松濱;張海;李靜;陳彬;甘源偉 | 申請(專利權(quán))人: | 中航華東光電有限公司 |
| 主分類號: | G02F1/13 | 分類號: | G02F1/13 |
| 代理公司: | 北京潤平知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11283 | 代理人: | 董杰 |
| 地址: | 241000*** | 國省代碼: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 液晶顯示 產(chǎn)品 自動 光學(xué) 測試 系統(tǒng) | ||
本發(fā)明公開了一種液晶顯示產(chǎn)品自動光學(xué)測試系統(tǒng),包括產(chǎn)品識別模塊、產(chǎn)品供電模塊、信號控制模塊、光學(xué)分析模塊、運動機構(gòu)控制模塊、通訊模塊、電學(xué)測試模塊、數(shù)據(jù)庫記錄模塊、檢驗報告生成模塊和主機控制模塊。該液晶顯示產(chǎn)品自動光學(xué)測試系統(tǒng)精度、準(zhǔn)確度高,克服了檢測人員對機載顯示產(chǎn)品手動操控不精準(zhǔn),數(shù)據(jù)分析容易出錯的問題;自動化程度高,實現(xiàn)了對液晶顯示器產(chǎn)品全自動控制檢測工作,可完全替代人工開展產(chǎn)品的測試評估工作。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及液晶顯示技術(shù)領(lǐng)域,具體地,涉及一種液晶顯示產(chǎn)品自動光學(xué)測試系統(tǒng)。
背景技術(shù)
隨著機載特種液晶顯示的快速發(fā)展,進口光學(xué)測試系統(tǒng)自動化程度低,成本高,與機載顯示產(chǎn)品之間的測試同步性差;檢測人員干預(yù)度高,進口設(shè)備使用對測試人員的專業(yè)性要求較高。
為了滿足工業(yè)化發(fā)展進度,提升應(yīng)對的檢測的規(guī)范化,保證測試的準(zhǔn)確性,提高檢驗試驗效率,需要開發(fā)綜合光學(xué)測試系統(tǒng)。
進一步的,在液晶顯示產(chǎn)品的光學(xué)性能檢測過程中,自動控制產(chǎn)品光學(xué)性能檢驗,對實現(xiàn)顯示類產(chǎn)品光學(xué)特性的評估,對光電參數(shù)(亮度、色度、均勻性、視角、對比度、功耗等)的自動記錄,需要建立智能水平較高的自動化光學(xué)測試系統(tǒng)。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種液晶顯示產(chǎn)品自動光學(xué)測試系統(tǒng),該液晶顯示產(chǎn)品自動光學(xué)測試系統(tǒng)精度、準(zhǔn)確度高,克服了檢測人員對機載顯示產(chǎn)品手動操控不精準(zhǔn),數(shù)據(jù)分析容易出錯的問題;自動化程度高,實現(xiàn)了對液晶顯示器產(chǎn)品全自動控制檢測工作,可完全替代人工開展產(chǎn)品的測試評估工作。
為了實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提供了一種液晶顯示產(chǎn)品自動光學(xué)測試系統(tǒng),包括產(chǎn)品識別模塊、產(chǎn)品供電模塊、信號控制模塊、光學(xué)分析模塊、運動機構(gòu)控制模塊、通訊模塊、電學(xué)測試模塊、數(shù)據(jù)庫記錄模塊、檢驗報告生成模塊和主機控制模塊;其中,
產(chǎn)品識別模塊,用于識別出被測產(chǎn)品在產(chǎn)品數(shù)據(jù)庫中的身份及告知主機控制模塊被測產(chǎn)品的基本屬性;
產(chǎn)品供電模塊,用于產(chǎn)生顯示模塊所需的多路供電電源;
信號控制模塊,用于調(diào)用測試信號,驅(qū)動被測產(chǎn)品按測試需求顯示畫面;
光學(xué)分析模塊,用于根據(jù)測試需要裝載不同的光學(xué)分析儀器;
運動機構(gòu)控制模塊,用于實現(xiàn)測試的不同運動形式;
通訊模塊,用于通過通訊接口實時讀取光學(xué)分析儀器和運動機構(gòu)控制模塊的運動位置坐標(biāo);
電學(xué)測試模塊,用于主機依據(jù)測試時機要求,實現(xiàn)電源順序控制;
數(shù)據(jù)庫記錄模塊,用于存放和調(diào)用數(shù)據(jù);
檢驗報告生成模塊,用于依據(jù)產(chǎn)品檢驗標(biāo)準(zhǔn)化報告模板和產(chǎn)品檢驗要求,調(diào)用服務(wù)器產(chǎn)品測試數(shù)據(jù),自動生成檢驗記錄;
主機控制模塊為主控計算機搭載主控測試軟件。
優(yōu)選地,產(chǎn)品識別模塊采用二維碼掃描槍輸入設(shè)備,通過紅外讀取產(chǎn)品表面的二維碼,識別出在產(chǎn)品數(shù)據(jù)庫中的身份及告知測試系統(tǒng)被測產(chǎn)品的基本屬性,包括產(chǎn)品名稱、型號、編號、所在測試位置、通訊協(xié)議、供電方式、測試依據(jù)的文件和測試指標(biāo)。
優(yōu)選地,產(chǎn)品供電模塊支持RS232、RS422、RS485通訊接口控制產(chǎn)品供電,并且,可同時顯示每路電壓及電流,還可實時監(jiān)控被測試產(chǎn)品電壓、電流并通過串口回傳主機控制模塊。
優(yōu)選地,信號控制模塊包括串口通訊視頻信號發(fā)生器,按國軍標(biāo)要求的測試信號預(yù)先編繹好保持至EEROM中,可以通過串口實現(xiàn)對測試信號調(diào)用控制,支持LVDS奇偶信號顯示;并且,使用雙LVDS信號串口通訊卡,通過串口指令調(diào)用存儲器中的測試信號,驅(qū)動被測試產(chǎn)品按測試需求顯示相關(guān)畫面。
優(yōu)選地,光學(xué)分析模塊中可搭載以下一種或者多種光學(xué)分析儀器:
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G02F 用于控制光的強度、顏色、相位、偏振或方向的器件或裝置,例如轉(zhuǎn)換、選通、調(diào)制或解調(diào),上述器件或裝置的光學(xué)操作是通過改變器件或裝置的介質(zhì)的光學(xué)性質(zhì)來修改的;用于上述操作的技術(shù)或工藝;變頻;非線性光學(xué);光學(xué)
G02F1-00 控制來自獨立光源的光的強度、顏色、相位、偏振或方向的器件或裝置,例如,轉(zhuǎn)換、選通或調(diào)制;非線性光學(xué)
G02F1-01 .對強度、相位、偏振或顏色的控制
G02F1-29 .用于光束的位置或方向的控制,即偏轉(zhuǎn)
G02F1-35 .非線性光學(xué)
G02F1-355 ..以所用材料為特征的
G02F1-365 ..在光波導(dǎo)結(jié)構(gòu)中的





