[發(fā)明專利]光模塊自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)中的通用配置方法及設(shè)備在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202011268229.5 | 申請(qǐng)日: | 2020-11-13 |
| 公開(公告)號(hào): | CN112526255A | 公開(公告)日: | 2021-03-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 鄭定瑞;李林科;吳天書;楊現(xiàn)文;張健 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 武漢聯(lián)特科技股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/00 | 分類號(hào): | G01R31/00;G01M11/00 |
| 代理公司: | 北京匯澤知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11228 | 代理人: | 秦曼妮 |
| 地址: | 430000 湖北省武漢市東*** | 國(guó)省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 模塊 自動(dòng)化 測(cè)試 系統(tǒng) 中的 通用 配置 方法 設(shè)備 | ||
1.一種光模塊自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)中的通用配置方法,其特征在于,包括:在LabVIEW的Actor Framwork中構(gòu)建頂層的抽象設(shè)備類,中間層的抽象功能設(shè)備類及底層的具體設(shè)備子類;在Actor Framwork的Actor.lvclass中構(gòu)建設(shè)備配置的基類。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光模塊自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)中的通用配置方法,其特征在于,所述頂層的抽象設(shè)備類,包括:設(shè)備的通用屬性及設(shè)備接口。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光模塊自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)中的通用配置方法,其特征在于,所述設(shè)備接口,包括:設(shè)備打開模塊,用于打開設(shè)備;設(shè)備關(guān)閉模塊,用于關(guān)閉設(shè)備;設(shè)備通信連接測(cè)試模塊,用于對(duì)設(shè)備通信連接狀態(tài)進(jìn)行測(cè)試。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光模塊自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)中的通用配置方法,其特征在于,所述中間層的抽象功能設(shè)備類,包括:衰減模塊,用于進(jìn)行信號(hào)衰減;誤碼儀模塊,用于信號(hào)誤碼測(cè)試;示波器模塊,用于檢測(cè)模塊發(fā)射端信號(hào)的性能;功率計(jì)模塊,用于調(diào)用功率計(jì);電源模塊,用于系統(tǒng)供電;開關(guān)模塊,用于定義開關(guān);波長(zhǎng)計(jì)模塊,用于測(cè)量信號(hào)波長(zhǎng);光譜儀模塊,用于檢測(cè)信號(hào)光譜。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光模塊自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)中的通用配置方法,其特征在于,所述設(shè)備的通用屬性,包括:設(shè)備端口。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光模塊自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)中的通用配置方法,其特征在于,所述底層的具體設(shè)備子類,包括:PSS誤碼儀模塊,用于調(diào)用PSS誤碼儀;Golight光功率計(jì)模塊,用于調(diào)用Golight光功率計(jì)。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光模塊自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)中的通用配置方法,其特征在于,所述在Actor Framwork的Actor.lvclass中構(gòu)建設(shè)備配置的基類,包括:在子類中重寫Actor.lvclass中的Actor Core.vi方法。
8.一種光模塊自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)中的通用配置裝置,其特征在于,包括:不同層類構(gòu)建模塊,用于在LabVIEW的Actor Framwork中構(gòu)建頂層的抽象設(shè)備類,中間層的抽象功能設(shè)備類及底層的具體設(shè)備子類;基類構(gòu)建模塊,用于在Actor Framwork的Actor.lvclass中構(gòu)建設(shè)備配置的基類。
9.一種電子設(shè)備,其特征在于,包括:
至少一個(gè)處理器、至少一個(gè)存儲(chǔ)器和通信接口;其中,
所述處理器、存儲(chǔ)器和通信接口相互間進(jìn)行通信;
所述存儲(chǔ)器存儲(chǔ)有可被所述處理器執(zhí)行的程序指令,所述處理器調(diào)用所述程序指令,以執(zhí)行權(quán)利要求1至7任一項(xiàng)權(quán)利要求所述的方法。
10.一種非暫態(tài)計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),其特征在于,所述非暫態(tài)計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)存儲(chǔ)計(jì)算機(jī)指令,所述計(jì)算機(jī)指令使所述計(jì)算機(jī)執(zhí)行權(quán)利要求1至7中任一項(xiàng)權(quán)利要求所述的方法。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 自動(dòng)化設(shè)備和自動(dòng)化系統(tǒng)
- 一種基于流程驅(qū)動(dòng)的測(cè)試自動(dòng)化方法以及測(cè)試自動(dòng)化系統(tǒng)
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