[發明專利]缺陷檢測方法和裝置

在審

• 申請號: 202011268394.0
• 申請日: 2020-11-13
• 公開（公告）號: CN112365477A
• 公開（公告）日: 2021-02-12
• 發明（設計）人: 孫猛猛;紀旭宇;郭寧;韓錦;潘正頤;侯大為
• 申請（專利權）人: 常州微億智造科技有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/181;G06T3/40;G06T7/62;G06F16/56
• 代理公司: 常州佰業騰飛專利代理事務所(普通合伙) 32231
• 代理人: 張勵

1.一種缺陷檢測方法，其特征在于，包括以下步驟：

獲取產品圖像，并將所述產品圖像轉換為矢量圖；

獲取所述矢量圖的位置參數，其中，所述位置參數包括：尺寸、像素和坐標中的一種或多種；

根據所述矢量圖的位置參數對所述矢量圖進行處理，以獲取缺陷輪廓。

2.根據權利要求1所述的缺陷檢測方法，其特征在于，根據所述矢量圖的位置參數對所述矢量圖進行處理，包括：

當所述矢量圖的尺寸小于預設閾值時，將所述矢量圖放大第一預設比例；

當所述矢量圖的尺寸大于或者等于所述預設閾值時，將所述矢量圖縮小第二預設比例。

3.根據權利要求1所述的缺陷檢測方法，其特征在于，根據所述矢量圖的位置參數對所述矢量圖進行處理，包括：

獲取所述矢量圖的邊緣坐標；

判斷所述矢量圖的邊緣坐標是否處于預設范圍內；

如果存在邊緣坐標未處于所述預設范圍內時，獲取該邊緣坐標與所述預設范圍之間的距離；

根據所述距離移動所述矢量圖，以使所述矢量圖完全處于預設范圍內。

4.根據權利要求2或3所述的缺陷檢測方法，其特征在于，在對所述矢量圖進行縮小、放大或者移動時，

采用逐幀動畫的方式對所述矢量圖進行放大、縮小或者移動。

5.根據權利要求4所述的缺陷檢測方法，其特征在于，獲取缺陷輪廓，包括：

采用光標定位方式對處理后的矢量圖中的缺陷進行定位；

獲取光標沿缺陷移動時的坐標；

依次將坐標相連，得到缺陷輪廓。

6.根據權利要求5所述的缺陷檢測方法，其特征在于，在得到缺陷輪廓之后，還包括：

按照對所述矢量圖進行處理的步驟，將得到的缺陷輪廓的坐標進行還原，以得到原始矢量圖中的缺陷坐標。

7.根據權利要求1所述的缺陷檢測方法，其特征在于，將所述產品圖像轉換為矢量圖，包括：

將所述產品圖像轉換為二進制文件流；

將所述二進制文件流轉換為base64的圖像數據；

通過瀏覽器的附加功能將所述base64的圖像數據轉為矢量圖。

8.一種缺陷檢測裝置，其特征在于，包括：

第一獲取模塊，用于獲取產品圖像；

轉換模塊，用于將所述產品圖像轉換為矢量圖；

第二獲取模塊，用于獲取所述矢量圖的位置參數，其中，所述位置參數包括：尺寸、像素和坐標中的一種或多種；

處理模塊，用于根據所述矢量圖的位置參數對所述矢量圖進行處理，以獲取缺陷輪廓。

9.一種計算機設備，包括存儲器、處理器及存儲在存儲器上并可在處理器上運行的計算機程序，其特征在于，所述處理器執行所述程序時，實現根據權利要求1-7中任一項所述的缺陷檢測方法。

10.一種非臨時性計算機可讀存儲介質，其上存儲有計算機程序，其特征在于，該程序被處理器執行時實現根據權利要求1-7中任一項所述的缺陷檢測方法。