[發明專利]自動化測試Log的存儲方法、系統、設備及存儲介質

在審

• 申請號: 202011257862.4
• 申請日: 2020-11-11
• 公開（公告）號: CN112363934A
• 公開（公告）日: 2021-02-12
• 發明（設計）人: 舒月月;朱琳玲;姚瑞;黃茂碟
• 申請（專利權）人: 展訊半導體（成都）有限公司
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36;G06F16/18;G06F16/172;G06F16/11
• 代理公司: 上海弼興律師事務所 31283
• 代理人: 楊東明;張冉

本發明公開了一種自動化測試Log的存儲方法、系統、設備及存儲介質，所述存儲方法包括：檢測當前周期內測試設備是否有異常，若是，則將當前周期內生成的當前測試Log存儲至預設的有用存儲區；從預設的臨時存儲區內提取前一周期存儲的歷史測試Log；將歷史測試Log存儲至有用存儲區。本申請有效保證異常點附近的Log的完整性，節約了由于Log不完整導致的重新進行問題復現和重新抓取Log等人力和時間成本，同時可以減小Log占用空間，縮短Log獲取時間。

技術領域

本發明屬于自動化測試應用領域，特別涉及一種自動化測試Log的存儲方法、系統、設備及存儲介質。

背景技術

隨著各類測試技術、測試工具、測試方法論的不斷完善和發展，軟件測試這一行業逐漸為各類企事業單位所重視。在軟件測試中，測試人員發現問題，提供Log日志(日志文件)給開發者，而開發者根據Log來完善軟件產品，使其具有更好的完整性、安全性和更高的質量。在這個過程中，詳細、完整的Log是分析和解決問題的關鍵。

一份測試Log詳細的記錄了軟件平臺的特性、問題發生的時間、測試的內容、異常情況等各類信息，這也是造成Log非常龐大的原因。在傳統的手工測試，在測試前將Log清除，發現問題后，立即導出測試Log，因此不存在Log太龐大的問題。但是在自動化測試中，掛測時間一般很長，測試過程中產生的Log非常多，Log空間小則1-2G，多則幾十個G。當前處理的大部分機制是將產生的Log通盤導出，導致獲取Log花費很長時間，降低了自動化測試的有效時間；同時龐大的Log日志給Log輸出造成困難，甚至出現無法成功將測試終端Log導出到PC的情況；另外在開始獲取Log到結束獲取Log期間的Log日志我們是無法獲取的，當Log越大，獲取Log的周期越長，開始到結束獲取Log期間丟失的Log就會更多，加大了開發者分析定位問題的難度，同時Log缺失后需要測試人員重新復現問題抓取Log，這無形中增加了開發者和測試人員的工作量。

發明內容

本發明要解決的技術問題是為了克服現有技術中自動化測試中Log太龐大導致輸出Log的時間久且容易丟失Log的缺陷，提供一種自動化測試Log的存儲方法、系統、設備及存儲介質。

本發明是通過下述技術方案來解決上述技術問題：

一種自動化測試Log的存儲方法，所述存儲方法包括：

檢測當前周期內測試設備是否有異常，若是，則將當前周期內生成的當前測試Log存儲至預設的有用存儲區；

從預設的臨時存儲區內提取前一周期存儲的歷史測試Log；

將所述歷史測試Log存儲至所述有用存儲區。

較佳地，所述檢測當前周期內測試設備是否有異常的步驟中，若判斷結果為否，則執行以下步驟，具體包括：

將所述當前測試Log存儲至所述臨時存儲區，然后返回所述檢測當前周期內測試設備是否有異常的步驟，對下一周期內測試設備是否異常進行檢測。

較佳地，所述將所述當前測試Log存儲至所述臨時存儲區的步驟之前，所述存儲方法還包括：

清除所述臨時存儲區內前一周期存儲的歷史測試Log。

較佳地，所述檢測當前周期內測試設備是否有異常的步驟之前，所述存儲方法還包括：

在對所述測試設備進行測試前，清除所述有用存儲區和所述臨時存儲區內的所有測試Log；

和/或，所述從預設的臨時存儲區內提取前一周期存儲的歷史測試Log的步驟之后，所述存儲方法還包括：

清除臨時存儲區內的前一周期存儲的歷史測試Log。

較佳地，所述檢測當前周期內測試設備是否有異常的步驟之前，所述存儲方法還包括：