[發(fā)明專利]一種降低直拉單晶斷苞的生產工藝在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011259858.1 | 申請日: | 2020-11-12 |
| 公開(公告)號: | CN114481301A | 公開(公告)日: | 2022-05-13 |
| 發(fā)明(設計)人: | 吳樹飛;郝瑞軍;趙國偉;周澤;劉振宇;楊瑞峰;劉學;王建宇 | 申請(專利權)人: | 內蒙古中環(huán)協(xié)鑫光伏材料有限公司 |
| 主分類號: | C30B15/20 | 分類號: | C30B15/20 |
| 代理公司: | 天津諾德知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 12213 | 代理人: | 欒志超 |
| 地址: | 010070 內蒙古自*** | 國省代碼: | 內蒙古;15 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 降低 直拉單晶斷苞 生產工藝 | ||
本發(fā)明一種降低直拉單晶斷苞的生產工藝,在等徑初期拉制過程中,晶體生長高度分為四個階段,分別為第一階段、第二階段、第三階段和第四階段;在每一階段中均包括控制晶體生長的晶體轉速、石英坩堝轉速和熱場溫度;從第一階段到第四階段中,晶體轉速先以初始轉速運行后緩慢增大,再以恒定轉速運行;石英坩堝轉速以從轉肩處轉入等徑初期的初始轉速穩(wěn)定不變;穩(wěn)定熱場溫度先以從轉肩結束時轉入等徑初期的初始溫度穩(wěn)定運行后緩慢降低,再以恒定溫度繼續(xù)運行。本發(fā)明降低石英坩堝于熔體之間的摩擦,減小雜質出現(xiàn),避免雜質富集于晶體頭部段,降低單晶斷苞幾率;同時改善熔體熱氣流對晶體質量的影響,使晶體頭部的氧含量有所降低,提高產品質量。
技術領域
本發(fā)明屬于直拉單晶制造技術領域,尤其是涉及一種降低直拉單晶斷苞的生產工藝。
背景技術
在直拉單晶過程中,斷苞是單晶拉制失敗的主要問題之一,因斷苞的主要因素是由于石英坩堝中的雜質過多而導致,尤其是在轉肩之后的等徑初期的拉制過程中,一旦晶轉轉速(晶轉)和堝轉速度(堝轉)設置不合理,就會導致熔融硅液與石英坩堝的摩擦加大,從而使石英坩堝內的雜質進入硅液中,進而容易引起斷苞。還有,在這一拉制過程中,若熱場溫度設置不合理,使溶體熱對流加速雜質在晶體頭部的聚集,容易生長出無生長條紋的晶體,也會進一步加速斷苞的風險。一旦出現(xiàn)斷苞,不僅造成生產中斷,而且會造成資源的浪費,加大生產成本。
發(fā)明內容
本發(fā)明提供一種降低直拉單晶斷苞的生產工藝,尤其適合直徑為210-330mm的晶體在轉肩之后的等徑初期的拉制過程中,主要解決了現(xiàn)有技術中容易出現(xiàn)斷苞的技術問題。
為解決上述技術問題,本發(fā)明采用的技術方案是:
一種降低直拉單晶斷苞的生產工藝,在轉肩之后的等徑初期拉制過程中,晶體生長高度分為四個階段,分別為第一階段的進入段、第二階段的過渡段、第三階段的增長段和第四階段的穩(wěn)定段;
在每一階段中均包括控制晶體生長的晶體轉速、石英坩堝轉速和熱場溫度;從所述第一階段到所述第四階段中,所述晶體轉速先以初始轉速運行后緩慢增大,再以恒定轉速運行;所述石英坩堝轉速以從轉肩處轉入等徑初期的初始轉速穩(wěn)定不變;所述穩(wěn)定熱場溫度先以從轉肩結束時轉入等徑初期的初始溫度穩(wěn)定運行后緩慢降低,再以恒定溫度繼續(xù)運行。
進一步的,在所述第一階段中,所述晶體以初始轉速穩(wěn)定運行;且所述晶體初始轉速與其在轉肩結束時的轉速相同,為10rpm。
進一步的,所述晶體在所述第二階段中,從初始轉速緩慢升高至12rpm;并以12rpm穩(wěn)定運行在所述第三階段和第四階段中。
進一步的,所述石英坩堝轉速始終與其在轉肩結束時的轉速相同,為10rpm。
進一步的,所述熱場溫度在所述第一階段和所述第二階段中穩(wěn)定不變,且與其在轉肩結束時轉入等徑初期的初始溫度相同。
進一步的,所述熱場溫度在所述第三階段中在以其初始溫度基礎上降低2-5Sp。
進一步的,所述熱場溫度在所述第三階段中在以其初始溫度基礎上降低3Sp,并以降低后的所述熱場溫度穩(wěn)定運行至所述第四階段結束。
進一步的,所述第一階段高度為0-150mm;所述第二階段高度為150-300mm。
進一步的,所述第三階段高度為300-500mm;所述第四階段高度為500-800mm。
進一步的,所述晶體等徑直徑為210-330mm。
與現(xiàn)有技術相比,采用上述技術方案,降低石英坩堝于熔融硅液之間的摩擦,減小雜質出現(xiàn),避免雜質富集于晶體頭部段,降低單晶斷苞幾率;同時可改善熱場中硅液熱氣流對晶體質量的影響,使晶體頭部的氧含量有所降低,提高產品質量,降低生產成本。
附圖說明
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