[發明專利]顯微鏡和處理顯微圖像的方法

有效

• 申請號: 202011245207.7
• 申請日: 2020-11-10
• 公開（公告）號: CN112835191B
• 公開（公告）日: 2023-05-12
• 發明（設計）人: 阿姆托爾·曼努埃爾;哈澤·丹尼爾
• 申請（專利權）人: 卡爾蔡司顯微鏡有限責任公司
• 主分類號: G02B21/36
• 分類號: G02B21/36;G06T7/33
• 代理公司: 上海雍灝知識產權代理事務所(普通合伙) 31368
• 代理人: 沈汶波

1.顯微鏡，包括顯微鏡支架(40)，用于記錄顯微圖像(51-58)的照相機(20、30)和計算設備(50)，該計算設備配置為，對記錄的顯微圖像(51-58)進行圖像處理，

計算設備(50)配置為：

定義(S2)相關圖像結構，及；

在顯微圖像(51-58)中定位(S3)相關圖像結構(21-23)；

其特征在于，

計算設備(50)進一步配置為：

從相關圖像結構(21-23)的位置導出(S4)拼接參數；和

基于顯微圖像(51-58)考慮拼接參數，以創建(S7)結果圖像(60)，其中拼接參數可以確定顯微圖像(51-58)的重疊區域之間的接縫位置(62、63)，以拼接顯微圖像(51-58)，且其中拼接參數描述了接縫位置(62、63)應當或不應當延伸通過局部的相關圖像結構(21-23)。

2.根據權利要求1所述的顯微鏡，其特征在于，

照相機(30)是概覽單元(31)的一部分，概覽單元(31)配置為記錄顯微圖像(51-58)。

3.一種處理顯微圖像的方法(51-58)，包括：

定義(S2)相關圖像結構；

在顯微圖像(51-58)中定位(S3)相關圖像結構(21-23)；

其特征在于，

從相關圖像結構(21-23)的位置導出(S4)拼接參數；和

基于顯微圖像(51-58)考慮拼接參數，以創建(S7)結果圖像(60)，其中顯微圖像(51-58)之間的接縫位置(62、63)選擇為，沒有接縫或盡可能少的接縫延伸穿過相關圖像結構(21-23)。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，

拼接參數確定如何設置顯微圖像(51-58)之間的接縫位置(62、63)。

5.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，

拼接參數描述了接縫位置(62、63)的融合，沿著拼接的顯微圖像(51-58)以創建結果圖像(60)。

6.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，包括以下步驟：

在拼接已記錄的顯微圖像(51-58)以形成結果圖像(60)之前，使用拼接參數確定是否輸出顯微鏡控制指令，以通過更改的顯微鏡設置(S8)重新記錄顯微圖像(51-58)。

7.根據權利要求6所述的方法，其特征在于，

更改后的顯微鏡設置會指定更改后的樣品臺位置，以重新記錄顯微圖像(51-58)。

8.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，

相關圖像結構(21-23)為以下一項或多項：

多孔槽(11)，樣品容器，樣品容器標簽(12)，蓋玻片，標記，光反射，遮罩或陰影。

9.根據權利要求3至8中的任一項所述的方法，其特征在于，

定義和定位了具有不同語義的相關圖像結構；和

不僅根據相關圖像結構(21-23)的位置，還根據這些相關圖像結構(21-23)的語義導出拼接參數，

其中，在顯微圖像(51-58)的拼接需要接縫位置(62、63)延伸通過多個相關圖像結構(21-23)之一的情況下，語義指明層次結構，并設置了根據相關圖像結構(21-23)所作出的決定，相關圖像結構(21-23)穿過接縫位置(62,63)。

10.根據權利要求3至8中的任一項所述的方法，其特征在于，包括以下步驟：

提供一種輸入工具，用戶可以借助輸入工具定義相關圖像結構(21-23)。

11.根據權利要求3至8中的任一項所述的方法，其特征在于，包括以下步驟：

執行圖像分析以對顯微圖像(51-58)進行分類，其中基于所執行的分類，在顯微圖像(51-58)中尋找的相關圖像結構(21-23)并對其自動定義。