[發(fā)明專利]接地測試棒及接地阻抗測試儀

在審

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• 申請日: 2020-11-16
• 公開（公告）號: CN112327058A
• 公開（公告）日: 2021-02-05
• 發(fā)明（設計）人: 李欣
• 申請（專利權）人: 廈門大恒科技有限公司
• 主分類號: G01R27/20
• 分類號: G01R27/20
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 孫海杰

本發(fā)明涉及接地阻抗測設領域，具體而言，涉及一種接地測試棒及接地阻抗測試儀。接地測試棒包括剛性桿和多個導電件，多個所述導電件均安裝在所述剛性桿上，多個所述導電件沿所述剛性桿的長度方向間隔排布且相互絕緣，多個所述導電件能夠分別通過多根導線與測試儀本體電連接。接地阻抗測試儀包括上述接地測試棒。本發(fā)明提供的接地測試棒及接地阻抗測試儀，能夠對不同深度的阻抗進行測試，進而，可對測得的不同深度的阻抗進行對比，確定接地體埋入地下的最優(yōu)深度，該最優(yōu)深度可選為測得的最小阻抗對應的導電件在測試時所處的深度。

技術領域

本發(fā)明涉及接地阻抗測設領域，具體而言，涉及一種接地測試棒及接地阻抗測試儀。

背景技術

接地阻抗測試儀是用來測試接地阻抗的設備，主要由測試棒和測試儀主體組成，其中，測試棒用于打入地下，并利用導線將測試棒與測試儀主體相連，以利用測試儀主體為測試棒提供電流，以獲取接地阻抗。

當接地體埋在不同深度時，呈現(xiàn)出的阻抗不同，然而，現(xiàn)有的接地阻抗測試儀的測試棒均為一根鐵棒，無法對不同深度的阻抗進行測試。

綜上，如何克服現(xiàn)有的接地阻抗測試儀的測試棒的上述缺陷是本領域技術人員亟待解決的技術問題。

發(fā)明內容

本發(fā)明的目的在于提供一種接地測試棒及接地阻抗測試儀，以緩解現(xiàn)有技術中的接地阻抗測試儀的測試棒存在的無法對不同深度的阻抗進行測試的技術問題。

本發(fā)明提供的接地測試棒，包括剛性桿和多個導電件，多個所述導電件均安裝在所述剛性桿上，多個所述導電件沿所述剛性桿的長度方向間隔排布且相互絕緣，多個所述導電件能夠分別通過多根導線與測試儀本體電連接。

優(yōu)選地，作為一種可實施方式，所述接地測試棒還包括絕緣支架，多個所述導電件均通過所述絕緣支架安裝在所述剛性桿上。

優(yōu)選地，作為一種可實施方式，所述絕緣支架為筒狀結構，且所述絕緣支架套設在所述剛性桿上，所述剛性桿的靠近入地端的部位具有凸臺，所述凸臺用于阻擋所述絕緣支架，所述導電件套裝在所述絕緣支架的外圍。

優(yōu)選地，作為一種可實施方式，所述絕緣支架包括第一筒體部和第二筒體部，且所述第一筒體部和所述第二筒體部沿所述剛性桿的長度方向交替設置。

所述導電件為筒狀結構，所述導電件套在所述第一筒體部外，且所述導電件的端面與所述第二筒體部的端面抵接。

優(yōu)選地，作為一種可實施方式，所述剛性桿包括管體，所述管體的入地端連接有引導頭，所述引導頭封在所述管體的端部，所述管體和所述第一筒體部上均開設有供所述導線穿過的通道。

優(yōu)選地，作為一種可實施方式，所述引導頭呈錐形，所述引導頭的錐頂為入地端，所述引導頭的錐底形成所述凸臺；

和/或，相鄰的兩個所述絕緣支架粘接，且最靠近所述引導頭的所述絕緣支架與所述引導頭粘接；

和/或，所述管體與所述導線之間的縫隙內具有絕緣填充物。

優(yōu)選地，作為一種可實施方式，所述管體上開設有貫通所述管體的兩端的第一開槽，所述第一筒體部的內側具有凸筋，所述第一開槽與所述凸筋配合，用于限制所述第一筒體部的周向轉動。

優(yōu)選地，作為一種可實施方式，所述凸筋上開設有第二開槽，所述第二開槽貫通所述凸筋的背離所述第二筒體部的一端。

優(yōu)選地，作為一種可實施方式，所述剛性桿的材質為金屬，和/或，所述導電件的材質為金屬，和/或，所述絕緣支架的材質為陶瓷。

相應地，本發(fā)明還提供了一種接地電阻測試儀，包括上述接地測試棒。

本發(fā)明提供的接地測試棒及接地阻抗測試儀的有益效果是：