[發(fā)明專利]刷新測試電路及方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202011260719.0
• 申請日: 2020-11-12
• 公開（公告）號: CN112992254A
• 公開（公告）日: 2021-06-18
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 鄭淦元
• 申請（專利權(quán)）人: 華邦電子股份有限公司
• 主分類號: G11C29/38
• 分類號: G11C29/38;G11C29/20
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11205
• 代理人: 宋興;劉芳

本發(fā)明提供一種刷新測試電路及方法。刷新測試電路包括內(nèi)部時鐘產(chǎn)生器、計數(shù)器以及地址檢測電路。內(nèi)部時鐘產(chǎn)生器傳送控制時鐘信號至刷新控制器，以產(chǎn)生用于刷新動作的存儲庫選擇信號以及行地址信號。計數(shù)器對存儲庫選擇信號的變動進行計數(shù)，以產(chǎn)生計數(shù)值。地址檢測電路檢測在刷新動作中行地址信號的值是否依序增加，以產(chǎn)生檢測信號。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種內(nèi)存測試裝置，尤其涉及一種刷新測試電路及方法。

背景技術(shù)

在動態(tài)隨機存取內(nèi)存(Dynamic Random Access Memory，DRAM)中，由于會有電荷損失(charge loss)，需要定期對存儲存儲庫進行刷新動作以補充新的電荷。動態(tài)隨機存取內(nèi)存例如可通過刷新控制器來逐次提供所有要進行刷新的行地址。因此，在內(nèi)存的生產(chǎn)流程中必須要測試刷新控制器是否正常運行，以確保每個生產(chǎn)出來的內(nèi)存都可正常執(zhí)行刷新功能。

在現(xiàn)有技術(shù)中，當要測試刷新功能時，可從外部寫入新的數(shù)據(jù)來進行刷新，以檢測刷新后的數(shù)據(jù)是否正確。然而，在進行上述測試時，通常會禁止由內(nèi)部觸發(fā)預(yù)充電動作，以得到足夠的時間進行寫入操作。因此，需要由一些其他控制電路來觸發(fā)預(yù)充電動作。與正常的刷新動作相比，控制時序會改變，耗費的時間也較長。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明提供一種刷新測試電路及方法，可由額外設(shè)置的電路來對刷新控制器所提供的刷新用信號進行檢測，以在不改變原本控制時序的情況下，進行刷新功能的測試。

本發(fā)明的刷新測試電路包括內(nèi)部時鐘產(chǎn)生器、計數(shù)器以及地址檢測電路。內(nèi)部時鐘產(chǎn)生器傳送控制時鐘信號至刷新控制器，以產(chǎn)生用于刷新動作的存儲庫選擇信號以及行地址信號。計數(shù)器耦接刷新控制器。計數(shù)器對存儲庫選擇信號的變動進行計數(shù)，以產(chǎn)生計數(shù)值。地址檢測電路耦接刷新控制器以及計數(shù)器。地址檢測電路檢測在刷新動作中行地址信號的值是否依序增加，以產(chǎn)生檢測信號。

在本發(fā)明的一實施例中，上述的地址檢測電路包括比較器、與門以及正反器。比較器的第一輸入端接收計數(shù)值，第二輸入端耦接行地址信號，并且對計數(shù)值及行地址信號的值進行比較，以在其輸出端輸出比較信號。與門的第一輸入端耦接比較信號。正反器的輸入端耦接與門的輸出端，控制端耦接存儲庫選擇信號，輸出端耦接與門的第二輸入端，并且輸出檢測信號。

本發(fā)明的刷新測試方法包括：傳送控制時鐘信號至刷新控制器，以產(chǎn)生用于刷新動作的存儲庫選擇信號以及行地址信號；對存儲庫選擇信號的變動進行計數(shù)，以產(chǎn)生計數(shù)值；以及，檢測在刷新動作中行地址信號的值是否依序增加，以產(chǎn)生檢測信號。

基于上述，本發(fā)明的刷新測試電路可由計數(shù)器以及地址檢測電路來對存儲庫的刷新動作次數(shù)以及進行刷新動作的地址進行檢測。由此，可在不改變原本控制時序的情況下，以較短的時間完成刷新功能的測試。

附圖說明

圖1是依照本發(fā)明一實施例的一種刷新測試電路的電路示意圖；

圖2是依照本發(fā)明一實施例的一種地址檢測電路的電路示意圖；

圖3A及圖3B是依照本發(fā)明一實施例的一種刷新測試的波形示意圖；

圖4是依照本發(fā)明另一實施例的一種地址檢測電路的電路示意圖；

圖5是依照本發(fā)明一實施例說明一種刷新測試方法的流程圖。

具體實施方式

現(xiàn)將詳細地參考本發(fā)明的示范性實施例，示范性實施例的實例說明于附圖中。只要有可能，相同組件符號在附圖和描述中用來表示相同或相似部分。