[發明專利]一種拆回用電信息采集終端上蓋劃痕檢測修補方法

在審

• 申請號: 202011269418.4
• 申請日: 2020-11-13
• 公開（公告）號: CN112396581A
• 公開（公告）日: 2021-02-23
• 發明（設計）人: 朱逸群;曹國瑞;于學均;滕永興;劉卿;孫淑嫻
• 申請（專利權）人: 國網天津市電力公司營銷服務中心;國網天津市電力公司;國家電網有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T5/00;G06T5/30;G06T5/50;G06T7/136
• 代理公司: 天津盛理知識產權代理有限公司 12209
• 代理人: 王來佳

1.一種拆回用電信息采集終端上蓋劃痕檢測修補方法，其特征在于：包括如下步驟：

步驟一，獲取用電信息采集終端上蓋圖像，經灰度化處理得到灰度圖像I₀；

步驟二，對得到的灰度圖像I₀進行開運算，得到邊緣輪廓更平滑的圖像I₁；

步驟三，采用最大類間方差法，對得到的圖像I₁進行二值化圖像分割，得到圖像I₂；

步驟四，將二值化分割后的圖像I₂與原始灰度圖像I₀進行融合，得到劃痕區域較為突出的圖像I₃；

步驟五，對圖像I₃進行高通濾波，得到邊緣更加清晰的劃痕圖像I₄。

2.根據權利要求1所述的一種拆回用電信息采集終端上蓋劃痕檢測修補方法，其特征在于：所述灰度化處理中，灰度圖像I₀在各像素點上的灰度值Gray的計算公式如下：

Gray＝0.299R+0.587G+0.114B (1)

其中R，G，B三個分量分別為圖像紅、綠、藍三個通道的信息值。

3.根據權利要求1所述的一種拆回用電信息采集終端上蓋劃痕檢測修補方法，其特征在于：所述開運算選取尺寸大小為27像素的矩形算子，包括膨脹運算和腐蝕運算兩步，分別記為和fΘb，用式(2)和(3)來表示：

(fΘb)(x,y)＝min{f(x+x′,y+y′)-b(x′,y′)|(x′,y′)∈D_b} (3)

其中f為原始圖像I₁，b為結構元素，D_b為b的定義域，f(x,y)在f的定義域外分別假設為-∞和+∞。

4.根據權利要求1所述的一種拆回用電信息采集終端上蓋劃痕檢測修補方法，其特征在于：所述二值化圖像分割中所用到的閾值T選取公式如下：

其中m(i)和n(i)分別為灰度級小于i的像素數目和大于等于i的像素數目，v₁(i)和v₂(i)分別為兩者的平均值；閾值T的求取為找到函數w(i)取最大值的位置。

5.根據權利要求1所述的一種拆回用電信息采集終端上蓋劃痕檢測修補方法，其特征在于：所述對圖像I₃進行高通濾波，得到邊緣更加清晰的劃痕圖像I₄的方法為：

先按照式(5)將圖像I₃通過傅里葉變換到頻域空間，得到頻域數值：

其中X和Y為圖像I₃橫向和縱向上的總像素數，f(i,j)為圖像I₃在點(i,j)處的灰度值，再利用理想高通濾波器截斷低頻部分，其傳遞函數為：

其中d₀為截斷頻率，取0.2，d(x,y)為點(x,y)到原點的距離，得到G(x,y)＝F(x,y)×H(x,y)，將G(x,y)按照式(7)進行傅里葉逆變換，得到濾波結果g(i,j)：

該濾波結果g(i,j)為圖像I₄在點(i,j)處的灰度值。