[發(fā)明專利]非接觸式發(fā)動機葉片葉型檢測方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011257836.1 | 申請日: | 2020-11-12 |
| 公開(公告)號: | CN112484660B | 公開(公告)日: | 2022-08-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 鄭琪;龍智;張?zhí)燧x;許美煜;高軍妮 | 申請(專利權(quán))人: | 中國航發(fā)南方工業(yè)有限公司 |
| 主分類號: | G01B11/24 | 分類號: | G01B11/24 |
| 代理公司: | 長沙智嶸專利代理事務(wù)所(普通合伙) 43211 | 代理人: | 劉宏 |
| 地址: | 412002*** | 國省代碼: | 湖南;43 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 接觸 發(fā)動機 葉片 檢測 方法 | ||
本發(fā)明公開了一種非接觸式發(fā)動機葉片葉型檢測方法和發(fā)動機葉片葉型,包括:夾具對待測葉片的葉根部位進行部分夾持固定,安裝固定在檢測裝置的夾具定位組件上,控制系統(tǒng)控制檢測裝置的XZ移動平臺并帶動線激光檢測組件到達待測葉片的數(shù)據(jù)采集位置,進行待測葉片的下半部分和待測葉片的上半部分的數(shù)據(jù)采集,將采集的數(shù)據(jù)進行融合,獲得完整的葉片數(shù)據(jù)點云模型,根據(jù)葉片數(shù)據(jù)點云模型確定待測葉片的理論基準(zhǔn)完成待測葉片的絕對定位,計算得出待測葉片葉型尺寸,并輸出待測葉片葉型的檢測結(jié)果。本發(fā)明的非接觸式發(fā)動機葉片葉型檢測方法,實現(xiàn)了非接觸檢測,且由線到面的數(shù)據(jù)采集方式,獲取到更多的原始數(shù)據(jù),提高了檢測精度。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及發(fā)動機葉片葉型測量領(lǐng)域,特別地,涉及一種非接觸式發(fā)動機葉片葉型檢測方法。
背景技術(shù)
葉片是發(fā)動機重要零部件之一,葉片加工質(zhì)量直接影響到發(fā)動機的性能、壽命及安全性。由于葉片結(jié)構(gòu)復(fù)雜,加工制造難度大,設(shè)計指標(biāo)不易保證。有效控制葉片加工質(zhì)量,需要對葉片型面進行大量的測量工作,從而對葉片型面檢測精度與檢測效率提出了更高的要求。目前,在航空發(fā)動機葉片型面檢測中,主要應(yīng)用接觸式三坐標(biāo)測量機進行測量。由于接觸式三坐標(biāo)測量機硬件結(jié)構(gòu)和測量原理上的限制,在測量航空發(fā)動機葉片型面時,測量速度不能過快,測量效率不高。現(xiàn)有檢測方式由于數(shù)據(jù)采集方式為由點到線再到面,導(dǎo)致檢測效率與精度成反比無法同步提升的問題。而且,現(xiàn)有接觸式檢測方式受定位夾具的精度和安裝精度影響,多次裝夾檢測的結(jié)果的重復(fù)性較差,同時,多次裝夾后定位夾具容易磨損,對夾具的材質(zhì)和加工要求均很高,設(shè)計加工成本高。由于采用相對定位模式,檢測精度很大程度依賴夾具的定位精度,不同型號的產(chǎn)品之間存在差異,更換不同的產(chǎn)品型號后,必須更換與其對應(yīng)的定位夾具,測量過程繁瑣。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供了一種非接觸式發(fā)動機葉片葉型檢測方法和發(fā)動機葉片葉型,以解決發(fā)動機葉片葉型現(xiàn)有檢測方式檢測效率低,對裝夾定位要求高使得檢測重復(fù)性低以及兼容性差的技術(shù)問題。
本發(fā)明采用的技術(shù)方案如下:
一種非接觸式發(fā)動機葉片葉型檢測方法,采用非接觸式發(fā)動機葉片葉型檢測裝置對待測葉片葉型進行檢測,包括以下步驟:
S1、通過檢測裝置的夾具對待測葉片的葉根部位進行部分夾持固定;
S2、將步驟S1中帶有測葉片的夾具安裝固定在檢測裝置的夾具定位組件上;
S3、檢測裝置的控制系統(tǒng)控制檢測裝置的XZ移動平臺并帶動線激光檢測組件到達待測葉片的數(shù)據(jù)采集位置,線激光檢測組件按照預(yù)先設(shè)定X方向移動參數(shù)進行運動,移動過程中XZ移動平臺中X方向磁柵尺根據(jù)設(shè)定位置間隔實時觸發(fā)線激光檢測組件對待測葉片的下半部分進行數(shù)據(jù)采集,完成待測葉片的下半部分?jǐn)?shù)據(jù)采集后,XZ移動平臺帶線激光檢測組件沿Z方向向待測葉片的上半部分移動,到達預(yù)設(shè)位置,控制系統(tǒng)讀取并保存XZ移動平臺中Z方向磁柵尺實際位置信息,再次線激光檢測組件按照預(yù)先設(shè)定X方向移動參數(shù)進行運動,移動過程中X方向磁柵尺根據(jù)設(shè)定位置間隔實時觸發(fā)線激光檢測組件對待測葉片的上半部分進行數(shù)據(jù)采集,完成待測葉片的上半部分?jǐn)?shù)據(jù)采集;
S4、通過數(shù)據(jù)系統(tǒng)將步驟S3中采集的待測葉片的上半部分?jǐn)?shù)據(jù)和待測葉片的下半部分?jǐn)?shù)據(jù)進行融合,獲得完整的葉片數(shù)據(jù)點云模型,根據(jù)葉片數(shù)據(jù)點云模型確定待測葉片的理論基準(zhǔn)完成待測葉片的絕對定位,計算得出待測葉片葉型尺寸,并輸出待測葉片葉型的檢測結(jié)果。
進一步地,根據(jù)葉片數(shù)據(jù)點云模型確定待測葉片的理論基準(zhǔn)完成待測葉片的絕對定位方法包括:首先確定基準(zhǔn)端為待測葉片的榫頭,通過對榫頭的實際模型和理論模型進行擬合,采用虛擬棍棒對實際模型與理論模型進行虛擬對齊,實現(xiàn)坐標(biāo)的轉(zhuǎn)換,對實際模型的截面圖與理論模型的截面圖進行分析,進而得到位置度、輪廓度和扭角值。
進一步地,確定待測葉片的理論基準(zhǔn)方法包括:對實際模型和理論模型的擬合采用迭代最近點計算法,確定最佳擬合的旋轉(zhuǎn)矩陣值和平移矩陣值,從而確定待測葉片的理論基準(zhǔn);
公式:
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