[發(fā)明專利]基于非均勻介質的微動探測方法、裝置、設備及存儲介質

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202011263186.1
• 申請日: 2020-11-12
• 公開（公告）號: CN112558149B
• 公開（公告）日: 2023-04-25
• 發(fā)明（設計）人: 張邦;陳尚勇;劉鐵;劉鐵華;化希瑞;卞友艷;陳應君;劉劍;柳青;李凱;雷理;韋德江;蔡盛;卿志;楊正國
• 申請（專利權）人: 中鐵第四勘察設計院集團有限公司
• 主分類號: G01V1/28
• 分類號: G01V1/28
• 代理公司: 北京派特恩知識產(chǎn)權代理有限公司 11270
• 代理人: 任曉;張穎玲

1.一種基于非均勻介質的微動探測方法，其特征在于，所述方法包括：

獲取非均勻介質模型中的多個模擬檢測點，所述非均勻介質模型中包括至少兩層介質；所述至少兩層介質的速度參數(shù)不同；

確定各模擬檢測點的一維譜比曲線；每個模擬檢測點的一維譜比曲線基于多個不同頻率的微動信號確定；

確定多個不同頻率的微動信號在所述非均勻介質模型中的影響區(qū)域，以及第一微動信號對應的影響區(qū)域內(nèi)的多個目標模擬檢測點；所述第一微動信號為多個微動信號中的任一微動信號；

基于所述多個目標模擬檢測點與第一目標模擬檢測點之間的距離確定對應于各個目標模擬檢測點的加權系數(shù)；所述第一目標模擬檢測點為所述多個目標模擬檢測點中的任一目標模擬檢測點；

基于各個目標模擬檢測點的加權系數(shù)以及各個目標模擬檢測點對應的一維譜比曲線，確定所述第一目標模擬檢測點的綜合譜比曲線。

2.根據(jù)權利要求1所述的方法，其特征在于，所述確定多個不同頻率的微動信號在所述非均勻介質模型中的影響區(qū)域，包括：

根據(jù)所述第一微動信號的頻率、以及所述第一微動信號在所述非均勻介質模型中的覆蓋層的速度參數(shù)，確定所述第一微動信號在所述非均勻介質模型中，以任一模擬檢測點為中心的影響區(qū)域。

3.根據(jù)權利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述多個目標模擬檢測點與第一目標模擬檢測點之間的距離確定對應于各個目標模擬檢測點的加權系數(shù)，包括：

獲取所述多個目標模擬檢測點中的每個目標模擬檢測點與所述第一目標模擬檢測點之間的距離；

基于每個目標模擬檢測點與所述第一目標模擬檢測點之間的距離，依據(jù)預設加權方式，確定各個目標模擬檢測點對應的加權系數(shù)；所述預設加權方式包括線性加權、反向加權、指數(shù)加權或高斯加權。

4.根據(jù)權利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于各個目標模擬檢測點的加權系數(shù)以及各個目標模擬檢測點對應的一維譜比曲線，確定所述第一目標模擬檢測點的綜合譜比曲線，包括：

基于各個目標模擬檢測點的加權系數(shù)以及各個目標模擬檢測點對應的一維譜比曲線，確定所述第一目標模擬檢測點在所述多個不同頻率的微動信號下的多個綜合譜比值；

基于所述多個綜合譜比值，確定所述第一目標模擬檢測點的綜合譜比曲線。

5.根據(jù)權利要求4所述的方法，其特征在于，所述基于各個目標模擬檢測點的加權系數(shù)以及各個目標模擬檢測點對應的一維譜比曲線，確定第一目標模擬檢測點在多個不同頻率的微動信號下的多個綜合譜比值，包括：

分別確定所述多個微動信號中每個微動信號下、各個目標模擬檢測點對應的一維譜比曲線中的譜比值；

基于各個目標模擬檢測點對應的譜比值和各個目標模擬檢測點對應的加權系數(shù)，確定第一目標模擬檢測點在每個微動信號下的綜合譜比值。

6.根據(jù)權利要求1所述的方法，其特征在于，在所述確定所述第一目標模擬檢測點的綜合譜比曲線之后，所述方法還包括：

調整所述至少兩層介質的部分介質層厚度或全部介質層厚度，和/或，調整所述微動信號的信號源深度，以使得調整后得到的所述綜合譜比曲線與預設譜比曲線相擬合；所述預設譜比曲線為在實際地層測得的譜比曲線。