[發明專利]磁場無源探頭和磁場探測裝置

有效

• 申請號: 202011260068.5
• 申請日: 2020-11-12
• 公開（公告）號: CN112698251B
• 公開（公告）日: 2023-08-04
• 發明（設計）人: 邵偉恒;方文嘯;黃權;王磊;路國光;黃云
• 申請（專利權）人: 中國電子產品可靠性與環境試驗研究所（（工業和信息化部電子第五研究所）（中國賽寶實驗室））
• 主分類號: G01R33/02
• 分類號: G01R33/02
• 代理公司: 華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 袁武

1.一種磁場無源探頭，其特征在于，包括依次排列的第一接地層、第一信號層、第二信號層和第二接地層；

所述第一接地層的端部上開設有第一探測開口，所述第一探測開口包括開孔和縫，所述第二接地層的端部上開設有第二探測開口，所述第二探測開口包括開孔和縫，所述第一探測開口的位置和所述第二探測開口的位置相對應；所述第一信號層上布設有第一探測線，所述第一探測線的一端與第一信號層相連接，所述第一探測線的另一端圍繞所述第一探測開口的位置形成第一探測線圈；所述第二信號層上布設有第二探測線，所述第二探測線的一端與所述第一信號層相連接，所述第二探測線的另一端圍繞所述第二探測開口的位置形成第二探測線圈；所述第一信號層和所述第二信號層對應位置設有貫穿所述第一信號層和所述第二信號層的過孔，且所述過孔位置與所述第一探測開口和所述第二探測開口的開孔處對應；所述第一探測線和所述第二探測線軸對稱設置，且所述第一探測線圈與所述第二探測線圈通過所述過孔相連接，用于探測磁場信號；

所述第一接地層上遠離所述第一探測開口的一端還設有第一轉接部和第二轉接部；所述第一探測線與所述第一轉接部相連接，所述第二探測線與所述第二轉接部相連接；

所述第一探測線和所述第二探測線為矩形線圈、圓形線圈或者多邊形線圈。

2.一種磁場探測裝置，其特征在于，包括：

如權利要求1所述的磁場無源探頭；

有源放大電路板，與所述磁場無源探頭相連接，所述有源放大電路板上鋪設有供電電路和增益放大電路；

所述供電電路，用于提供電信號；

所述增益放大電路，分別與所述供電電路和所述磁場無源探頭相連接，用于對磁場信號進行放大；

所述增益放大電路包括三級差分放大電路。

3.根據權利要求2所述的磁場探測裝置，其特征在于，所述磁場無源探頭的第一接地層上遠離所述第一探測開口的一端還設有第一轉接部和第二轉接部；所述有源放大電路板上還設有第三轉接部和第四轉接部，所述第三轉接部與所述第一轉接部相連接，所述第四轉接部與所述第二轉接部相連接。

4.根據權利要求3所述的磁場探測裝置，其特征在于，所述磁場探測裝置還包括第一電容和第二電容，所述第三轉接部通過所述第一電容與所述第一轉接部相連接，所述第四轉接部通過所述第二電容與所述第二轉接部相連接。

5.根據權利要求2所述的磁場探測裝置，其特征在于，所述磁場探測裝置還包括第一SMA連接器和第二SMA連接器，所述第一SMA連接器的一端與所述增益放大電路的第一輸出端相連接，另一端連接外部分析設備；所述第二SMA連接器的一端與所述增益放大電路的第二輸出端相連接，另一端連接外部分析設備；所述第一SMA連接器和所述第二SMA連接器用于將所述磁場信號傳輸至所述外部分析設備進行分析，以得到磁場參數。

6.根據權利要求5所述的磁場探測裝置，其特征在于，所述有源放大電路板上還布設有一個第一SMA轉換通孔和一個第二SMA轉換通孔；所述增益放大電路的第一輸出端通過所述第一SMA轉換通孔與所述第一SMA連接器的一端相連接，所述增益放大電路的第二輸出端通過所述第二SMA轉換通孔與所述第二SMA連接器的一端相連接。

7.根據權利要求2所述的磁場探測裝置，其特征在于，所述有源放大電路板為采用LTCC工藝制備的電路板。