[發明專利]拼接顯示裝置的校正方法、裝置、存儲介質及電子裝置

在審

• 申請號: 202011273380.8
• 申請日: 2020-11-13
• 公開（公告）號: CN112967644A
• 公開（公告）日: 2021-06-15
• 發明（設計）人: 齊二龍;周滿城
• 申請（專利權）人: 重慶康佳光電技術研究院有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00;G09G3/32
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 黃海英

1.一種拼接顯示裝置的校正方法，其特征在于，包括：

將備用顯示模塊與各個子顯示模塊進行拼接以形成第一拼接顯示裝置，采集所述第一拼接顯示裝置中所述備用顯示模塊的備用顯示參數；

將各個所述子顯示模塊進行拼接以形成第二拼接顯示裝置，采集所述第二拼接顯示裝置中各個所述子顯示模塊的第二子顯示參數；

對所述第二拼接顯示裝置進行檢測，若出現顯示異常，確定異常顯示模塊以及與所述異常顯示模塊對應的異常子顯示參數；

將所述第二拼接顯示裝置的所述異常顯示模塊替換為所述備用顯示模塊以形成第三拼接顯示裝置；

根據所述備用顯示參數、所述第二子顯示參數以及所述異常子顯示參數對所述第三拼接顯示裝置進行校正。

2.根據權利要求1所述的拼接顯示裝置的校正方法，其特征在于，采集所述第一拼接顯示裝置中所述備用顯示模塊的備用顯示參數包括：

驅動所述第一拼接顯示裝置，采集所述第一拼接顯示裝置的第一拼接顯示參數；

對所述第一拼接顯示參數進行數據分割，獲得各個子顯示模塊的第一子顯示參數、以及所述備用顯示模塊的備用顯示參數。

3.根據權利要求1所述的拼接顯示裝置的校正方法，其特征在于，采集所述第二拼接顯示裝置中各個所述子顯示模塊的子顯示參數包括：

驅動所述第二拼接顯示裝置，采集所述第二拼接顯示裝置的第二拼接顯示參數；

對所述第二拼接顯示參數進行數據分割，獲得各個子顯示模塊的第二子顯示參數。

4.根據權利要求1所述的拼接顯示裝置的校正方法，其特征在于，確定異常顯示模塊以及與所述異常顯示模塊對應的異常子顯示參數包括：

將各個所述第二子顯示參數與標準參數進行比較得到比較參數，若所述比較參數大于閾值，則確定所述第二子顯示參數對應的子顯示模塊為異常顯示模塊。

5.根據權利要求1所述的拼接顯示裝置的校正方法，其特征在于，根據所述備用顯示參數、所述第二子顯示參數以及所述異常子顯示參數對所述第三拼接顯示裝置進行校正包括：

將所述備用顯示模塊的備用顯示參數與所述異常顯示模塊對應的異常子顯示參數進行數據交換；

驅動所述第三拼接顯示裝置，并采集所述第三拼接顯示裝置中的各個顯示模塊的第三子顯示參數，基于所述各個顯示模塊的第三子顯示參數的分布特征確定目標顯示參數；

根據所述目標顯示參數對所述第三拼接顯示裝置進行顯示補償，以實現對所述第三拼接顯示裝置進行校正。

6.根據權利要求5所述的拼接顯示裝置的校正方法，其特征在于，基于所述各個顯示模塊的第三子顯示參數的分布特征確定目標顯示參數包括：

在所述各個顯示模塊的第三子顯示參數中確定滿足預設條件的第三子顯示參數，得到多個第三顯示參數；

獲得所述多個第三顯示參數的平均值，得到所述目標顯示參數。

7.根據權利要求6所述的拼接顯示裝置的校正方法，其特征在于，所述備用顯示參數至少包括以下之一：備用亮度參數、備用色度參數；

所述第二子顯示參數至少包括以下之一：第二子亮度參數、第二子色度參數；

所述異常子顯示參數至少包括以下之一：異常子亮度參數、異常子色度參數；

所述第三子顯示參數至少包括以下之一：第三亮度參數、第三色度參數。

8.根據權利要求7所述的拼接顯示裝置的校正方法，其特征在于，所述目標顯示參數至少包括以下之一：目標亮度參數、目標色度參數，獲得目標顯示參數包括：

對所述第三亮度參數進行排序，取得大于預設亮度參數的所述第三亮度參數的平均亮度參數，以獲得所述目標亮度參數；或者

對所述第三色度參數進行排序，取得大于預設色度參數的所述第三色度參數的平均色度參數，以獲得所述目標色度參數。