[發明專利]傳染病的基本再生數的估算方法及裝置、介質和設備有效
| 申請號: | 202011254137.1 | 申請日: | 2020-11-11 |
| 公開(公告)號: | CN112382406B | 公開(公告)日: | 2022-01-04 |
| 發明(設計)人: | 焦曉康;焦增濤 | 申請(專利權)人: | 醫渡云(北京)技術有限公司 |
| 主分類號: | G16H50/80 | 分類號: | G16H50/80;G06F17/13;G06F17/18 |
| 代理公司: | 北京律智知識產權代理有限公司 11438 | 代理人: | 王輝;闞梓瑄 |
| 地址: | 100191 北京市海*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 傳染病 基本 再生 估算 方法 裝置 介質 設備 | ||
1.一種傳染病的基本再生數的估算方法,其特征在于,包括:
根據所述傳染病的潛伏期時長和所述傳染病由發病至確診的時長,確定關于所述傳染病的患者生成時長,其中,所述患者生成時長為易感者被感染并進入潛伏期時間點與轉變為移除者的時間點之間的時長;
根據所述患者生成時長確定傳染病模型對應的微分方程組的第一參數;
確定起始統計時間點,以及獲取由所述起始統計時間點至當前時間點對應的實際感染者累計值;
獲取關于所述基本再生數的取值區間以及迭代步長;
根據所述取值區間和所述迭代步長,得到N個基本再生數測試值;
根據第i個基本再生數測試值確定所述微分方程組的關于第二參數的第i個測試值,其中,i為小于或等于N的正整數;
將所述關于第二參數的第i個測試值、所述第一參數和所述起始統計時間點代入所述微分方程組,得到第i個測試感染者累計值;
獲取與所述實際感染者累計值差值最小的第j個測試感染者累計值,并將所述第j個測試感染者累計值對應的第j個基本再生數測試值作為所述傳染病的基本再生數,其中,j為小于或等于N的正整數。
2.根據權利要求1所述的估算方法,其特征在于,根據所述傳染病的潛伏期時長和所述傳染病由發病至確診的時長,確定關于所述傳染病的患者生成時長,包括:
通過分布函數擬合所述傳染病的潛伏期時長,得到第一分布;
通過分布函數擬合所述傳染病由發病至確診的時長,得到第二分布;
基于所述第一分布的參數值以及所述第二分布的參數值確定所述患者生成時長。
3.根據權利要求2所述的估算方法,其特征在于,所述第一分布和所述第二分布均為正態分布;其中,
基于所述第一分布的參數值以及所述第二分布的參數值確定所述患者生成時長,包括:
獲取所述第一分布的第一均值和第一標準差,得到所述第一分布的參數值,以及獲取所述第二分布的第二均值和第二標準差,得到所述第二分布的參數值;
確定對所述傳染病的潛伏期時長的第一置信水平,以及確定對所述傳染病由發病至確診的時長的第二置信水平;
根據所述第一均值、所述第一標準差和所述第一置信水平 ,以及所述第二均值、所述第二標準差和所述第二置信水平 確定所述患者生成時長的置信區間。
4.根據權利要求1所述的估算方法,其特征在于,所述第一參數為一個感染者在單位時間內轉變為移除者的平均概率,其中,
根據所述患者生成時長確定傳染病模型對應的微分方程組的第一參數,包括:
將所述患者生成時長的倒數確定為所述第一參數。
5.根據權利要求1所述的估算方法,其特征在于,確定起始統計時間點,包括:
獲取所述傳染病的最早暴露時間點;
根據所述傳染病的潛伏期時長將所述最早暴露時間點向前推算,得到所述起始統計時間點。
6.根據權利要求1至5中任意一項所述的估算方法,其特征在于,所述傳染病 模型為刪減移除者部分的SIR模型、SIR模型或SEIR模型。
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