[發(fā)明專利]一種可調(diào)節(jié)的GIS局部放電綜合缺陷模擬裝置

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202011273587.5
• 申請日: 2020-11-14
• 公開（公告）號: CN112415344A
• 公開（公告）日: 2021-02-26
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 徐惠;劉正陽;陳佳;羅傳仙;程林;楊旭;劉夢娜;羅子秋;江翼
• 申請（專利權(quán)）人: 國網(wǎng)電力科學(xué)研究院武漢南瑞有限責(zé)任公司;國網(wǎng)電力科學(xué)研究院有限公司
• 主分類號: G01R31/12
• 分類號: G01R31/12
• 代理公司: 武漢開元知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 42104
• 代理人: 潘杰

1.一種可調(diào)節(jié)的GIS局部放電綜合缺陷模擬裝置，其特征在于：所述裝置包括GIS試驗(yàn)段、導(dǎo)體尖刺放電模擬模塊、氣隙放電模擬模塊、金屬顆粒放電模擬模塊、懸浮電極模擬模塊以及供電模塊和測量模塊，所述GIS試驗(yàn)段為帶觀察視窗的試驗(yàn)對象，所述導(dǎo)體尖刺放電模擬模塊、氣隙放電模擬模塊、金屬顆粒放電模擬模塊、懸浮電極模擬模塊內(nèi)置于GIS試驗(yàn)段中，用于給GIS試驗(yàn)段提供模擬可調(diào)節(jié)的導(dǎo)體尖刺放電、氣隙放電、金屬顆粒放電和懸浮電極放電缺陷，所述缺陷可單獨(dú)施加也可相互組合施加，所述供電模塊用于在GIS試驗(yàn)段兩端施加所需電壓及電流，所述測量模塊用于測量GIS試驗(yàn)段局部放電波形。

2.如權(quán)利要求1所述的可調(diào)節(jié)的GIS局部放電綜合缺陷模擬裝置，其特征在于：所述導(dǎo)體尖刺放電模擬模塊包括針—板放電間隙和針板間隙調(diào)節(jié)器；所述氣隙放電模擬模塊包括板—板放電間隙和板板間隙調(diào)節(jié)器；所述金屬顆粒放電模擬模塊包括金屬顆粒模擬器和金屬顆粒調(diào)節(jié)器；所述懸浮電極模擬模塊包括懸浮電極模擬器和懸浮電極調(diào)節(jié)器。

3.如權(quán)利要求2所述的可調(diào)節(jié)的GIS局部放電綜合缺陷模擬裝置，其特征在于：所述針—板放電間隙用于模擬導(dǎo)體尖刺放電，所述針板間隙調(diào)節(jié)器用于調(diào)節(jié)針與板的距離，決定是否施加導(dǎo)體尖刺放電缺陷并實(shí)現(xiàn)導(dǎo)體尖刺放電缺陷嚴(yán)重程度的調(diào)節(jié)；所述板—板放電間隙用于模擬氣隙放電缺陷，所述板板間隙調(diào)節(jié)器用于調(diào)節(jié)板與板的距離，決定是否施加氣隙放電缺陷并實(shí)現(xiàn)導(dǎo)體氣隙放電缺陷嚴(yán)重程度的調(diào)節(jié)；所述金屬顆粒模擬器用于模擬金屬顆粒缺陷，所述金屬顆粒調(diào)節(jié)器用于調(diào)節(jié)金屬顆粒在GIS殼體內(nèi)的位置，決定是否施加金屬顆粒缺陷并實(shí)現(xiàn)金屬顆粒缺陷嚴(yán)重程度的調(diào)節(jié)；所述懸浮電極模擬器用于模擬懸浮電極缺陷，懸浮電極調(diào)節(jié)器用于調(diào)節(jié)懸浮電極在GIS殼體內(nèi)的位置，決定是否施加懸浮電極缺陷并實(shí)現(xiàn)懸浮電極缺陷嚴(yán)重程度的調(diào)節(jié)。