[發明專利]安全芯片SPI接口測試方法、裝置及系統

有效

• 申請號: 202011290441.1
• 申請日: 2020-11-18
• 公開（公告）號: CN112100013B
• 公開（公告）日: 2021-09-21
• 發明（設計）人: 王棟;魏斌;成嵩;胡曉波;竇志軍;徐靖林
• 申請（專利權）人: 北京智芯微電子科技有限公司;國網信息通信產業集團有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 北京潤平知識產權代理有限公司 11283
• 代理人: 肖冰濱;王曉曉

1.一種安全芯片SPI接口測試方法，所述安全芯片的SPI接口與測試設備的對應接口相連，其特征在于，所述測試方法包括：

接收輸入的第一測試指令，所述第一測試指令包括打開函數、收發函數或關閉函數；

通過API函數庫解析所述第一測試指令，生成所述測試設備能夠執行的且與所述第一測試指令功能對應的第二測試指令；

獲取所述測試設備響應于所述第二測試指令，對所述SPI接口進行操作并返回的操作結果；

基于所述操作結果確定所述安全芯片的SPI接口是否正常；

所述打開函數的輸入參數包括：測試設備的設備名稱和設備索引，輸出參數包括設備句柄，所述打開函數對應的第二測試指令為：與所述設備名稱和\或設備索引對應的測試設備的打開API函數；

所述收發函數的輸入參數包括：設備句柄、交互命令、SPI通信模式、通信速率、通信速率分頻值以及測試信息輸出控制布爾值，輸出參數包括所述安全芯片的響應結果，所述收發函數對應的第二測試指令為：以所述SPI通信模式、所述通信速率和所述通信速率分頻值，向所述設備句柄對應的測試設備發送所述交互命令；

所述關閉函數的輸入參數包括設備句柄，無輸出參數；所述關閉函數對應的第二測試指令為：與所述設備句柄對應的測試設備的關閉API函數；

所述API函數庫包括：

調用接口，用于提供所述打開函數、所述收發函數和所述關閉函數供外部調用，以此獲取所述第一測試指令；

API函數集合，包括多種不同類型的測試設備能夠執行的API函數的集合；以及

對應關系，所述對應關系為所述第一測試指令與API函數之間的對應關系；

所述通過API函數庫解析所述第一測試指令，生成所述測試設備能夠執行的且與所述第一測試指令功能對應的第二測試指令，包括：

基于所述對應關系、第一測試指令的功能和第一測試指令的輸入參數，從所述API函數集合中匹配確定對應的API函數；

基于所述第一測試指令的輸入參數確定所述對應的API函數中的參數；

將確定參數后的所述對應的API函數作為所述第二測試指令。

2.根據權利要求1所述的測試方法，其特征在于，

所述打開函數用于建立與所述安全芯片的SPI通信連接；

所述收發函數用于在所述SPI通信連接已建立后，傳遞與所述安全芯片的交互信息；

所述關閉函數用于斷開與所述安全芯片的所述SPI通信連接。

3.根據權利要求1至2中任一項權利要求所述的測試方法，其特征在于，所述測試方法還包括：將測試過程中的測試設備響應于所述第二測試指令的操作結果輸出至同一預設文件中。

4.一種安全芯片SPI接口測試裝置，其特征在于，包括：

至少一個處理器；

存儲器，與所述至少一個處理器連接；

其中，所述存儲器存儲有能被所述至少一個處理器執行的指令，所述至少一個處理器通過執行所述存儲器存儲的指令實現權利要求1至3中任一項權利要求所述的安全芯片SPI接口測試方法。

5.一種安全芯片SPI接口測試系統，其特征在于，包括：

權利要求4所述的安全芯片SPI接口測試裝置；以及

與所述測試裝置相連的測試設備，所述測試設備提供與安全芯片的SPI接口相連的對應接口，并接收所述測試裝置的測試指令。