[發(fā)明專利]測距裝置的測量值修正方法和測距裝置

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• 申請日: 2020-11-10
• 公開（公告）號: CN113406655A
• 公開（公告）日: 2021-09-17
• 發(fā)明（設計）人: 稻葉誠二;伊藤克美
• 申請（專利權）人: 日立樂金光科技株式會社
• 主分類號: G01S17/10
• 分類號: G01S17/10;G01S7/4865
• 代理公司: 北京尚誠知識產權代理有限公司 11322
• 代理人: 龍淳

1.一種根據光的傳播時間來測量與對象物的距離的測距裝置中的測量距離的修正方法，其特征在于：

作為用于進行修正的準備步驟，包括：

預先在遠離所述測距裝置的方向上在測量空間的地板表面粘貼有由回歸反射部件制成的反射帶的狀態(tài)下，

在沿所述反射帶掃描測量位置的同時，由所述測距裝置測量與所述反射帶的內側區(qū)域的距離La和與相鄰于該內側區(qū)域的所述反射帶的外側區(qū)域的距離Lb的步驟；和

基于在各測量位置獲取的所述距離La與所述距離Lb的關系，生成用于將所述距離Lb變換為所述距離La的修正式的步驟，

作為測量與所述對象物的距離的實測步驟，包括：

由所述測距裝置測量其與所述對象物的距離而獲得實測值x的步驟；和

用所述修正式修正所述實測值x，計算測量距離的修正值y的步驟。

2.根據權利要求1所述的測量距離的修正方法，其特征在于，

所述測距裝置出射照射光并用二維地排列的多個像素接收來自所述對象物的反射光，

所述準備步驟中的距離測量，是通過掃描包括所述反射帶的內側區(qū)域和與該內側區(qū)域相鄰的所述反射帶的外側區(qū)域的測量窗，同時用多個像素接收來自所述測量窗的反射光來進行的，

比較各像素接收到的光的亮度數據，判斷為高亮度區(qū)域是所述反射帶的內側區(qū)域，低亮度區(qū)域是所述反射帶的外側區(qū)域，

分別對高亮度區(qū)域的各像素的距離數據和低亮度區(qū)域的各像素的數據求平均，以獲得所述距離La和所述距離Lb。

3.根據權利要求2所述的測量距離的修正方法，其特征在于，

在所述準備步驟中的距離測量中，以使來自所述測量窗的反射光的亮度數據落入規(guī)定范圍內的方式調節(jié)照射光的強度。

4.根據權利要求1所述的測量距離的修正方法，其特征在于，

作為所述準備步驟中的距離測量的結果，當在各測量位置處獲得的所述距離La與所述距離Lb之差小于閾值時不生成所述修正式，

在所述實測步驟中，直接使用所述實測值x而不對其進行修正。

5.一種根據光的傳播時間來測量與對象物的距離的測距裝置，其特征在于，包括：

對所述對象物出射照射光的發(fā)光部；

檢測來自所述對象物的反射光的受光部；

控制所述發(fā)光部的發(fā)光控制部；

根據由所述受光部檢測出的反射光的傳播時間來計算與所述對象物的距離的距離計算部；

用修正式對由所述距離計算部計算出的距離進行修正的距離修正部，

存儲所述修正式的修正式存儲部；和

生成所述修正式的修正式生成部，

所述修正式生成部，

預先在遠離所述測距裝置的方向上的地板表面粘貼有由回歸反射部件制成的反射帶的測量空間中，

在沿所述反射帶掃描測量位置的同時，由所述距離計算部測量與所述反射帶的內側區(qū)域的距離La和與相鄰于該內側區(qū)域的所述反射帶的外側區(qū)域的距離Lb，

基于在各測量位置處獲取的所述距離La和所述距離Lb的關系，生成用于將所述距離Lb變換為所述距離La的修正式。

6.根據權利要求5所述的測距裝置，其特征在于，

所述受光部用二維地排列的多個像素接收來自所述對象物的反射光，

所述修正式生成部進行的距離測量，是通過掃描包括所述反射帶的內側區(qū)域和與該內側區(qū)域相鄰的所述反射帶的外側區(qū)域的測量窗，同時用所述受部光的多個像素接收來自所述測量窗的反射光來進行的，

所述測距裝置具有區(qū)域判斷部，該區(qū)域判斷部比較各像素接收到的光的亮度數據，判斷為高亮度區(qū)域是所述反射帶的內側區(qū)域，低亮度區(qū)域是所述反射帶的外側區(qū)域，

分別對高亮度區(qū)域的各像素的距離數據和低亮度區(qū)域的各像素的數據求平均，以獲得所述距離La和所述距離Lb。