[發(fā)明專利]晶圓級(jí)氣密封裝的微小腔體內(nèi)部氣壓測試方法和系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202011252444.6 | 申請(qǐng)日: | 2020-11-11 |
| 公開(公告)號(hào): | CN112504546B | 公開(公告)日: | 2022-09-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 黃欽文;恩云飛;董顯山;來萍 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn)研究所((工業(yè)和信息化部電子第五研究所)(中國賽寶實(shí)驗(yàn)室)) |
| 主分類號(hào): | G01L11/02 | 分類號(hào): | G01L11/02;G01L11/00;B81C99/00 |
| 代理公司: | 廣州市華學(xué)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44245 | 代理人: | 黃媛君 |
| 地址: | 511370 廣東省*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 晶圓級(jí) 氣密 封裝 微小 體內(nèi) 氣壓 測試 方法 系統(tǒng) | ||
1.晶圓級(jí)氣密封裝的微小腔體內(nèi)部氣壓測試方法,其特征在于,包括如下步驟:
通過應(yīng)力測量裝置獲取多個(gè)微小腔體內(nèi)外氣壓差已知的晶圓級(jí)氣密封裝結(jié)構(gòu)標(biāo)定樣品的蓋帽表面應(yīng)力,并獲取應(yīng)力值與氣壓差的關(guān)聯(lián)模型;
通過應(yīng)力測量裝置獲取晶圓級(jí)氣密封裝結(jié)構(gòu)待測樣品蓋帽表面的應(yīng)力值;
通過測得的待測樣品表面應(yīng)力值及應(yīng)力值與氣壓差的關(guān)聯(lián)模型獲取待測樣品微小腔體的內(nèi)部氣壓。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶圓級(jí)氣密封裝的微小腔體內(nèi)部氣壓測試方法,其特征在于,在不同的氣壓環(huán)境P1,P2,……,PN下,分別封裝N個(gè)不同微小腔體內(nèi)部氣壓的晶圓級(jí)氣密封裝結(jié)構(gòu)標(biāo)定樣品,分別測得N個(gè)標(biāo)定樣品的表面應(yīng)力值,通過數(shù)據(jù)處理方法建立蓋帽表面應(yīng)力值與氣壓差的關(guān)聯(lián)模型。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的晶圓級(jí)氣密封裝的微小腔體內(nèi)部氣壓測試方法,其特征在于,所述應(yīng)力測量裝置是拉曼光譜儀或X射線應(yīng)力測定儀。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的晶圓級(jí)氣密封裝的微小腔體內(nèi)部氣壓測試方法,其特征在于,利用拉曼光譜儀測量標(biāo)定樣品蓋帽表面應(yīng)力包括如下步驟:
將蓋帽表面內(nèi)外壓差為零的晶圓級(jí)氣密封裝結(jié)構(gòu)設(shè)為標(biāo)準(zhǔn)樣品,獲得標(biāo)準(zhǔn)樣品的拉曼光譜,并獲取其拉曼譜峰ω0;
利用拉曼光譜儀對(duì)不同封裝氣壓Pi的標(biāo)定樣品的蓋帽表面進(jìn)行掃描測試,獲得蓋帽表面的譜峰分布特征值ωi;
按照公式(1)計(jì)算拉曼漂移:
Δωi=ωi-ω0 (1)
按照公式(2)計(jì)算蓋帽表面應(yīng)力值:
σi=-435Δωi (2)
其中i=1,2,……,N。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的晶圓級(jí)氣密封裝的微小腔體內(nèi)部氣壓測試方法,其特征在于,所述譜峰分布特征值ωi為對(duì)蓋帽表面的拉曼譜峰取最高值ωimax或均值ωiavg;當(dāng)蓋帽表面的拉曼譜峰有明顯的區(qū)域變化趨勢時(shí),則取最高值ωimax;當(dāng)蓋帽表面的拉曼譜峰沒有明顯區(qū)域變化趨勢時(shí),則取均值ωiavg。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的晶圓級(jí)氣密封裝的微小腔體內(nèi)部氣壓測試方法,其特征在于,標(biāo)定樣品微小腔體內(nèi)部氣壓與外部環(huán)境氣壓的壓差為ΔPi=Pex-Pi,基于ΔPi、σi、Δωi的測試結(jié)果,通過擬合的方法建立關(guān)聯(lián)模型ΔPi~σi(Pi)~Δωi。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的晶圓級(jí)氣密封裝的微小腔體內(nèi)部氣壓測試方法,其特征在于,
準(zhǔn)備進(jìn)行可靠性試驗(yàn)的晶圓級(jí)氣密封裝結(jié)構(gòu)待測樣品,對(duì)其蓋帽表面進(jìn)行拉曼光譜的測試分析,獲得蓋帽表面的拉曼譜峰分布特征值;
通過每個(gè)時(shí)間Δt后,重復(fù)測試獲取待測樣品蓋帽表面的拉曼譜峰分布特征值;
基于關(guān)聯(lián)模型ΔPi~σi(Pi)~Δωi,獲得微小腔體內(nèi)部氣壓值,建立ΔPi~t之間的特性曲線,獲得在可靠性試驗(yàn)環(huán)境下,晶圓級(jí)氣密封裝結(jié)構(gòu)內(nèi)部氣壓隨時(shí)間變化的特性;進(jìn)一步,可以通過擬合的方法獲得ΔPi~t之間的關(guān)系模型。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的晶圓級(jí)氣密封裝的微小腔體內(nèi)部氣壓測試方法,其特征在于,所述可靠性試驗(yàn)為在高溫環(huán)境、振動(dòng)環(huán)境或長期貯存環(huán)境下進(jìn)行的可靠性試驗(yàn)。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn)研究所((工業(yè)和信息化部電子第五研究所)(中國賽寶實(shí)驗(yàn)室)),未經(jīng)中國電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn)研究所((工業(yè)和信息化部電子第五研究所)(中國賽寶實(shí)驗(yàn)室))許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202011252444.6/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:鹽單胞菌及處理高鹽廢水的方法
- 下一篇:一種壓力平衡機(jī)構(gòu)





