[發明專利]一種具有除濕功能的芯片檢測設備

在審

• 申請號: 202011257700.0
• 申請日: 2020-11-12
• 公開（公告）號: CN112495145A
• 公開（公告）日: 2021-03-16
• 發明（設計）人: 時新
• 申請（專利權）人: 時新
• 主分類號: B01D53/26
• 分類號: B01D53/26;G01R31/28
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發明涉及一種具有除濕功能的芯片檢測設備，包括主體、攝像頭和工作臺，還包括除濕機構和兩個散熱機構，所述除濕機構包括固定盒、抽氣組件、放置盒、濾網、封板、支桿、出氣管、兩個支撐組件、四個固定塊和四個限位組件，所述散熱機構包括散熱翅片、通氣管、連接盒、抵靠板、連桿、移動板、兩個第一彈性繩、兩個除塵組件、兩個伸縮桿和兩個第二彈性繩，該具有除濕功能的芯片檢測設備通過除濕機構，實現了對主體內部空氣除濕的功能，避免對芯片的品質造成影響，通過散熱機構，實現了對攝像頭散熱的功能，避免攝像頭過熱而影響其正常的檢測工作，從而避免對攝像頭的使用壽命造成影響。

技術領域

本發明涉及芯片領域，特別涉及一種具有除濕功能的芯片檢測設備。

背景技術

芯片是半導體元件產品的統稱，芯片檢測的過程是將封裝后的芯片置于各種環境下測試其電氣特性，如消耗功率、運行速度、耐壓度等，經檢測后的芯片，依其電氣特性劃分為不同等級，經一般測試合格的產品貼上規格、型號及出廠日期等標識的標簽并加以包裝后即可出廠，而未通過測試的芯片則視其達到的參數情況定作降級品或廢品芯片，所以檢測設備是芯片制造中必不可少的設備之一。

現有的芯片檢測設備在進行檢測工作時，若主體內部的空氣過于潮濕時，容易對芯片的品質造成影響，從而會對檢測結果造成影響，降低了檢測精度，不僅如此，現有的檢測設備在通過攝像頭檢測芯片外觀時，攝像頭由于長時間工作后，會導致自身的溫度升高，若不及時散熱，會對攝像頭的使用壽命造成影響，也會增加攝像頭損壞的幾率，從而會對檢測工作造成影響，降低了現有的芯片檢測設備的可靠性。

發明內容

本發明要解決的技術問題是：為了克服現有技術的不足，提供一種具有除濕功能的芯片檢測設備。

本發明解決其技術問題所采用的技術方案是：一種具有除濕功能的芯片檢測設備，包括主體、攝像頭和工作臺，所述工作臺固定在主體內的底部，所述攝像頭固定在主體內的頂部，所述主體的內部設有PLC，還包括除濕機構和兩個散熱機構，所述除濕機構設置在主體的上方，兩個散熱機構分別設置在攝像頭的兩側，所述除濕機構與散熱機構連接；

所述除濕機構包括固定盒、抽氣組件、放置盒、濾網、封板、支桿、出氣管、兩個支撐組件、四個固定塊和四個限位組件，四個固定塊分別固定在固定盒的下方的四角處，所述固定塊固定在主體的上方，所述抽氣組件設置在主體的上方，所述抽氣組件與主體連接，所述抽氣組件與固定盒連接，所述固定盒的上方設有第一開口，所述第一開口與放置盒匹配，所述放置盒的下方設有第二開口，所述濾網與第二開口匹配，所述濾網與第二開口的內壁固定連接，所述放置盒內設有干燥劑，兩個支撐組件分別設置在固定盒內的兩側，所述支撐組件設置在放置盒的下方，所述支桿的一端豎向固定在濾網的上方，所述封板上設有圓孔，所述支桿的頂端穿過圓孔，所述支桿與圓孔的內壁固定連接，所述封板與第一開口匹配，所述封板與第一開口的內壁密封連接，所述限位組件分別設置在放置盒的四側，所述出氣管的一端固定在固定盒的下方，所述出氣管與固定盒的內部連通，所述出氣管的另一端與散熱機構連接；

所述支撐組件包括支撐桿和橡膠墊，所述支撐桿豎向固定在固定盒內的底部，所述橡膠墊固定在支撐桿的頂端，所述橡膠墊的上方與放置盒的下方抵靠；

所述限位組件包括兩個密封塊和若干滾珠，所述固定盒的四側的內壁上均設有凹槽，所述凹槽與限位組件一一對應，所述放置盒的四側均均勻設有凹口，所述凹口的數量與滾珠的數量相等，所述凹口與滾珠一一對應，所述滾珠與凹口匹配，所述滾珠的球心設置在凹口的內部，所述滾珠與凹槽的內壁抵靠，兩個密封塊的一側分別固定在放置盒的一側的上方和下方，所述密封塊與凹槽一一對應，所述密封塊的另一側與凹槽的內壁抵靠；

所述抽氣組件包括抽氣泵、第一連管和第二連管，所述抽氣泵固定在主體的上方，所述抽氣泵通過第一連管與主體的內部連通，所述抽氣泵通過第二連管與固定盒的內部連通，所述第二連管的靠近固定盒的一端設置在放置盒的上方，所述抽氣泵與PLC電連接；