[發明專利]一種基于光學原理的旋轉設備轉子軸振動測量系統在審
| 申請號： | 202011244006.5 | 申請日： | 2020-11-10 |
| 公開（公告）號： | CN112525325A | 公開（公告）日： | 2021-03-19 |
| 發明（設計）人： | 趙繼興;劉曉奎;陸大勇;孟慶黨;楊佰臻;李偉;肖立勝;解瑞;劉華;金曉明 | 申請（專利權）人： | 華能巢湖發電有限責任公司 |
| 主分類號： | G01H9/00 | 分類號： | G01H9/00 |
| 代理公司： | 合肥市長遠專利代理事務所(普通合伙) 34119 | 代理人： | 葉美琴 |
| 地址： | 230000 安徽*** | 國省代碼： | 安徽;34 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 基于 光學 原理 旋轉 設備 轉子 振動 測量 系統 | ||
1.一種基于光學原理的旋轉設備轉子軸振動測量系統，其特征在于，包括：
激光器，用于向被測物體入射激光光束；
聚焦透鏡、光接收元件，聚焦透鏡用于接收入射激光光束在被測物體表面發生的反射光并將反射光成像在光接收元件上；
信號處理器，與光接收元件信號連接，用于接收光接收元件輸出的成像點光斑位置的電信號并根據電信號計算出被測物體表面位移量；
終端，與信號處理器信號連接，用于實時顯示成像點光斑的位移數據并對位移數據進行頻譜分析。
2.根據權利要求1所述的基于光學原理的旋轉設備轉子軸振動測量系統，其特征在于，被測物體表面位移量y滿足
其中：α為激光器的入射激光光束與聚焦透鏡的光軸之間的夾角，β為聚焦透鏡的光軸與光接收元件之間的夾角，l1為聚焦透鏡的物距，l2為聚焦透鏡的像距，x為成像點光斑在光接收元件上產生的位移。
3.根據權利要求2所述的基于光學原理的旋轉設備轉子軸振動測量系統，其特征在于，l1、l2滿足以下關系：
l1tanα＝l2tanβ；
其中，f為聚焦透鏡的焦距。
4.根據權利要求2所述的基于光學原理的旋轉設備轉子軸振動測量系統，其特征在于，激光器的入射激光光束與聚焦透鏡的光軸之間的夾角α為20°-40°。
5.根據權利要求1-4中任一項所述的基于光學原理的旋轉設備轉子軸振動測量系統，其特征在于，還包括殼體，所述激光器、聚焦透鏡、光接收元件、信號處理器均安裝在殼體內，殼體上開設有供激光器的入射激光光束以及漫反射光穿過的通光口。
6.根據權利要求5所述的基于光學原理的旋轉設備轉子軸振動測量系統，其特征在于，通光口內安裝有窄帶濾光片。
7.根據權利要求6所述的基于光學原理的旋轉設備轉子軸振動測量系統，其特征在于，殼體底端設置有固定件。
8.根據權利要求6所述的基于光學原理的旋轉設備轉子軸振動測量系統，其特征在于，殼體上開設有穿線孔。
9.根據權利要求1-4中任一項所述的基于光學原理的旋轉設備轉子軸振動測量系統，其特征在于，所述激光器采用半導體激光器，其波長為632-635nm。
10.根據權利要求1-4中任一項所述的基于光學原理的旋轉設備轉子軸振動測量系統，其特征在于，所述光接收元件采用位置敏感探測器。
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