[發(fā)明專利]850nm波段吸收區(qū)部分耗盡光電探測器及其制備方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011291398.0 | 申請日: | 2020-11-18 |
| 公開(公告)號: | CN112420859B | 公開(公告)日: | 2022-05-13 |
| 發(fā)明(設計)人: | 陳佰樂;謝治陽 | 申請(專利權(quán))人: | 上海科技大學 |
| 主分類號: | H01L31/0304 | 分類號: | H01L31/0304;H01L31/105;H01L31/18 |
| 代理公司: | 上海申匯專利代理有限公司 31001 | 代理人: | 徐俊 |
| 地址: | 201210 上*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 850 nm 波段 吸收 部分 耗盡 光電 探測器 及其 制備 方法 | ||
本發(fā)明公開了一種850nm波段吸收區(qū)部分耗盡光電探測器及其制備方法。所述光電探測器包括半導體主體、陰極、陽極、鈍化薄膜、且該兩個金屬電極的表面與共面波導電極連接;半導體主體的結(jié)構(gòu)包括依次復合的半絕緣GaAs襯底、緩沖層、陰極接觸層、過渡層、耗盡GaAs吸收層、非耗盡GaAs吸收層、覆蓋層、陽極接觸層。制備方法為:在半絕緣GaAs襯底上依次生長出陰極接觸層緩沖層、陰極接觸層、過渡層等制得半導體主體;制備環(huán)形陽極、第一層臺階、陰極、第二臺階、鈍化薄膜、共面波導電極。本發(fā)明可以工作于850nm波段,具有低暗電流、高響應度、高響應帶寬的特點,能夠滿足850nm波段短距離光互聯(lián)系統(tǒng)的需求。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種半導體光電探測器,具體涉及一種工作于850nm波段的基于GaAs/AlGaAs的吸收區(qū)部分耗盡光電探測器,屬于光電探測器技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)
在一些例如藥物研發(fā)、環(huán)境氣候變化模擬等領(lǐng)域的高性能計算系統(tǒng)中,對系統(tǒng)的數(shù)據(jù)傳輸速度具有很高的帶寬需求。在這種短距離數(shù)據(jù)傳輸系統(tǒng)中,相較于傳統(tǒng)的電互聯(lián),使用光互連的方式在能耗比、成本以及可靠性中更能體現(xiàn)出優(yōu)勢。現(xiàn)今的短距離光互聯(lián)系統(tǒng)主要由工作在850nm波段的垂直腔面發(fā)射激光器(Vertical Cavity Surface EmittingLaser,VCSEL),多模光纖(Multi-Mode Fiber,MMF)和光電探測器構(gòu)成,對光電探測器的性能要求主要包括高響應度,低噪聲,以及高頻率響應帶寬等。目前的850nm PIN探測器通常需要高響應度和高帶寬之間做取舍,無法兩者兼顧。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是:現(xiàn)有光電探測器無法同時滿足短距離光互聯(lián)系統(tǒng)對光電探測器的性能主要要求,主要包括高響應度,低噪聲,以及高頻率響應帶寬。
為了解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明提供了一種850nm波段吸收區(qū)部分耗盡光電探測器,其特征在于,包括半導體主體,半導體主體包括半絕緣GaAs襯底,半絕緣GaAs襯底上依次設有緩沖層、陰極接觸層、過渡層、耗盡GaAs吸收層、非耗盡GaAs吸收層、覆蓋層、陽極接觸層,陰極接觸層和過渡層構(gòu)成第二臺階,過渡層、耗盡GaAs吸收層、非耗盡GaAs吸收層、覆蓋層和陽極接觸層構(gòu)成第一臺階,第一臺階上設有陽極,第二臺階上設有陰極,陽極、陰極向同一側(cè)的半絕緣GaAs襯底延伸,陽極的延伸部分及其兩側(cè)的陰極的延伸部分與半絕緣GaAs襯底上的鍍金層構(gòu)成共面波導電極;第一臺階、第二臺階、半絕緣GaAs襯底的表面設有兩層鈍化薄膜。
優(yōu)選地,所述的耗盡GaAs吸收層、非耗盡GaAs吸收層用于吸收波長在850nm波段的光子;所述的陰極接觸層、過渡層和覆蓋層對波長在850nm波段的光子透明,陰極接觸層用于使半導體主體與陰極之間形成歐姆接觸,陽極接觸層用于使半導體主體與陽極之間形成歐姆接觸,鈍化薄膜用于減少表面漏電流,并增加光電探測器對波長在850nm波段的光子的透射率。
優(yōu)選地,所述陰極接觸層采用n型重摻雜的AlGaAs材料;陽極接觸層采用p型重摻雜的GaAs材料。
優(yōu)選地,所述陰極過渡層、覆蓋層分別采用本征和p型重摻雜的AlGaAs材料。
優(yōu)選地,所述非耗盡GaAs吸收層由多個成階梯狀摻雜濃度的p型摻雜的GaAs層構(gòu)成;所述耗盡GaAs吸收層采用的本征的GaAs材料。
優(yōu)選地,所述緩沖層采用本征的GaAs材料。
本發(fā)明還提供了上述850nm波段吸收區(qū)部分耗盡光電探測器的制備方法,其特征在于,包括以下步驟:
步驟1):利用金屬有機化學氣相沉積方法在半絕緣GaAs襯底上依次生長出緩沖層、陰極接觸層、過渡層、耗盡GaAs吸收層、非耗盡GaAs吸收層、覆蓋層、陽極接觸層;
步驟2):利用電子束蒸發(fā)技術(shù)在陽極接觸層表面依次蒸鍍鈦、鉑、金,構(gòu)成環(huán)形陽極,并用快速退火爐進行退火;
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