[發明專利]一種用于無損檢測的傳感系統

在審

• 申請號: 202011262703.3
• 申請日: 2020-11-12
• 公開（公告）號: CN112378993A
• 公開（公告）日: 2021-02-19
• 發明（設計）人: 謝躍東;黃璞;李繼堯;孫江濤;徐立軍
• 申請（專利權）人: 北京航空航天大學
• 主分類號: G01N27/90
• 分類號: G01N27/90
• 代理公司: 北京東方盛凡知識產權代理事務所(普通合伙) 11562
• 代理人: 王穎

1.一種用于無損檢測的傳感系統，其特征在于：包括：

螺旋形傳感器模塊、信號激勵模塊、信號放大模塊、濾波模塊、信號分析缺陷檢測模塊；

所述螺旋形傳感器模塊與所述信號激勵模塊、所述信號放大模塊連接；

所述信號激勵模塊與所述螺旋形傳感器模塊、所述濾波模塊連接；

所述信號放大模塊與所述螺旋形傳感器模塊、所述濾波模塊連接；

所述濾波模塊與所述信號激勵模塊、所述信號放大模塊、所述信號分析缺陷檢測模塊連接；

所述信號分析缺陷檢測模塊根據所述濾波模塊傳輸的數據信號進行分析，基于分析結果判定被檢測的目標物是否具有小缺陷。

2.根據權利要求1所述一種用于無損檢測的傳感系統，其特征在于：

所述螺旋形傳感器模塊為線圈型渦流傳感器，由鐵氧體和纏繞在其表面的螺旋形線圈組成。

3.根據權利要求2所述一種用于無損檢測的傳感系統，其特征在于：

所述鐵氧體具有鐵氧體第一端和鐵氧體第二端；

所述鐵氧體第一端為圓柱體，包括，圓柱體高和圓柱體半徑；

所述鐵氧體第二端為圓錐體，包括，圓錐體高；

所述螺旋形線圈，包括，線圈外徑、線圈內徑、線圈高；

所述圓柱體高的調整范圍為1-2mm；

所述圓柱體半徑的調整范圍為1mm；

所述圓錐體高的調整范圍為0.35-0.5mm；

所述線圈內徑的調整范圍為1.35-1.65mm；

所述線圈外徑的調整范圍為1.85-2.15mm；

所述線圈高為的調整范圍1mm-1.5mm。

4.根據權利要求3所述一種用于無損檢測的傳感系統，其特征在于：包括，

所述螺旋形傳感器模塊，還包括提離距離、激勵頻率；

所述提離距離為1-5mm；

所述激勵頻率為50-100kHz。

5.根據權利要求1所述一種用于無損檢測的傳感系統，其特征在于：

所述信號激勵模塊的激勵方式為恒流源激勵，采用電壓控制的恒流源，形成激勵信號，對所述螺旋形傳感器模塊提供一個恒定電流；

將所述恒流源的相位，移位90°后，形成參考信號，用于為所述濾波模塊參考提供所述參考信號；

所述參考信號與所述激勵信號相位差90°。

6.根據權利要求1中所述一種用于無損檢測的傳感系統，其特征在于：

所述信號放大電路模塊，包括，第一儀表放大器芯片、第二儀表放大器芯片，電容，第一電阻、第二電阻、第三電阻、第四電阻、第五電阻、第六電阻；

所述第一電阻和電容組成濾波單元，用于對所述信號放大電路模塊的輸入信號進行高通濾波；

所述第二電阻、第三電阻、第四電阻、第五電阻組成電橋單元，用于調節所述信號放大電路模塊的放大倍數，為所述第二儀表放大器芯片提供兩路差分信號；

所述第六電阻為偏置調節電阻，用于調節所述第一儀表放大器芯片和所述第二儀表放大器芯片進行對稱工作；

所述第一儀表放大器芯片與所述濾波單元、所述電橋單元鏈接；

所述第二儀表放大器芯片與所述電橋單元、所述第六電阻連接；

所述第一儀表放大器芯片、第二儀表放大器芯片為儀表放大器芯片AD620。

7.根據權利要求1中所述一種用于無損檢測的傳感系統，其特征在于：

所述濾波模塊包括相敏檢波模塊、低通濾波模塊；

所述相敏檢波模塊與所述信號放大模塊、所述信號激勵模塊、所述低通濾波模塊連接；

所述低通濾波模塊與所述相敏檢波模塊、所述信號分析缺陷檢測模塊連接。